Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів
Комп’ютерне моделювання процесів пластичної деформації для нанокристалів металів із ГЦК-ґратницею (Al, Cu, Pt) виконано методою молекулярної динаміки із використанням нових методик інтенсивних обчислень на основі технологій «наукового шлюзу» (Science Gateway) і WS-PGRADE/gUSE, ґрід-інфраструктур «се...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Металлофизика и новейшие технологии |
|---|---|
| Дата: | 2014 |
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2014
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/107021 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів / О.С. Гаценко, О.Е. Засимчук, П.О. Теселько, С.Г. Стіренко, Ю.Г. Гордієнко // Металлофизика и новейшие технологии. — 2014. — Т. 36, № 9. — С. 1207-1224. — Бібліогр.: 36 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1859611705781256192 |
|---|---|
| author | Гаценко, О.С. Засимчук, О.Е. Теселько, П.О. Стіренко, С.Г. Гордієнко, Ю.Г. |
| author_facet | Гаценко, О.С. Засимчук, О.Е. Теселько, П.О. Стіренко, С.Г. Гордієнко, Ю.Г. |
| citation_txt | Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів / О.С. Гаценко, О.Е. Засимчук, П.О. Теселько, С.Г. Стіренко, Ю.Г. Гордієнко // Металлофизика и новейшие технологии. — 2014. — Т. 36, № 9. — С. 1207-1224. — Бібліогр.: 36 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Металлофизика и новейшие технологии |
| description | Комп’ютерне моделювання процесів пластичної деформації для нанокристалів металів із ГЦК-ґратницею (Al, Cu, Pt) виконано методою молекулярної динаміки із використанням нових методик інтенсивних обчислень на основі технологій «наукового шлюзу» (Science Gateway) і WS-PGRADE/gUSE, ґрід-інфраструктур «сервісний ґрід» (Service Grid) і «настільний ґрід» (Desktop Grid).
Компьютерное моделирование процессов пластической деформации для нанокристаллов металлов с ГЦК-решёткой (Al, Cu, Pt) выполнено методами молекулярной динамики с использованием новых методик интенсивных вычислений на основе технологий «научного шлюза» (Science Gateway) и WS-PGRADE/gUSE, грид-инфраструктур «сервисный грид» (Service Grid) и «настольный грид» (Desktop Grid).
Computer modeling of plastic deformation of f.c.c.-metal (Al, Cu, Pt) nanocrystals is performed by the molecular dynamics method using the new techniques for high-performance computing on the basis of ‘scientific gateway’ (Science Gateway) and WS-PGRADE/gUSE technologies, ‘service grid’ and ‘desktop grid’ infrastructures.
|
| first_indexed | 2025-11-28T13:19:08Z |
| format | Article |
| fulltext |
1207
PACS numbers:61.43.Bn, 61.72.Bb,61.72.J-,62.20.Fq,62.25.Mn,81.40.Lm, 83.50.Ha
Комп’ютерне моделювання механізму виникнення
локалізованих синергетичних дефектних субструктур
при пластичній деформації нанокристалів металів
О. С. Гаценко, О. Е. Засимчук, П. О. Теселько
*, С. Г. Стіренко
**,
Ю. Г. Гордієнко
Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України,
бульв. Акад. Вернадського, 36,
03680, МСП, Київ-142, Україна
*Київський національний університет імені Тараса Шевченка,
просп. Академіка Глушкова, 4,
03680, МСП, Київ, Україна
**Центр суперкомп’ютерних обчислень
Національного технічного університету України «КПІ»,
просп. Перемоги, 37/6,
03056 Київ, Україна
Комп’ютерне моделювання процесів пластичної деформації для нанокри-
сталів металів із ГЦК-ґратницею (Al, Cu, Pt) виконано методою молеку-
лярної динаміки із використанням нових методик інтенсивних обчислень
на основі технологій «наукового шлюзу» (Science Gateway) і WS-
PGRADE/gUSE, ґрід-інфраструктур «сервісний ґрід» (Service Grid) і «на-
стільний ґрід» (Desktop Grid). Знайдено нові риси еволюції невпорядко-
ваного розташування атомів (так званих атом-вакансійних станів), які
виникають у процесі одновісного монотонного навантаження ідеальних
нанокристалів кубічної орієнтації. Показано, що колективна перебудова
розташування атом-вакансійних станів призводить до значних змін усе-
реднених значень напружень. Внаслідок еволюції атом-вакансійних ста-
нів утворюються колективні самоорганізовані зони локалізації напру-
жень, які мають вигляд квазиперіодичних смуг із різними кількісними
параметрами для різних металів (товщина, період, момент утворення),
проте із однаковими якісними ознаками (некристалографічний напря-
мок, еволюція, нахил, наскрізне розташування в об’ємі, вихід на поверх-
ню). Модельовані смуги неоднорідного розподілу напружень трактуються
як провісники утворення смуг корельованого переміщення груп атом-
вакансійних (або сильно збуджених) станів, тобто каналів неоднорідної
локалізованої (гідродинамічної) пластичної течії на найнижчому (нано-
метровому) масштабному рівні. При подальшій еволюції такі смуги мо-
Металлофиз. новейшие технол. / Metallofiz. Noveishie Tekhnol.
2014, т. 36, № 9, сс. 1207—1224
Оттиски доступны непосредственно от издателя
Фотокопирование разрешено только
в соответствии с лицензией
2014 ИМФ (Институт металлофизики
им. Г. В. Курдюмова НАН Украины)
Напечатано в Украине.
