Новые решения в неразрушающем контроле сварных соединений
Успехи цифровой обработки визуальной информации, создание многофункциональных ПЗС-матриц, а также полупроводниковых пластин, способных сохранять скрытое радиографическое изображение и другие научные достижения убеждают в скором изменении объемов применения традиционных технических средств для неразр...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Техническая диагностика и неразрушающий контроль |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України
2009
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/103444 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Новые решения в неразрушающем контроле сварных соединений / В.А. Троицкий // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2009. — № 3. — С. 27-34. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Успехи цифровой обработки визуальной информации, создание многофункциональных ПЗС-матриц, а также полупроводниковых пластин, способных сохранять скрытое радиографическое изображение и другие научные достижения убеждают в скором изменении объемов применения традиционных технических средств для неразрушающего контроля. Приводятся конкретные примеры принципиально новых технологических решений, которые в ближайшее время найдут широкое применение.
Advances in digital processing of visual information, development of multifunctional CCD-matrices, and semi-conductor
wafers, capable of retaining the latent radiographic image and other most recent scientific achievements are a convincing
proof of the forthcoming change of the scope of application of the traditional technical means of NDT. Specific examples
of fundamentally new technological solutions are given, which will become widely applied in the near future
|
|---|---|
| ISSN: | 0235-3474 |