New Method and Tool for TEM Samples Preparation

• Опубліковано в: : Металлофизика и новейшие технологии
• Дата: 2013
• Автори: Boguslavsky, D., Cherepin, V., Polubotko, Y., Smith, C.
• Формат: Стаття
• Мова: Англійська
• Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2013
• Теми: Металлические поверхности и плёнки
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/104073
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: New Method and Tool for TEM Samples Preparation / D. Boguslavsky, V. Cherepin, Y. Polubotko, C. Smith // Металлофизика и новейшие технологии. — 2013. — Т. 35, № 2. — С. 163-173. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

А new tool for TEM sample preparation, which allows preparing a thin lamella with thickness less than 20 nm surrounded by and embedded in bulk material, is presented. The main advantages of this system are low ion milling induced damage (less than 2 nm in depth), low process time (1—2 hours), in sit...