1208 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
жуть ставати носіями гідродинамічних мод деформації на мікроскопічно-
му та макроскопічному рівнях, що спостерігалося в експериментах різних
наукових груп. Моделюванням результатів рентґенографічної аналізи по-
казано, що зі збільшенням ступеня деформації відбувається зменшення
інтенсивности дифракційних піків та їх зсув, що свідчить про присутність
дефектів точкового типу. Таким чином, в якісному сенсі можна зробити
висновок щодо правильности трактування невпорядкованих положень
атомів у даній роботі, а саме, як точкових дефектів із властивостями атом-
вакансійних станів. На основі викладених результатів та їх обговорення
робиться висновок, що пластична деформація нанокристалів ГЦК-металів
в умовах, коли дислокаційне ковзання неможливе, здійснюється шляхом
локалізованої гідродинамічної течії речовини по каналах з нещільною не-
кристалічною (рідиноподібною) структурою за механізмом утворення ме-
тастабільних точкових дефектів атом-вакансійного типу, їх еволюції і са-
моорганізації в смуги локалізації на більших масштабних рівнях.
Компьютерное моделирование процессов пластической деформации для
нанокристаллов металлов с ГЦК-решёткой (Al, Cu, Pt) выполнено мето-
дами молекулярной динамики с использованием новых методик интен-
сивных вычислений на основе технологий «научного шлюза» (Science
Gateway) и WS-PGRADE/gUSE, грид-инфраструктур «сервисный грид»
(Service Grid) и «настольный грид» (Desktop Grid). Найдены новые черты
эволюции неупорядоченного расположения атомов (так называемых
атом-вакансионных состояний), которые возникают в процессе одноосно-
го монотонного нагружения идеальных нанокристаллов кубической ори-
ентации. Показано, что коллективная перестройка расположения атом-
вакансионных состояний приводит к значительным изменениям усред-
нённых значений напряжений. В результате эволюции атом-вакансион-
ных состояний образуются коллективные самоорганизующиеся зоны ло-
кализации напряжений, которые имеют вид квазипериодических полос с
различными количественными параметрами для разных металлов (тол-
щина, период, момент образования), однако с одинаковыми качествен-
ными признаками (некристаллографическое направление, эволюция,
наклон, сквозное расположение в объёме, выход на поверхность). Моде-
лируемые полосы неоднородного распределения напряжений трактуются
как предвестники образования полос коррелированного перемещения
групп атом-вакансионных (или сильно возбуждённых) состояний, т.е.
каналов неоднородного локализованного (гидродинамического) пласти-
ческого течения на низком (нанометровом) масштабном уровне. При
дальнейшей эволюции такие полосы могут стать носителями гидродина-
мических мод деформации на микроскопическом и макроскопическом
уровнях, что наблюдалось в экспериментах различных научных групп.
Моделированием результатов рентгенографического анализа показано,
что с увеличением степени деформации происходит уменьшение интен-
сивности дифракционных пиков и их смещение, что свидетельствует о
присутствии дефектов точечного типа. Таким образом, в качественном
смысле можно сделать вывод о правильности трактовки неупорядочен-
ных положений атомов в данной работе, а именно, как точечных дефектов
со свойствами атом-вакансионных состояний. На основе изложенных ре-
зультатов и их обсуждения делается вывод, что пластическая деформация
КОМП’ЮТЕРНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВИНИКНЕННЯ ДЕФЕКТНИХ СУБСТРУКТУР 1209
нанокристаллов ГЦК-металлов в условиях, когда дислокационное сколь-
жение невозможно, осуществляется путём локализованного гидродина-
мического течения вещества по каналам с неплотной некристаллической
(жидкостнообразной) структурой по механизму образования метастабиль-
ных точечных дефектов атом-вакансионного типа, их эволюции и самоор-
ганизации в полосы локализации на больших масштабных уровнях.
Computer modeling of plastic deformation of f.c.c.-metal (Al, Cu, Pt) nano-
crystals is performed by the molecular dynamics method using the new tech-
niques for high-performance computing on the basis of ‘scientific gateway’
(Science Gateway) and WS-PGRADE/gUSE technologies, ‘service grid’ and
‘desktop grid’ infrastructures. The new features of evolution are revealed for
irregular atomic arrangements (i.e. so-called atom—vacancy states), which
arise in process of monotonic uniaxial load of nanocrystals in cubic orienta-
tion. As shown, the collective restructuring in the ensemble of atom—vacancy
states leads to significant changes of the average stress values. As a result of
the evolution, the collective self-organized zones of strain localization appear
as quasi-periodic bands with various quantitative parameters for different
metals (thickness, period, time of formation), but with the same qualitative
characteristics (non-crystallographic orientation, evolution, slope, through-
bulk arrangement, outcropping). The simulated bands with nonuniform stress
distribution are treated as precursors of the correlated movement of groups of
atom—vacancy (or highly excited) states, i.e., precursors of inhomogeneous
localized (hydrodynamic) plastic flow in channels at low (nanometre) scale
level. With the further evolution, these bands may be the carriers of the hy-
drodynamic deformation modes at the micro- and macroscale levels, which
have been observed in the experiments by various research groups. The simu-
lation of results of X-ray analysis shows that the diffraction peaks decrease
and shift with increase of plastic strain that indicates the presence of point
defects. Thus, in a qualitative sense, we can conclude that the interpretation
of the irregular atomic arrangements in this work as the point defects with the
properties of the atom—vacancy states is correct. On the basis of these results
and their discussion, it is concluded that plastic deformation of nanocrystals
of f.c.c. metals under conditions, when dislocation slip is impossible, is real-
ized by the localized hydrodynamic flow of matter in channels with loosely
packed noncrystalline (liquid-like) structure by means of generation of meta-
stable point defects of atom—vacancy type, their evolution and self-
organization in the localized bands at the larger scales.
Ключові слова: пластична деформація, масоперенесення, дефектні суб-
структури, нанокристали, синергетика, комп’ютерне моделювання, рент-
ґенографічна аналіза.
(Отримано 6 серпня 2013 р.; остаточний варіянт– 28 серпня 2014 р.)
