Повышение интенсивности излучения в трехмерной фотонной структуре с дефектной модой

• Veröffentlicht in: Радиофизика и радиоастрономия
• Datum: 2015
• Hauptverfasser: Сидорчук, Н.В., Просвирнин, С.Л.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Радіоастрономічний інститут НАН України 2015
• Schlagworte: Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/106386
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Повышение интенсивности излучения в трехмерной фотонной структуре с дефектной модой / Н.В. Сидорчук, С.Л. Просвирнин // Радиофизика и радиоастрономия. — 2015. — Т. 20, № 3. — С. 216-222. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Исследуется резонансное увеличение коэффициента прохождения плоской электромагнитной волны через многослойный трехмерный полностью диэлектрический фотонный кристалл, в котором для получения высокой плотности моды специально создан дефектный слой с включениями активной среды. Проведено сравнение значений коэффициента прохождения для структур с разными толщинами дефектного слоя и с разными значениями мнимой части диэлектрической проницаемости активной среды. Досліджується резонансне підвищення коефіцієнта проходження плоскої електромагнітної хвилі через багатошаровий тривимірний повністю діелектричний фотонний кристал, в якому для отримання високої щільності моди спеціально створено дефектний шар із включеннями активного середовища. Виконано порівняння значень коефіцієнта проходження для структур з різними товщинами дефектного шару і з різними значеннями уявної частини діелектричної проникності активного середовища. The resonant enhancement of a plane electromagnetic wave transmission through a multi-layered three-dimensional all-dielectric photonic crystal, in which a defect layer with active medium inclusions is designed specifically to obtain a highdensity mode, has been investigated. A comparison of the transmission coefficients for the structures with different defect layer thicknesses and different imaginary parts of the active medium dielectric constant is performed.