Еліпсометричні властивості тонких плівок молібдену при збудженні поверхневих поляритонів

Експериментально поміряно за допомогою метода Бітті і теоретично обчислено згідно з тришаровою моделлю тонкої плівки залежності еліпсометричних параметрів від кута падіння світла на плівку для трьох тонких плівок молібдену при збудженні поверхневих поляритонів. Экспериментально измерены с помощью ме...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Металлофизика и новейшие технологии
Datum:2014
Hauptverfasser: Лендел, В.В., Ломакіна, O.В., Мельниченко, Л.Ю., Шайкевич, І.А.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2014
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/106886
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Еліпсометричні властивості тонких плівок молібдену при збудженні поверхневих поляритонів / В.В. Лендел, O.В. Ломакіна, Л.Ю. Мельниченко, І.А. Шайкевич // Металлофизика и новейшие технологии. — 2014. — Т. 36, № 2. — С. 205-215. — Бібліогр.: 6 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Експериментально поміряно за допомогою метода Бітті і теоретично обчислено згідно з тришаровою моделлю тонкої плівки залежності еліпсометричних параметрів від кута падіння світла на плівку для трьох тонких плівок молібдену при збудженні поверхневих поляритонів. Экспериментально измерены с помощью метода Битти и теоретически вычислены в рамках трёхслойной модели тонкой плёнки зависимости эллипсометрических параметров от угла падения света на плёнку для трёх тонких плёнок молибдена при возбуждении поверхностных поляритонов. Ellipsometric parameters as functions of the angle of incidence of light on a film for three thin films of molybdenum at the excitation of surface polaritons are experimentally measured with the use of the Beattie method and are theoretically calculated within the three-layer model of thin film.
ISSN:1024-1809