1. ВСТУП
Сучасне загальноприйнятне уявлення щодо носіїв пластичної де-
формації в кристалічних матеріялах базується на дефектах криста-
1210 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
лічної ґратниці класичного типу, тобто на вакансіях, міжвузлях,
дислокаціях, дисклинаціях, дефектах пакування, двійниках, то-
що. Проте в умовах значної пластичної деформації в зонах локалі-
зації деформації густина дефектів може стрімко зростати, що приз-
водить до значного спотворення кристалічної ґратниці і виникнен-
ня значних невпорядкованих груп атомів. Це до деякої міри ви-
ключає можливість розвитку деформації за рахунок окремих кла-
сичних дефектів. Враховуючи, що в таких умовах пластична дефо-
рмація відбувається далеко від термодинамічної рівноваги, можна
припустити, що подальша деформація може відбуватися іншим
шляхом, коли можливе самоорганізоване (синергетичне) структу-
роутворення в ансамблі локалізованих груп атомів. Такий механізм
деформації був запропонований нами в роботі [1], а носіями пласти-
чности вважалися елементи смугової структури різних масштаб-
них рівнів (так звані microbands, shear bands), виникнення яких
спостерігалося експериментально в процесі прокатки монокриста-
лів ніклю. Внутрішня структура цих елементів мала ознаки аморф-
ної (рідиноподібної) поведінки, що сприяло гідродинамічній течії
матеріялу і забезпечувало пластичну формозміну в напрямках
смуг. Подальше вивчення механізму синергетичного структуроут-
ворення в нерівноважних умовах локалізованої пластичної дефор-
мації кристалів було виконано на монокристалах алюмінію різної
кристалографічної орієнтації по відношенню до напрямку механіч-
ного навантаження [2—6]. Експериментально було показано, що
при втомному навантажуванні зразків із орієнтацією 010{010} (де
010 позначає напрямок навантаження, а {010} площину рухомих
захватів), що сприяє активації множинного ковзання, в ділянках
локалізованої пластичности також спостерігаються ознаки синер-
гетичного структуроутворення. До такого висновку автори прийш-
ли, досліджуючи поверхневий рельєф монокристалів, жорстко
скріплених з полікристалічними зразками при їх навантаженні.
Деформаційний рельєф на поверхні монокристалів не відповідав
слідам дислокаційного ковзання ні за своєю складною внутрішньою
структурою, ні за орієнтацією по відношенню до напрямку прикла-
деного зовнішнього навантаження. Крім того, на поверхні, поєдна-
ній з полікристалічним зразком, також спостерігався рельєф, що
повністю збігався з рельєфом вільної поверхні. Це дозволило зроби-
ти висновок, що поверхневий рельєф являє собою слід локалізова-
ного пластичного масоперенесення. Таким чином, в умовах гальму-
вання дислокаційного ковзання пластична деформація може здійс-
нюватися за допомогою перенесення маси по певних неоднорідних
ділянках, тобто каналах гідродинамічного течії матеріялу. Такі ка-
нали утворюються в процесі навантаження внаслідок самооргані-
зації матеріялу і мають некристалічну (рідиноподібну) внутрішню
структуру, завдяки якій можливий гомогенний перенос речовини.
Оскільки після зняття навантаження відбувається кристалізація
КОМП’ЮТЕРНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВИНИКНЕННЯ ДЕФЕКТНИХ СУБСТРУКТУР 1211
такої структури, то спостерігати в розвантаженому деформованому
матеріялі канали гідродинамічної течії вдається або за рельєфом по-
верхні (у разі монокристалів певної орієнтації див. вище), або пря-
мими структурними дослідженнями (наприклад, методою трансмі-
сійної електронної мікроскопії – ТЕМ) завдяки зміні їх морфології
[7—10]. Слід зазначити, що утворенню каналів гідродинамічної течії
в процесі навантаження сприяє різка зміна параметрів зовнішнього
механічного поля, що, як випливає з експериментів, призводить до
миттєвого підвищення пластичности матеріялу [8—10]. Отже, меха-
нізм пластичної деформації реальних кристалічних матеріялів, що
містять дефекти кристалічної будови і хімічну неоднорідність у ви-
гляді розчинних домішок і включень другої фази, в процесі наван-
таження може змінюватися від однорідного дислокаційного ковзан-
ня (на ранніх стадіях пластичної деформації) до аномального масо-
перенесення в неоднорідних зонах локалізації (на стадіях розвину-
тої пластичної деформації). Останній процес локалізується в
пов’язаних між собою каналах гідродинамічної течії і обумовлюєть-
ся колективною взаємодією і самоорганізацією дефектів кристалу,
тобто утворенням синергетичної структури. Враховуючи той експе-
риментальний факт, що утворення каналів сприяє продовженню і
навіть інтенсифікації пластичної течії матеріялу, що знаходиться
під навантаженням, можна зробити висновок, що внутрішня струк-
тура каналів сприяє течії речовини. Це може відбуватися за умови
існування нещільного або рідиноподібного розташування атомів,
яке відрізняється від ідеальної кристалічної структури металу і ха-
рактеризується наявністю великої кількости точкових збурень у
положеннях атомів, тобто точкових дефектів. Якщо утворення ка-
налів (самоорганізації) передує істотна пластична деформація, як,
наприклад, при прокатці моно- і полікристалічного ніклю і алюмі-
нію [1, 11, 12], то множинне утворення точкових дефектів вакансій-
ного типу з подальшою їх самоорганізацією у вигляді зародків ка-
налів може бути обумовлено рухом ґвинтових дислокацій зі сходин-
ками [13]. Однак, якщо дислокаційне ковзання гальмується побли-
зу межі пружности, як у випадку ГЦК-монокристалів кубічного орі-
єнтування, дислокаційний механізм утворення вакансій не ефекти-
вний.
