Алгоритм выбора интервала пересчета параметров объектов контроля и управления в АСУ ТП
Разработан алгоритм выбора интервала измерений и корректировки параметров объектов контроля и управления иерархических АСУ, укомплектованных разнообразными техническими средствами и средствами связи между компонентами. Допустимый по точности воспроизведения характеристик объектов интервал определяет...
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2016 |
| Main Author: | Тыныныка, А.Н |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2016
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/103852 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Алгоритм выбора интервала пересчета параметров объектов контроля и управления в АСУ ТП / А.Н Тыныныка // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2016. — № 1. — С. 33-38. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
Алгоритм выбора интервала пересчета параметров объектов контроля и управления в АСУ ТП
by: Tynynyka, A. N.
Published: (2016)
by: Tynynyka, A. N.
Published: (2016)
Подключающее МЭМС-устройство для контроля BGA-компонентов
by: Невлюдов, И.Ш., et al.
Published: (2012)
by: Невлюдов, И.Ш., et al.
Published: (2012)
Позиционирование изображений фотошаблонов в системах автоматизированного оптического контроля
by: Крылов, В.Н., et al.
Published: (2007)
by: Крылов, В.Н., et al.
Published: (2007)
Устройства для контроля качества сварных соединений выводов бескорпусных микросхем
by: Спирин, В.Г.
Published: (2013)
by: Спирин, В.Г.
Published: (2013)
Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2007)
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2007)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
by: Рогов, Р.В., et al.
Published: (2005)
by: Рогов, Р.В., et al.
Published: (2005)
Методика расчета параметров УЗ-преобразователей повышенной частоты
by: Ланин, В.Л., et al.
Published: (2013)
by: Ланин, В.Л., et al.
Published: (2013)
Влияние параметров ВЧ-разряда и параметров нагревателя на температуру подложки в плазмохимическом реакторе «Алмаз» для синтеза углеродных алмазоподобных пленок
by: Гладковский, В.В., et al.
Published: (2014)
by: Гладковский, В.В., et al.
Published: (2014)
Приборное обеспечение измерения параметров ультразвуковых воздействий в технологических процессах
by: Ланин, В.Л., et al.
Published: (2008)
by: Ланин, В.Л., et al.
Published: (2008)
Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур
by: Макара, В.А., et al.
Published: (2009)
by: Макара, В.А., et al.
Published: (2009)
Корреляция параметров арсенид-галлиевых эпитаксиальных слоев и технологии их выращивания
by: Каримов, А.В., et al.
Published: (2009)
by: Каримов, А.В., et al.
Published: (2009)
Статистический анализ и оптимизация параметров технологии изготовления биполярного транзистора с изолированным затвором
by: Баранов, В.В., et al.
Published: (2015)
by: Баранов, В.В., et al.
Published: (2015)
Совершенствование систем автоматического контроля и безопасности управления в АСУ ТП доменного производства
by: Карасевич, А.В., et al.
Published: (2015)
by: Карасевич, А.В., et al.
Published: (2015)
Макет экспериментальной установки для исследования пространственно-временного интегрирования в акустооптической среде
by: Рудякова, А.Н., et al.
Published: (2008)
by: Рудякова, А.Н., et al.
Published: (2008)
Аналитические электронные весы с цифроаналоговым каналом компенсации
by: Липинский, А.Ю., et al.
Published: (2005)
by: Липинский, А.Ю., et al.
Published: (2005)
Высокочастотный реактор с асимметричными электродами для плазмохимического травления полупроводников
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2011)
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2011)
Ненакаливаемые катоды на основе углеродных наноструктурированных слоистых структур
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2013)
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2013)
Автоматизированная система регистрации циклов при вибрационных испытаниях образца
by: Усов, В.В., et al.
Published: (2008)
by: Усов, В.В., et al.
Published: (2008)
Электроосаждение конформных электродов для получения туннельного перехода с вакуумным нанозазором
by: Джангидзе, Л.Б., et al.
Published: (2009)
by: Джангидзе, Л.Б., et al.
Published: (2009)
Методы и механизмы геттерирования кремниевых структур в производстве интегральных микросхем
by: Пилипенко, В.А., et al.
Published: (2013)
by: Пилипенко, В.А., et al.
