Исследование линейной корреляционной связи в парных выборках малого объема
Рассмотрены методы нахождения значений линейной корреляционной связи в парных выборках малого объема. Исследовано влияние процедур виртуального увеличения объема выборки на значение коэффициента корреляции Пирсона, а также возможности использования этого коэффициента и модифицированного индекса Фехн...
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2016 |
| Main Author: | Попукайло, В.С. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2016
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/103851 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Исследование линейной корреляционной связи в парных выборках малого объема / В.С. Попукайло // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2016. — № 1. — С. 27-32. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
Исследование линейной корреляционной связи в парных выборках малого объема
by: Popukaylo, V. S.
Published: (2016)
by: Popukaylo, V. S.
Published: (2016)
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром
by: Турцевич, А.С., et al.
Published: (2012)
by: Турцевич, А.С., et al.
Published: (2012)
Исследование погрешности сопротивления тонкопленочного резистора
by: Спирин В.Г.
Published: (2009)
by: Спирин В.Г.
Published: (2009)
Ультразвуковая очистка оптико-механических систем
by: Томаль, В.С.
Published: (2007)
by: Томаль, В.С.
Published: (2007)
Приборное обеспечение измерения параметров ультразвуковых воздействий в технологических процессах
by: Ланин, В.Л., et al.
Published: (2008)
by: Ланин, В.Л., et al.
Published: (2008)
Получение эффективных катодолюминесцентных структур на базе пленочной технологии
by: Коваленко, Л.Ф., et al.
Published: (2008)
by: Коваленко, Л.Ф., et al.
Published: (2008)
Формирование наноструктурированных пленок иридия и поликластерного алмаза
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2007)
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2007)
Получение активных слоев InP в составе гетероструктур для диодов Ганна
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2010)
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2010)
Кинетика процессов осаждения пленок поликремния, легированного кислородом в процессе роста
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2008)
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2008)
Методы и механизмы геттерирования кремниевых структур в производстве интегральных микросхем
by: Пилипенко, В.А., et al.
Published: (2013)
by: Пилипенко, В.А., et al.
Published: (2013)
Особенности трансформации примесно-дефектных комплексов в CdTe:Cl под воздействием СВЧ-облучения
by: Будзуляк, С.И., et al.
Published: (2014)
by: Будзуляк, С.И., et al.
Published: (2014)
Установка для регенерации сорбентов в электромагнитном поле
by: Головко, М.И., et al.
Published: (2005)
by: Головко, М.И., et al.
Published: (2005)
Получение поверхностно-барьерных структур на основе четырехкомпонентных твердых растворов А⁴В⁶
by: Ткачук, А.И., et al.
Published: (2007)
by: Ткачук, А.И., et al.
Published: (2007)
Получение полуизолирующего кремния для высоковольтных приборов
by: Турцевич, А.С.
Published: (2008)
by: Турцевич, А.С.
Published: (2008)
Влияние легирующих добавок на теплостойкость и теплопередачу никелевых покрытий корпусов ИС
by: Новосядлый, С.П., et al.
Published: (2008)
by: Новосядлый, С.П., et al.
Published: (2008)
Закономерности формирования пучка ионов низкой энергии при помощи односеточной ионно-оптической системы
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2009)
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2009)
Высокочувствительная установка для оценки изменения показателя преломления водных растворов
by: Подкамень, Л.И., et al.
Published: (2011)
by: Подкамень, Л.И., et al.
Published: (2011)
Получение тонких пленок Si₃N₄ при пониженном давлении на пластинах диаметром до 200 мм
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
Формирование МОП-транзисторов с изоляцией активных элементов окисленным пористым кремнием
by: Новосядлый, С.П., et al.
Published: (2009)
by: Новосядлый, С.П., et al.
Published: (2009)
Сравнительный анализ технологий изготовления кремниевых схем считывания информации с ИК-фотодиодов
by: Рева, В.П., et al.
Published: (2007)
by: Рева, В.П., et al.
Published: (2007)
Массоперенос при жидкофазной эпитаксии двухслойных систем
by: Дранчук, С.Н., et al.
Published: (2012)
by: Дранчук, С.Н., et al.
Published: (2012)
Химическое осаждение из газовой фази гетеро- и наноструктур соединений III–V
by: Воронин, В.А., et al.
Published: (2008)
by: Воронин, В.А., et al.
Published: (2008)
Обобщенный теоретический подход к анализу газофазных процессов эпитаксии
by: Воронин, В.А., et al.
Published: (2006)
by: Воронин, В.А., et al.
Published: (2006)
Повышение адгезионной прочности никелевых контактов ветвей термоэлектрических модулей
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2006)
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2006)
Широкоапертурный высокочастотный источник ионов низкой энергии с электронной компенсацией
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2010)
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2010)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
by: Рогов, Р.В., et al.
Published: (2005)
by: Рогов, Р.В., et al.
Published: (2005)
Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2007)
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2007)
Испаритель для термического напыления материалов в вакууме
by: Босый, В.И., et al.
Published: (2008)
by: Босый, В.И., et al.
Published: (2008)
Подключающее МЭМС-устройство для контроля BGA-компонентов
by: Невлюдов, И.Ш., et al.
Published: (2012)
by: Невлюдов, И.Ш., et al.
Published: (2012)
Современная инфракрасная термография в контроле и диагностике оборудования
by: Стевич, З., et al.
Published: (2006)
by: Стевич, З., et al.
Published: (2006)
Позиционирование изображений фотошаблонов в системах автоматизированного оптического контроля
by: Крылов, В.Н., et al.
Published: (2007)
by: Крылов, В.Н., et al.
Published: (2007)
Высокочастотный реактор с асимметричными электродами для плазмохимического травления полупроводников
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2011)
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2011)
Получение двухсторонних высоковольтных эпитаксиальных кремниевых p—i—n-структур методом ЖФЭ
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2013)
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2013)
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
by: Сорокин, В.М., et al.
Published: (2008)
by: Сорокин, В.М., et al.
Published: (2008)
Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур
by: Бойко, Ю.В., et al.
Published: (2007)
by: Бойко, Ю.В., et al.
Published: (2007)
Оборудование для формирования омических контактов полупроводниковых приборов на основе соединений A₃B₅
by: Александров, С.Б., et al.
Published: (2011)
by: Александров, С.Б., et al.
Published: (2011)
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2011)
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2011)
Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
by: Щербакова, Г.Ю., et al.
Published: (2011)
by: Щербакова, Г.Ю., et al.
Published: (2011)
Комбинированный способ выращивания эпитаксиальных слоев полупроводниковых соединений А³В⁵
by: Ёдгорова, Д.М., et al.
Published: (2007)
by: Ёдгорова, Д.М., et al.
Published: (2007)
Similar Items
-
Исследование линейной корреляционной связи в парных выборках малого объема
by: Popukaylo, V. S.
Published: (2016) -
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром
by: Турцевич, А.С., et al.
Published: (2012) -
Исследование погрешности сопротивления тонкопленочного резистора
by: Спирин В.Г.
Published: (2009) -
Ультразвуковая очистка оптико-механических систем
by: Томаль, В.С.
Published: (2007) -
Приборное обеспечение измерения параметров ультразвуковых воздействий в технологических процессах
by: Ланин, В.Л., et al.
Published: (2008)