Виникає природнє запитання: який механізм відповідальний за
утворення каналів гідродинамічної течії із нещільним або рідино-
подібним розташуванням атомів у подібних випадках? З відомих
літературних джерел варто відзначити кілька теоретичних підходів
до вивчення проблеми подібних невпорядкованих станів. Можли-
вість виникнення точкових дефектів нового типу, а саме, так зва-
них «атом-вакансійних станів» [14] і «сильно збуджених станів»
[15] у металевих кристалах, було показано в деяких теоріях дина-
міки пластичної деформації [14, 15]. Умови існування подібних де-
фектів точкового типу у вигляді метастабільних просторово локалі-
1212 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
зованих мод (МПЛМ; Intrinsic Localized Mode–ILM) та дискретних
брізерів (ДБ; Discrete Breather–DB) останнім часом також інтенси-
вно вивчаються теоретичними і експериментальними методами [16,
17]. З експериментальної точки зору пряме спостереження умов
швидкого виникнення метастабільного рідиноподібного розташу-
вання атомів під дією інтенсивного зовнішнього впливу є принци-
пово неможливим із застосуванням сучасного обладнання. З теоре-
тичної точки зору проблема є суттєво нелінійною, і жодних теоре-
тичних метод вивчення її динаміки немає. Проте не зважаючи на
брак прямих експериментальних даних і точних теоретичних моде-
лів з цього питання, перспективним видається використання су-
часних засобів комп’ютерного моделювання, наприклад метод мо-
лекулярної динаміки. Необхідність і зручність комп’ютерного мо-
делювання обумовлена також тим, що експериментальне вивчення
деформаційного структуроутворення (самоорганізації) повинно ви-
конуватися не на розвантажених зразках, коли протікають релак-
саційні процеси, спотворюючи деформаційну структуру, а під час
навантаження, коли ця структура виникає. При цьому необхідно
враховувати, що утворення синергетичної структури відбувається
кооперативно на різних масштабних рівнях за дуже малий час (час-
тки пікосекунди), що не дозволяє їх експериментально спостеріга-
ти на сучасному технічному рівні.
2. МЕТОДИКА КОМП’ЮТЕРНОГО МОДЕЛЮВАННЯ
Для моделювання розвитку дефектної структури використовувала-
ся метода молекулярної динаміки (МД; Molecular Dynamics–MD).
Для виконання МД-моделювання потрібно врахувати кілька факто-
рів: відповідний потенціял міжатомної взаємодії, початкові і крайо-
ві умови, умови термалізації (підтримання модельованого теплового
режиму). В даній роботі моделювалися бездефектні у вихідному
стані зразки з геометричними розмірами 6,461,6 нм. За умовами
термалізації температура нанокристалу підтримувалась на рівні 300
К. Кількість атомів становила приблизно 2,5105. Варто зазначити,
що вказана кількість атомів хоч зазвичай і використовується при
моделюванні на надпотужних комп’ютерах, все ж незрівнянно мала
в порівнянні з числом Авоґадро. В реальних умовах поведінка анса-
мблю атомів залежить від великої кількости (1023) довкільних ато-
мів, які не можуть бути явно включені в моделювання. Вплив цих
атомів можна наближено врахувати за допомогою відповідних кра-
йових умов. В даній роботі використовувалися періодичні крайові
умови з урахуванням розміру зразків. Оскільки для обчислення та-
кої кількости атомів і різних сценаріїв необхідна велика кількість
ресурсів, то обчислення виконувалися із використанням наукового
порталу ‘IMP Science Gateway’ (http://scigate.imp.kiev.ua) [18] на
КОМП’ЮТЕРНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВИНИКНЕННЯ ДЕФЕКТНИХ СУБСТРУКТУР 1213
базі технологій WS-PGRADE/ gUSE [19] для складання багатоста-
дійної схеми виконання моделювання фізичного процесу і прозорого
доступу до неоднорідних обчислювальних ресурсів кластера ІМФ ім.
Г. В. Курдюмова НАНУ (http://pamela.imp.kiev.ua), Центру супер-
комп’ютерних обчислень Національного технічного університету
України «КПІ» (http://hpcc.kpi.ua) та ґлобальної інфраструктури
середовища розподілених обчислень «SLinCA@Home» на базі насті-
льного ґріду (http://dg.imp.kiev.ua/slinca) [20] та сервісного ґріду
«Український національний грід». Методику використання неодно-
рідних обчислювальних ресурсів, способи оптимізації ресурсів і ро-
бочі потоки виконання обчислювальних завдань докладно було опи-
сано раніше [20—22]. В даному контексті варто зазначити успішну
практичну перевірку метод оптимізації виконання завдань різної
тривалости із різними вимогами до ресурсів. В умовах стандартних
квот користувачів із кількома типами черг (із різною кількістю дос-
тупних процесорів, об’ємом оперативної пам’яті, часом обчислення)
вдалося розробити ефективну схему виконання завдань для зразків
нанокристалів із різними розмірами (різною кількістю атомів) і різ-
ними умовами фізичного процесу (тривалістю і швидкістю розтягу).
Окремим перспективним резервом для оптимізації стала розроблена
і втілена дворівнева система управління апаратними і програмними
засобами в кластерних системах [22].
Для МД-моделювання використовувався МЗА-потенціял міжа-
томової взаємодії за методою зануреного атома (МЗА; embedded at-
om method–ЕАМ) для Al [23] та ТЕС-потенціял міжатомної взає-
модії багатьох атомів, відомий з теорії ефективного середовища
(ТЕС; Effective Medium Theory–EMT) для Cu і Pt [24]. Це надзви-
чайно важливий аспект методики, оскільки необхідно, щоб взаємо-
дія атомів металів моделювалася на основі взаємодії багатьох ато-
мів, тобто таких потенціялів як МЗА-потенціял або ТЕС-потенціял.
Як відомо, прості (і швидкі в обчисленнях) потенціяли парної взає-
модії, наприклад потенціял Леннард-Джонса, добре описують твер-
ді шляхетні гази, проте неадекватно моделюють металеві системи.
