Резонансный метод определения толщин вакуумно-осажденных тонких пленок

• Дата: 2008
• Автори: Кузьмин, А.В., Семененко, В.Е., Стервоедов, Н.Г., Посухов, А.С.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України 2008
• Теми: Радиофизика твердого тела и плазмы
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/10576
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Резонансный метод определения толщин вакуумно-осажденных тонких пленок / А.В. Кузьмин, В.Е. Семененко, Н.Г. Стервоедов, А.С. Посухов // Радіофізика та електроніка. — 2008. — Т. 13, № 2. — С. 214-217. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

В данной работе рассмотрен метод измерения толщины нанесённой плёнки и скорости её напыления методом кварцевого
 датчика. Установлено, что при помощи резонансного метода может быть осуществлен непрерывный контроль толщин тонких пленок в диапазоне 10-100 нм. Определена структура пленок никеля и зависимость их толщин от резонансной частоты кварцевого
 кристалла. У роботі розглянуто метод визначення товщини
 плівки та швидкості її нанесення методом кварцового датчика.
 Встановлено, що за допомогою резонансного методу стає
 можливим здійснення безперервного контролю товщин тонких плівок у діапазоні 10-100 нм. Визначена структура плівок
 нікелю та залежність їх товщин від резонансної частоти кварцового кристалу. This work deals with the methods of thickness measuring
 of the coated film by means of a quartz sensor. Nickel
 films thickness dependence on quartz crystal resonance frequency
 were obtained and graphically presented.