Published: (2013)
Разработка процесса глубокого плазменного травления кремния для технологии трехмерной интеграции кристаллов
by: Голишников, А.А., et al.
Published: (2014)
by: Голишников, А.А., et al.
Published: (2014)
Исследование линейной корреляционной связи в парных выборках малого объема
by: Попукайло, В.С.
Published: (2016)
by: Попукайло, В.С.
Published: (2016)
Установка для регенерации сорбентов в электромагнитном поле
by: Головко, М.И., et al.
Published: (2005)
by: Головко, М.И., et al.
Published: (2005)
Плазмохимическое травление эпитаксиальных структур нитрида галлия
by: Борисенко, А.Г., et al.
Published: (2005)
by: Борисенко, А.Г., et al.
Published: (2005)
Технология и оборудование для обработки алмазных материалов современной электроники
by: Митягин, А.Ю., et al.
Published: (2009)
by: Митягин, А.Ю., et al.
Published: (2009)
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2008)
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2008)
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром
by: Турцевич, А.С., et al.
Published: (2012)
by: Турцевич, А.С., et al.
Published: (2012)
СВЧ плазмохимическое осаждение структур для высокоапертурных планарных оптических волноводов
by: Григорьянц, В.В., et al.
Published: (2005)
by: Григорьянц, В.В., et al.
Published: (2005)
Влияние легирующих добавок на теплостойкость и теплопередачу никелевых покрытий корпусов ИС
by: Новосядлый, С.П., et al.
Published: (2008)
by: Новосядлый, С.П., et al.
Published: (2008)
Кинетика процессов осаждения пленок поликремния, легированного кислородом в процессе роста
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
Новое технологическое оборудование для инновационных технологий микро-, нано- и радиоэлектроники
by: Одиноков, В.В., et al.
Published: (2011)
by: Одиноков, В.В., et al.
Published: (2011)
Оптимизация струйной технологии изготовления токопроводящих элементов печатных плат
by: Лесюк, Р.И., et al.
Published: (2010)
by: Лесюк, Р.И., et al.
Published: (2010)
Особенности конструкции и технологии сборки микроэлектронных координатно-чувствительных детекторов
by: Сидоренко, В.П., et al.
Published: (2018)
by: Сидоренко, В.П., et al.
Published: (2018)
Технологии изготовления фотонных кристаллов
by: Березянский, Б.М.
Published: (2007)
by: Березянский, Б.М.
Published: (2007)
Диффузия фосфора с применением твердого планарного источника в производстве интегральных схем
by: Шангереева, Б.А.
Published: (2008)
by: Шангереева, Б.А.
Published: (2008)
Получение, свойства и применение тонких нанонеоднородных пленок Ge на GaAs-подложках
by: Венгер, Е.Ф., et al.
Published: (2014)
by: Венгер, Е.Ф., et al.
Published: (2014)
Предэпитаксиальная обработка подложек GaSb для жидкофазного выращивания гомоэпитаксиальных слоев
by: Андронова, Е.В., et al.
Published: (2008)
by: Андронова, Е.В., et al.
Published: (2008)
Получение двухсторонних высоковольтных эпитаксиальных кремниевых p—i—n-структур методом ЖФЭ
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2013)
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2013)
Особенности плазмохимического травления торцов кремниевых пластин для фотоэлектрических преобразователей
by: Федорович, О.А., et al.
Published: (2009)
by: Федорович, О.А., et al.
Published: (2009)
Нанесение тонких пленок в вакууме на подложки из синтетического опала
by: Панфилов, Ю.В., et al.
Published: (2005)
by: Панфилов, Ю.В., et al.
Published: (2005)
Similar Items
-
Алгоритм выбора интервала пересчета параметров объектов контроля и управления в АСУ ТП
by: Tynynyka, A. N.
Published: (2016) -
Подключающее МЭМС-устройство для контроля BGA-компонентов
by: Невлюдов, И.Ш., et al.
Published: (2012) -
Позиционирование изображений фотошаблонов в системах автоматизированного оптического контроля
by: Крылов, В.Н., et al.
Published: (2007) -
Устройства для контроля качества сварных соединений выводов бескорпусных микросхем
by: Спирин, В.Г.
Published: (2013) -
Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2007)