МЗА-потенціяли і ТЕС-потенціяли широко застосовуються в моде-
люванні металевих систем, оскільки при відносній простоті умож-
ливлюють побудувати реалістичний модель. Як об’єкт моделюван-
ня було використано монокристали ГЦК-металів (Al, Cu, Ni, Pt,
тощо). Під час моделювання обраховувалися наступні кількісні па-
раметри: енергія парної взаємодії, температура, загальний кумуля-
тивний тиск, тензор тиску, тензор напружень. Комп’ютерне моде-
лювання виконувалось за допомогою пакета програмного забезпе-
чення LAMMPS [25], а візуалізація координат атомів – за допомо-
гою алґоритмів і пакетів VMD [26] і Ovito [27]. Умовами моделю-
вання передбачався одновісний розтяг зразків з орієнтацією
010{010} зі швидкістю навантаження 20 м/с.
1214 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
Для одновісного монотонного навантаження було обрано наступ-
ну геометрію (рис. 1): напрямок навантаження орієнтовано вздовж
осі Y; рухомі атомарні площини ZX, до яких прикладене зовнішнє
навантаження, відповідають місцям захвату зразка у випробуваль-
ній машині; періодичні крайові умови задаються на площинах YX
вздовж вісі Z; вільні поверхні (площини YZ) розташовано на лівому
і правому боках зразка.
Для одновісного монотонного навантаження було обрано наступ-
ну геометрію (рис. 1): напрямок навантаження орієнтовано вздовж
осі Y, рухомі атомарні площини, до яких прикладене зовнішнє на-
вантаження (відповідають місцям захвату зразка у випробувальній
машині), позначено темно-сірим кольором; періодичні крайові
умови задаються вздовж вісі Z і перпендикулярно до площини YX;
вільні поверхні розташовано ліворуч і праворуч від поверхні YZ.
Атоми рухомих площин позначалися темно-сірим кольором,
атоми, що належать до ГЦК-ґратниці, відображались сірим кольо-
ром (рис.1, зліва). Для спостереження за розвитком дефектів ці
атоми прибиралися (рис. 1, справа), атоми, що належать до точко-
вих дефектів, позначалися світло-сірим кольором. Варто відзначи-
ти, що тут і в подальшому викладі роботи під точковими дефектами
маються на увазі не класичні точкові дефекти типу вакансій або до-
мішкових атомів, а стани, які порушують періодичність вихідної
кристалічної ГЦК-ґратниці і знаходяться в нереґулярному оточен-
ні інших атомів. Детально такі стани (так звані атом-вакансійні
Рис. 1. Геометрія зразків в процесі одновісного монотонного навантажен-
ня: монокристал у вихідному стані – тут і далі показано лише атоми, які
відповідають невпорядкованим розташуванням атомів (дефектам), двого-
лові стрілки вказують напрямок одновісного розтягу.
КОМП’ЮТЕРНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВИНИКНЕННЯ ДЕФЕКТНИХ СУБСТРУКТУР 1215
стани) вперше було проаналізовано в попередній роботі [28], яку
було присвячено комп’ютерному моделюванню методою молекуля-
рної динаміки еволюції дефектної субструктури і механізмів плас-
тичного деформування нанокристалів алюмінію. Як і в попередній
роботі, для аналізи окремих атомів і їх оточення у даній роботі було
використано атомарну методу – «аналізу найближчих сусідів»
(АНС; Common Neighbour Analysis–CNA), яка є дуже корисною
саме для кристалічних матеріялів, оскільки вона базується на ана-
лізі топологічного розташування сусідніх атомів відповідно до пев-
них типів кристалічної ґратниці [29].
3. РЕЗУЛЬТАТИ МОДЕЛЮВАННЯ
З метою спостереження за розвитком дефектної субструктури в мо-
дельованих зразках були прибрані атоми, що відносяться до ГЦК-
ґратниці. Таким чином візуалізувалися лише ті атоми, що відно-
сяться до дефектів (на зображеннях позначені сірим кольором).
Для незначних ступенів деформації (рис. 2) помітно, що дефекти,
які утворилися, розподілені хаотично за об’ємом нанокристалу або
утворюють відносно невеликі скупчення в місцях концентрації на-
пруг. Зі збільшенням ступеня деформації їх кількість значно зрос-
тає, дефекти локалізуються в ансамблі.
На рисунку 3 показано стадію деформації 6,67% для орієнта-
ції 010{010}, видно присутність великої кількости дефектів типу
атом-вакансійних станів, які локалізуються в місцях найбільших
концентрацій дотичних напружень xy (на діягоналях нанокристалу
та їх перетині). Як відомо, при одновісному розтягу на площинах,
які орієнтовані під кутом 45 до вісі розтягу, величина дотичних
напружень досягає максимального значення max 0,5yy. Саме це
ілюструють діягональні (тобто орієнтовані під кутом 45 до вісі роз-
тягу OY) розподіли точкових збурень в положеннях атомів на рис.
3, внаслідок концентрації дотичних напружень xy. Для досліджен-
ня еволюції дефектної субструктури окрім якісної було застосовано
кількісну аналізу наступних параметрів: значення тиску вздовж
Рис. 2. Розподіл точкових дефектів в об’ємі зразка: Al (а), Cu (б), Pt (в)
(орієнтація 010{010}, деформація 4,66%).
1216 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
головних осей, відносного ступеня деформації, мікронапруження,
температури тощо.
3.1. Еволюція усереднених напружень
На рисунку 4 наведено розподіли усереднених за всіма атомами
значень внутрішнього тиску в модельованих нанокристалах вздовж
головних осей. Зміни значень тиску описують зміни напружень, що
виникають у нанокристалі під час навантаження. Можна відзначи-
ти різки зміни значень тиску, що свідчить про «стадійність» проце-
су деформації за рахунок еволюції ансамблю точкових дефектів.
