Анализ периодических структур на базе П- и Н-образных щелевых резонаторов в заземляющем слое полосковой линии передачи
Методом поперечного резонанса рассчитаны спектр резонансных частот и характеристики рассеяния П- и Н-образных щелевых резонаторов в заземляющем слое микрополосковой линии передачи. Показано, что П- и Н-образные щелевые резонаторы формируют характеристику рассеяния основной волны микрополосковой лини...
Saved in:
| Published in: | Радіофізика та електроніка |
|---|---|
| Date: | 2010 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України
2010
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/105824 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Анализ периодических структур на базе П- и Н-образных щелевых резонаторов в заземляющем слое полосковой линии передачи / Ю.В. Рассохина, В.Г. Крыжановский // Радіофізика та електроніка. — 2009. — Т. 1(15), № 4. — С. 16-22. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Методом поперечного резонанса рассчитаны спектр резонансных частот и характеристики рассеяния П- и Н-образных щелевых резонаторов в заземляющем слое микрополосковой линии передачи. Показано, что П- и Н-образные щелевые резонаторы формируют характеристику рассеяния основной волны микрополосковой линии в виде двух полос заграждения.
Методом поперечного резонансу розраховано спектр резонансних частот та характеристики розсіювання П- та Н-подібних щілинних резонаторів у заземлюючому шарі мікрострічкової лінії передачі. Показано, що П- та Н-подібні щілинні резонатори формують характеристику розсіювання основної хвилі мікрострічкової лінії у вигляді двох смуг загородження.
The scattering characteristics of П- and H-shaped slot resonators in microstrip line ground plane was calculated by transverse resonance technique. It was demonstrated that the microstrip line fundamental mode transfer coefficient of the periodic structure built on these resonators has a characteristic of a two-band rejection filter.
|
|---|---|
| ISSN: | 1028-821X |