Вплив Cu на формування хімічно впорядкованої фази L1₀(FePt) в нанорозмірних плівках Fe₅₀Pt₅₀/Cu/Fe₅₀Pt₅₀ на підкладці SiO₂/Si(001)
Методами фізичного матеріалознавства, а саме, рентґеноструктурним фазовим аналізом, атомно-силовою і магнітно-силовою мікроскопіями, Резерфордовим зворотним розсіянням, методом міряння магнітних властивостей за допомогою магнітооптичного Керрового ефекту та методом резистометрії досліджено вплив тов...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Металлофизика и новейшие технологии |
|---|---|
| Datum: | 2013 |
| Hauptverfasser: | , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2013
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/104231 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Вплив Cu на формування хімічно впорядкованої фази L1₀(FePt) в нанорозмірних плівках Fe₅₀Pt₅₀/Cu/Fe₅₀Pt₅₀ на підкладці SiO₂/Si(001) / Ю.Н. Макогон, О.П. Павлова, С.І. Сидоренко, Т.І. Вербицька, І.А. Владимирський, О.В. Фігурна // Металлофизика и новейшие технологии. — 2013. — Т. 35, № 10. — С. 1425-1436. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Методами фізичного матеріалознавства, а саме, рентґеноструктурним фазовим аналізом, атомно-силовою і магнітно-силовою мікроскопіями, Резерфордовим зворотним розсіянням, методом міряння магнітних властивостей за допомогою магнітооптичного Керрового ефекту та методом резистометрії досліджено вплив товщини проміжного шару Cu в нанорозмірних
плівкових композиціях Fe₅₀Pt₅₀(15 нм)/Cu(х нм)/Fe₅₀Pt₅₀(15 нм) (де х = 0,
7,5, 15 і 30 нм) на підложжях SiO₂(100 нм)/Si(001) на процеси дифузійного
фазоутворення – перехід хімічно невпорядкованої магнітом’якої фази
А1(FePt) у хімічно впорядковану магнітотверду фазу L1₀(FePt) під час відпалів у вакуумі.
Методами физического материаловедения, а именно, рентгеноструктурным фазовым анализом, атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопиями, резерфордовским обратным рассеянием, методом измерения магнитных свойств с помощью магнитооптического эффекта Керра и методом резистометрии исследовано влияние толщины промежуточного слоя Cu в
наноразмерных плёночных Fe₅₀Pt₅₀(15 нм)/Cu(x нм)/Fe₅₀Pt₅₀(15 нм)-композициях (где х = 0, 7,5, 15 и 30 нм) на подложках SiO₂(100 нм)/Si(001) на
процессы диффузионного фазообразования – переход химически неупорядоченной магнитомягкой фазы А1(FePt) в химически упорядоченную магнитотвёрдую фазу L1₀(FePt) при отжигах в вакууме.
Within the nanoscale Fe₅₀Pt₅₀(15 nm)/Cu(x nm)/Fe₅₀Pt₅₀(15 nm) (where х = 0,
7.5, 15, 30 nm) film composition on SiO₂(100 nm)/Si(001) substrates, the influence
of Cu intermediate layer thickness on the diffusion phase-formation
processes, i.e. on transformation of chemically disordered magnetic-soft
А1(FePt)-phase into chemically ordered magnetic-hard L1₀(FePt)-phase at annealing
in vacuum is investigated by physical materials science methods: X-ray
diffraction, atomic-force and magnetic-force microscopies, Rutherford
backscattering, and resistometry. Magnetic properties are measured with
magnetooptical Kerr effect method.
|
|---|---|
| ISSN: | 1024-1809 |