Зміцнення зразка змінюється поступовим знеміцненням і знову на-
ступним збільшенням мікронапружень. Зміни можуть свідчити про
зміну характеру еволюції дефектних утворень. Початкове зростан-
ня тиску може пояснюватись пружною деформацією кристалічної
ґратниці, після досягнення першого максимуму відбувається на-
ступна релаксація внаслідок утворення точкових дефектів хаотич-
но розташованих в об’ємі нанокристалу, що призводить до змен-
шення усереднених напружень. Зі збільшенням ступеня деформа-
ції значення тиску зростає до другого максимуму, окремі хаотично
розташовані дефекти локалізуються в місцях найбільших концент-
рацій напруг (на діягоналях нанокристалу та їх перетині), що приз-
Рис. 3. Розподіл точкових дефектів в об’ємі зразка: Al (а), Cu (б), Pt (в)
(орієнтація 010{010}, деформація 6,67%).
Рис. 4. Розподіл усереднених за всіма атомами значень внутрішнього тис-
ку вздовж головних осей: Al (а), Cu (б), Pt (в).
КОМП’ЮТЕРНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВИНИКНЕННЯ ДЕФЕКТНИХ СУБСТРУКТУР 1217
водить до релаксації системи в цілому. Від’ємні значення на почат-
кових стадіях деформування пояснюються процесами врівнова-
ження на етапі початкової термалізації до кімнатної температури.
3.2. Еволюція локальних мікронапружень в смугах
У низці попередніх робіт [30—33] спостерігалась поява упорядкова-
ного смугового рельєфу на поверхні досліджуваних зразків монок-
ристалів ГЦК-металів з орієнтацією 010{010}. Поява та розвиток
цього рельєфу опосередковано свідчили про розвиток деформацій-
них процесів, що відбуваються в об’ємі зразка. Тому цікаво було
відстежити значення локальних нормальних напружень yy в
центрі локалізації найбільшої кількости дефектів (на перетині дія-
гоналей нанокристалу).
Для наочного представлення розподілу локальних значень нор-
мальних напружень yy за об’ємом зразка вони відображалися різ-
ними відтінками сірого кольору (рис. 5). Як видно з рис. 5, з певно-
го моменту часу для різних металів спостерігається кількісно різна,
проте якісно однакова поведінка: в перерізі зразка в ансамблі точ-
кових дефектів виникають локальні ділянки у вигляді діягональ-
них смуг з певними однаковими значеннями локальних напруг, які
утворюють смугастий контрастний малюнок із чергуванням смуг з
мінімальним і максимальним значенням напруги. Смуги переріза-
ють увесь зразок наскрізь і виходять на поверхню зразка. В кількі-
сному сенсі ріжниця смугастого малюнка для різних металів поля-
гає в різній товщині смуг (наприклад, у алюмінії на рис. 5, а смуги
більш тонкі, ніж у платині на рис. 5, в) і їх періодичності (смуги в
алюмінії на рис. 5, а мають менший період, ніж смуги у платині на
рис. 5, в). Варто зазначити, що для деяких металів такий смугастий
розподіл локальних напружень в ансамблі дефектів точкового типу
спостерігається для дещо вищих значень пластичної деформації
(наприклад, для міді на рис. 5, б він починається для деформації
більше 7%). На базі цих спостережень можна припустити, що на-
скрізне розташування цих смуг і їх вихід на поверхню зразка є пе-
редумовою формування неоднорідного розподілу властивостей в ан-
самблі дефектів точкового типу із наступним формуванням їх неод-
норідного розподілу і подальшим спостереженням у вигляді повер-
хневого рельєфу на великих ступенях деформації.
3.3. Дані моделювання результатів рентґеноструктурної аналізи
Однією з проблем моделювання методою молекулярного моделю-
вання є неможливість прямого порівняння детальної поведінки мо-
дельованої системи з реальними зразками, наприклад неможливо
порівняти координати збурених атомів у моделю та практичній си-
1218 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
туації. В основному це пов’язано з принциповим технічним обме-
женням МД-моделювання за кількістю атомів і часом моделювання.
МД-моделювання уможливлює одержати кількісні параметри
системи з великою точністю, в той же час обраховані кількісні па-
раметри не завжди можливо порівняти з реальним експериментом,
і часто порівняння відбувається за якісними ознаками. З розвитком
метод комп’ютерного моделювання з’явилася можливість викону-
вати моделювання результатів рентґеноструктурної аналізи для
окремих часових станів модельованої системи, що дозволило вико-
нувати порівняння результатів моделювання та реального експе-
Рис. 5. Візуалізація локальних нормальних напружень yy (0,05—0,05
ГПа) (позначених різним кольором) на перерізі зразка: Al (а), Cu (б), Pt (в);
деформація 6,67% (для більшої наочности прибрано два шари атомів на
вільних поверхнях YZ).
КОМП’ЮТЕРНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВИНИКНЕННЯ ДЕФЕКТНИХ СУБСТРУКТУР 1219
рименту із залученням метод рентґенографії. Особливістю моде-
льованих результатів рентґеноструктурної аналізи є необхідність
обрахування Фур’є-перетворів для надвеликої кількости координат
атомів, яка за часом та вимогами до обчислювальних ресурсів на-
ближається до часу і вимог самого процесу МД-моделювання.
Моделювання результатів рентґеноструктурної аналізи відбува-
лося за методою обертання [34]. Модельований нанокристал обер-
тався в тривимірному просторі зі спадним на нього змодельованим
пучком Рентґенового CuK-випромінення. Розсіяне нанокристалом
випромінення обраховувалось і фіксувалося у вигляді дифрактог-
рам (рис. 6). Для кожного із зразків виконувалося по 20 моделю-
вань відповідно до зростання деформації ( 0—6,67%). Одержані
дифрактограми в якісному аспекті відповідають результатам рент-
ґеноструктурної аналізи реальних монокристалів, які пластично
деформуються.
На рисунку 6 наведено дифрактограми для досліджуваних нано-
кристалів. У зведених результатах помітно, як зі збільшенням сту-
пеня навантаження відбувається зменшення інтенсивности дифра-
кційних піків та їх незначний зсув, що свідчить про присутність
дефектів першого класу за Кривоглазом [35], тобто точкових дефек-
тів (атом-вакансійних станів). Таким чином, в якісному сенсі аналі-
Рис. 6. Зведені результати моделю-
вання даних рентґеноструктурної
аналізи: Al (а), Cu (б), (в), Pt (б) (де-
формація 0—6,67%).
