Динамічна дифрактометрія дефектів і деформацій в кристалах ґранату Gd₃Ga₅O₁₂ після імплантації йонами F⁺

Методою високорозрізняльної Рентґенової дифрактометрії виміряно криві дифракційного відбивання (КДВ) від монокристалів ґадоліній-ґалійового ґранату Gd₃Ga₅O₁₂, яких було імплантовано різними дозами йонів F⁺ з енергією 90 кеВ. Аналіз цих КДВ проведено на основі теоретичної моделі динамічної дифракції...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Металлофизика и новейшие технологии
Дата:2013
Автори: Скакунова, О.С., Пилипів, В.М., Владімірова, Т.П., Оліховський, С.Й., Молодкін, В.Б., Остафійчук, Б.К., Кисловський, Є.М., Решетник, О.В., Лізунова, С.В.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2013
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/104246
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Динамічна дифрактометрія дефектів і деформацій в кристалах ґранату Gd₃Ga₅O₁₂ після імплантації йонами F⁺ / О.С. Скакунова, В.М. Пилипів, Т.П. Владімірова, С.Й. Оліховський, В.Б. Молодкін, Б.К. Остафійчук, Є.М. Кисловський, О.В. Решетник, С.В. Лізунова // Металлофизика и новейшие технологии. — 2013. — Т. 35, № 12. — С. 1595-1608. — Бібліогр.: 43 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Методою високорозрізняльної Рентґенової дифрактометрії виміряно криві дифракційного відбивання (КДВ) від монокристалів ґадоліній-ґалійового ґранату Gd₃Ga₅O₁₂, яких було імплантовано різними дозами йонів F⁺ з енергією 90 кеВ. Аналіз цих КДВ проведено на основі теоретичної моделі динамічної дифракції Рентґенових променів у кристалах з неоднорідним розподілом дефектів. В результаті встановлено параметри профілю деформації та характеристики структурних дефектів у імплантованому шарі й основному об’ємі досліджуваних зразків. Методом высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии измерены кривые дифракционного отражения (КДО) от монокристаллов гадолиний-галлиевого граната Gd₃Ga₅O₁₂, которые были имплантированы разными дозами ионов F⁺ с энергией 90 кэВ. Анализ измеренных КДО проведён на основе теоретической модели динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с неоднородным распределением дефектов. В результате найдены параметры профиля деформации и характеристики структурных дефектов в имплантированном слое и основном объёме исследованных образцов. By the method of high-resolution X-ray diffractometry, the rocking curves (RCs) are measured from the gadolinium gallium garnet single crystals Gd₃Ga₅O₁₂, which were implanted with different doses of the 90 keV F⁺ ions. Analysis of the measured RCs is carried out by using the theoretical model of dynamical X-ray diffraction in crystals with inhomogeneous distribution of defects. Consequently, the parameters of strain profile and characteristics of
ISSN:1024-1809