Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу

Описана универсальная ЭМА приставка для стандартных УЗ дефектоскопов и толщиномеров. Прибор позволяет повысить выявляемость дефектов, увеличить производительность контроля, при этом не требуется специальная зачистка
 поверхности изделия. Приведены основные технические характеристики приставк...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Техническая диагностика и неразрушающий контроль
Дата:2013
Автори: Сучков, Г.М., Хащина, С.В., Десятниченко, А.В.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України 2013
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/102006
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу / Г.М. Сучков, С.В. Хащина, А.В. Десятниченко // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2013. — № 4. — С. 44-47. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862529869882064896
author Сучков, Г.М.
Хащина, С.В.
Десятниченко, А.В.
author_facet Сучков, Г.М.
Хащина, С.В.
Десятниченко, А.В.
citation_txt Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу / Г.М. Сучков, С.В. Хащина, А.В. Десятниченко // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2013. — № 4. — С. 44-47. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Техническая диагностика и неразрушающий контроль
description Описана универсальная ЭМА приставка для стандартных УЗ дефектоскопов и толщиномеров. Прибор позволяет повысить выявляемость дефектов, увеличить производительность контроля, при этом не требуется специальная зачистка
 поверхности изделия. Приведены основные технические характеристики приставки и описание ее компонентов: блока
 управления (формирователя радиосигналов), силового усилителя (генератора зондирующих импульсов), предварительного усилителя с узкополосным фильтром, органов управления и отображения настроек. Приставка позволяет
 плавно регулировать основные параметры выходных сигналов: частоты в пакете возбуждения от 0,2 до 1,5 МГц, частоты следования от 40 Гц и до частоты, ограниченной подключенным дефектоскопом, количества периодов частоты
 заполнения в пакете от 1 до 10, выходную мощность от 0 до 100 %. Приставка имеет широкий спектр применения в
 комплексе с различными приборами и преобразователями практически любого типа, в том числе пьезоэлектрическими,
 что позволяет повысить чувствительность контроля. Показан пример применения прибора со стандартным серийным
 дефектоскопом при контроле волнами Рэлея цилиндрического образца на наличие поверхностных и подповерхностных
 дефектов. Показано, что на расстоянии до 1 м выявляются модели трещин глубиной от 0,2 мм и более. Приставка имеет
 малые габариты и массу, общее энергопотребление приставки составляет не более 15 Вт, что является определяющим
 критерием при использовании ее в полевых условиях. The paper describes an all-purpose EMA-attachment for standard UT flaw detectors and thickness meters. The instrument allows
 increasing defect detectability, and improving testing efficiency, without requiring any special cleaning of item surface. Main
 technical parameters of the attachment and description of its components are given. The attachment allows smooth adjustment
 of the main parameters of output signals: frequency in excitation pack from 0.2 up to 1.5 MHz, repetition rate from 40 Hz and up
 to frequency limited by the connected flaw detector, number of filling frequency periods in the pack from 1 up to 10 and output
 power from 0 up to 100%. The attachment has a broad application spectrum in a set with various instruments and transducers
 of practically any type, also piezo electric ones. The paper gives an example of instrument application with standard batchproduced
 flaw detector at testing of a cylindrical sample by Raleigh waves for surface and subsurface defects. It is shown that
 crack models of the depth from 0.2 mm and more are detected at up to 1 m distance. The attachment has small size and weight
 that is the determinant criterion for its application in the field.
first_indexed 2025-11-24T02:12:06Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-102006
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 0235-3474
language Russian
last_indexed 2025-11-24T02:12:06Z
publishDate 2013
publisher Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України
record_format dspace
spelling Сучков, Г.М.
Хащина, С.В.
Десятниченко, А.В.
2016-06-09T15:48:18Z
2016-06-09T15:48:18Z
2013
Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу / Г.М. Сучков, С.В. Хащина, А.В. Десятниченко // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2013. — № 4. — С. 44-47. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
0235-3474
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/102006
620. 179. 16: 620. 179. 17
Описана универсальная ЭМА приставка для стандартных УЗ дефектоскопов и толщиномеров. Прибор позволяет повысить выявляемость дефектов, увеличить производительность контроля, при этом не требуется специальная зачистка
 поверхности изделия. Приведены основные технические характеристики приставки и описание ее компонентов: блока
 управления (формирователя радиосигналов), силового усилителя (генератора зондирующих импульсов), предварительного усилителя с узкополосным фильтром, органов управления и отображения настроек. Приставка позволяет
 плавно регулировать основные параметры выходных сигналов: частоты в пакете возбуждения от 0,2 до 1,5 МГц, частоты следования от 40 Гц и до частоты, ограниченной подключенным дефектоскопом, количества периодов частоты
 заполнения в пакете от 1 до 10, выходную мощность от 0 до 100 %. Приставка имеет широкий спектр применения в
 комплексе с различными приборами и преобразователями практически любого типа, в том числе пьезоэлектрическими,
 что позволяет повысить чувствительность контроля. Показан пример применения прибора со стандартным серийным
 дефектоскопом при контроле волнами Рэлея цилиндрического образца на наличие поверхностных и подповерхностных
 дефектов. Показано, что на расстоянии до 1 м выявляются модели трещин глубиной от 0,2 мм и более. Приставка имеет
 малые габариты и массу, общее энергопотребление приставки составляет не более 15 Вт, что является определяющим
 критерием при использовании ее в полевых условиях.
The paper describes an all-purpose EMA-attachment for standard UT flaw detectors and thickness meters. The instrument allows
 increasing defect detectability, and improving testing efficiency, without requiring any special cleaning of item surface. Main
 technical parameters of the attachment and description of its components are given. The attachment allows smooth adjustment
 of the main parameters of output signals: frequency in excitation pack from 0.2 up to 1.5 MHz, repetition rate from 40 Hz and up
 to frequency limited by the connected flaw detector, number of filling frequency periods in the pack from 1 up to 10 and output
 power from 0 up to 100%. The attachment has a broad application spectrum in a set with various instruments and transducers
 of practically any type, also piezo electric ones. The paper gives an example of instrument application with standard batchproduced
 flaw detector at testing of a cylindrical sample by Raleigh waves for surface and subsurface defects. It is shown that
 crack models of the depth from 0.2 mm and more are detected at up to 1 m distance. The attachment has small size and weight
 that is the determinant criterion for its application in the field.
ru
Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України
Техническая диагностика и неразрушающий контроль
Научно-технический раздел
Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу
Small-sized EMA attachment to batch-produced ultrasonic flaw detector
Article
published earlier
spellingShingle Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу
Сучков, Г.М.
Хащина, С.В.
Десятниченко, А.В.
Научно-технический раздел
title Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу
title_alt Small-sized EMA attachment to batch-produced ultrasonic flaw detector
title_full Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу
title_fullStr Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу
title_full_unstemmed Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу
title_short Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу
title_sort малогабаритная эма приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу
topic Научно-технический раздел
topic_facet Научно-технический раздел
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/102006
work_keys_str_mv AT sučkovgm malogabaritnaâémapristavkakseriinomuulʹtrazvukovomudefektoskopu
AT haŝinasv malogabaritnaâémapristavkakseriinomuulʹtrazvukovomudefektoskopu
AT desâtničenkoav malogabaritnaâémapristavkakseriinomuulʹtrazvukovomudefektoskopu
AT sučkovgm smallsizedemaattachmenttobatchproducedultrasonicflawdetector
AT haŝinasv smallsizedemaattachmenttobatchproducedultrasonicflawdetector
AT desâtničenkoav smallsizedemaattachmenttobatchproducedultrasonicflawdetector