1220 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
зуючи результати моделювання даних рентґеноструктурної аналі-
зи, можна зробити висновок щодо правильности трактування нев-
порядкованих положень атомів у даній роботі, а саме, як точкових
дефектів із властивостями атом-вакансійних станів. Подальша
більш точна статистична аналіза (яка вимагає значно більших на
кілька порядків обчислювальних ресурсів) модельованих результа-
тів рентґеноструктурної аналізи надасть можливість кількісно ха-
рактеризувати розвиток дефектної субструктури та виконувати по-
рівняння з відомими теоретичними результатами і експериментами
на реальних зразках.
4. ВИСНОВКИ
Виконане МД-моделювання продемонструвало нові риси еволюції
так званих атом-вакансійних станів у процесі одновісного монотон-
ного навантаження ідеальних нанокристалів металів із ГЦК-
ґратницею (Al, Cu, Pt) кубічної орієнтації. Показано, що в ансамблі
атом-вакансійних станів утворюються колективні самоорганізовані
моди локалізації напружень, які мають вигляд квазиперіодичних
смуг із різними кількісними параметрами (товщина, період, часо-
вий момент утворення), проте із однаковими якісними ознаками
(некристалографічний напрямок, еволюція, нахил, наскрізне роз-
ташування в об’ємі, вихід на поверхню). Модельовані смуги неод-
норідного розподілу напружень можна розглядати як провісники
утворення каналів гідродинамічної пластичної течії на найнижчо-
му (нанометровому) масштабному рівні, які при подальшій еволю-
ції можуть стати носіями гідродинамічних мод деформації на мік-
роскопічному і макроскопічному рівні, що спостерігалось в чис-
ленних експериментах багатьох наукових груп [1, 2, 5, 10, 15]. Вар-
то зауважити, що моделювання виконано для нанокристалів лише з
певними розмірами і умовами термалізації, а також із використан-
ням періодичних крайових умов. Тому для порівняння одержаних
кількісних параметрів смуг локалізації із експериментальними да-
ними необхідно виконати додаткове масштабне моделювання і
строге статистичне дослідження впливу розмірного ефекту, умов
термалізації і періодичних крайових умов на якісні і кількісні по-
казники дослідженого механізму еволюції ансамблю дефектів. Мо-
делюванням результатів рентґенографічної аналізи продемонстро-
вано практичну можливість кількісного порівняння модельованих
параметрів еволюції атом-вакансійних станів і параметрів рентґе-
нографічної аналізи в межах теорій впливу точкових дефектів на
форму і розташування піків на дифрактограмах експерименталь-
них зразків в умовах пластичної деформації. Резюмуючи викладені
результати та їх обговорення, можна стверджувати, що при механі-
чному навантаженні монокристалів ГЦК-металів (Al, Cu, Pt) кубіч-
КОМП’ЮТЕРНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВИНИКНЕННЯ ДЕФЕКТНИХ СУБСТРУКТУР 1221
ного орієнтування в умовах, коли дислокаційне ковзання практич-
но не відбувається, пластична деформація здійснюється шляхом
локалізованої гідродинамічної течії речовини по каналах з нещіль-
ною некристалічною (рідиноподібною) структурою за рахунок
утворення метастабільних точкових дефектів атом-вакансійного
типу, їх еволюції і самоорганізації у надструктури (смуги локаліза-
ції напружень) на більших масштабних рівнях.
5. ПОДЯКИ
Роботу виконано в межах теми «Використання грід-технологій для
дослідження динамічної поведінки металів при деформації та елек-
тронної структури металовмісних сполук» Державної цільової нау-
ково-технічної програми впровадження і застосування грід-техно-
логій на 2009—2013 роки і при частковій підтримці проєкту EU FP7
SCI-BUS (SCIentific Gateway Based User Support) RI-283481
(http://www.sci-bus.eu) 7-ї Рамкової Програми Європейського Сою-
зу.
ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА
1. E. E. Zasimchuk and L. I. Markashova, Mater. Sci. Eng. A, 127, No. 1: 33
(1990).
2. Yu. G. Gordienko, R. G. Gontareva, J. S. Schreiber, E. E. Zasimchuk, and I. K.
Zasimchuk, Adv. Eng. Mater., 8, No. 10: 957 (2006).
3. E. E. Zasimchuk, Yu. G. Gordienko, R. G. Gontareva, and I. K. Zasimchuk,
J. Mater. Eng. Perf., 12, Iss. 10: 69 (2003).
4. Yu. G. Gordienko, E. E. Zasimchuk, and R. G. Gontareva, J. Mater. Sci. Lett.,
22, No.3: 241 (2003).
5. Yu. G. Gordienko, E. E. Zasimchuk, R. Gontareva, and V. Alexandrov, Int. J.
Eng. Simul., 1, No. 3: 2 (2000).
6. P. V. Kuznetsov, I. V. Petrakova, Y. G. Gordienko, E. E. Zasimchuk, and V. L.
Karbovskii, Phys. Mesomech., 12, No. 1: 85 (2009).
7. E. E. Zasimchuk, Yu. G. Gordienko, L. Markashova, and T. Turchak, J. Mater.
Eng. Perf., 18, Iss. 7: 947 (2009).
8. E. Zasimchuk, L. Markashova, O. Baskova, T. Turchak, N. Chausov,
V. Hutsaylyuk, and V. Berezin, J. Mater. Eng. Perf., 22, Iss. 11: 3421 (2013).
9. Е. Э. Засимчук, Л. И. Маркашова, Т. В. Турчак, Н. Г. Чаусов и др., Физиче-
ская мезомеханика, 12, № 2: 77 (2009).
10. Н. Чаусов, Е. Засимчук, Л. Маркашова, В. Вильдеман и др., Техническая
диагностика и неразрушающий контроль, 4: 54 (2008).
11. E. Zasimchuk, Yu. Gordienko, L. Markashova, and T. Turchak, J. Mater. Eng.
Perf., 18, Iss. 7: 947 (2009).
12. Е. Э. Засимчук, Ю. Г. Гордиенко, В. И. Прудникова, Т. В. Турчак, Метал-
лофиз. новейшие технол., 27, № 5: 595 (2005).
13. Yu. G. Gordienko and E. E. Zasimchuk, Philos. Mag. A, 70, No. 1: 99 (1994).
1222 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
14. В. Е. Панин, В. Е. Егорушкин, Ю. А. Хон, Т. Ф. Елсукова, Изв. вузов. Физи-
ка, 24, № 12: 5 (1982).
15. В. Е. Егорушкин, В. Е. Панин, Е. В. Савушкин, Ю. А. Хон, Изв. вузов. Фи-
зика, 30, № 1: 9 (1987).
16. S. Flach and A. V. Gorbach, Phys. Reports, 467: 1 (2008).
17. V. I. Dubinko, P. A. Selyshchev, and J. F. R. Archilla, Phys. Rev. E, 83, No. 4:
041124 (2011).
18. O. Gatsenko, L. Bekenev, E. Pavlov, and Yu. G. Gordienko, Comp. Sci., 14, No.
1: 27 (2013).
19. P. Kacsuk, Z. Farkas, M. Kozlovszky, G. Hermann, A. Balasko, K. Karoczkai,
and I. Marton, J. Grid Comp., 9, No. 4: 479 (2012).
20. O. Baskova, O. Gatsenko, and Yu. G. Gordienko, Proc. Cracow Grid Work-
shop’10 (2011, Cracow, Poland), p. 234.
21. Y. Gordienko, L. Bekenev, O. Baskova, O. Gatsenko, E. Zasimchuk, and
S. Stirenko, Proc. of 6
th
International Workshop on Science Gateways ‘IWSG-
2014’ (2014, Dublin, Ireland), arXiv preprint arXiv:1404.5611.
22. S. Stirenko, O. Zinenko, and D. Gribenko, Proc. Third Int. Conf. ‘High Perfor-
mance Computing HPC-UA 2013’ (2013, Kyiv, Ukraine), p. 380.
23. S. M. Foiles, M. I. Baskes, and M. S. Daw, Phys. Rev. B, 33, No. 12: 7983 (1986).
24. K. W. Jacobsen, J. K. Norskov, and M. J. Puska, Phys. Rev. B, 35, No. 14: 7423
(1987).
25. S. Plimpton, J. Comp. Phys., 117: 1 (1995).
26. W. Humphrey, A. Dalke, and K. Schulten, J. Mol. Graph., 14, No. 1: 33 (1996).
27. A. Stukowski, Mod. Sim. Mater. Sci. Eng., 18, No. 1: 015012 (2010).
28. Ю. Г. Гордієнко, Металлофиз. новейшие технол., 33, № 9: 1217 (2011).
29. H. Tsuzuki, P. Branicio, and J. Rino, Comp. Phys. Comm., 177: 518 (2007).
30. E. E. Zasimchuk, Yu. G. Gordienko, J. Schreiber, R. Gontareva, P. Kuznetsov,
and V. Karbovsky, Mater. Sci. Forum, 567: 421 (2008).
31. Е. Э. Засимчук, И. Т. Ярматов, Физическая мезомеханика, 12, № 3: 55
(2009).
32. Е. Э. Засимчук, Ю. Г. Гордиенко, А. С. Гаценко, А. И. Баскова, И. Т. Ярма-
тов, Физическая мезомеханика, 13, № 2: 61 (2010).
33. O. Gatsenko, O. Baskova, O. Lodygensky, G. Fedak, and Yu. G. Gordienko, Key
Eng. Mater., 465: 306 (2011).
34. M. Wojdyr, Y. Mo, E. Grzanka, S. Stelmakh, S. Gierlotka, T. Proffen, and
I. Szlufarska, Z. Kristallogr., 26, Suppl.: 255 (2007).
35. М. А. Кривоглаз, Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеаль-
ных кристаллах (Киев: Наукова думка: 1988).
REFERENCES
1. E. E. Zasimchuk and L. I. Markashova, Mater. Sci. Eng. A, 127, No. 1: 33
(1990).
2. Yu. G. Gordienko, R. G. Gontareva, J. S. Schreiber, E. E. Zasimchuk, and
I. K. Zasimchuk, Adv. Eng. Mater., 8, No. 10: 957 (2006).
3. E. E. Zasimchuk, Yu. G. Gordienko, R. G. Gontareva, and I. K. Zasimchuk,
J. Mater. Eng. Perf., 12, Iss. 10: 69 (2003).
4. Yu. G. Gordienko, E. E. Zasimchuk, and R. G. Gontareva, J. Mater. Sci. Lett.,
22, No.3: 241 (2003).
КОМП’ЮТЕРНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВИНИКНЕННЯ ДЕФЕКТНИХ СУБСТРУКТУР 1223
5. Yu. G. Gordienko, E. E. Zasimchuk, R. Gontareva, and V. Alexandrov,
Int. J. Eng. Simul., 1, No. 3: 2 (2000).
6. P. V. Kuznetsov, I. V. Petrakova, Y. G. Gordienko, E. E. Zasimchuk, and
V. L. Karbovskii, Phys. Mesomech., 12, No. 1: 85 (2009).
7. E. E. Zasimchuk, Yu. G. Gordienko, L. Markashova, and T. Turchak,
J. Mater. Eng. Perf., 18, Iss. 7: 947 (2009).
8. E. Zasimchuk, L. Markashova, O. Baskova, T. Turchak, N. Chausov,
V. Hutsaylyuk, and V. Berezin, J. Mater. Eng. Perf., 22, Iss. 11: 3421 (2013).
9. E. E. