Резонансный метод определения толщин вакуумно-осажденных тонких пленок

• Datum: 2008
• Hauptverfasser: Кузьмин, А.В., Семененко, В.Е., Стервоедов, Н.Г., Посухов, А.С.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України 2008
• Schlagworte: Радиофизика твердого тела и плазмы
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/10576
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Резонансный метод определения толщин вакуумно-осажденных тонких пленок / А.В. Кузьмин, В.Е. Семененко, Н.Г. Стервоедов, А.С. Посухов // Радіофізика та електроніка. — 2008. — Т. 13, № 2. — С. 214-217. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

В данной работе рассмотрен метод измерения толщины нанесённой плёнки и скорости её напыления методом кварцевого датчика. Установлено, что при помощи резонансного метода может быть осуществлен непрерывный контроль толщин тонких пленок в диапазоне 10-100 нм. Определена структура пленок никеля и завис...