Новые решения в неразрушающем контроле сварных соединений

Успехи цифровой обработки визуальной информации, создание многофункциональных ПЗС-матриц, а также полупроводниковых пластин, способных сохранять скрытое радиографическое изображение и другие научные достижения убеждают в скором изменении объемов применения традиционных технических средств для неразр...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Техническая диагностика и неразрушающий контроль
Datum:2009
1. Verfasser: Троицкий, В.А.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України 2009
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/103444
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Новые решения в неразрушающем контроле сварных соединений / В.А. Троицкий // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2009. — № 3. — С. 27-34. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Успехи цифровой обработки визуальной информации, создание многофункциональных ПЗС-матриц, а также полупроводниковых пластин, способных сохранять скрытое радиографическое изображение и другие научные достижения убеждают в скором изменении объемов применения традиционных технических средств для неразрушающего контроля. Приводятся конкретные примеры принципиально новых технологических решений, которые в ближайшее время найдут широкое применение. Advances in digital processing of visual information, development of multifunctional CCD-matrices, and semi-conductor
 wafers, capable of retaining the latent radiographic image and other most recent scientific achievements are a convincing
 proof of the forthcoming change of the scope of application of the traditional technical means of NDT. Specific examples
 of fundamentally new technological solutions are given, which will become widely applied in the near future
ISSN:0235-3474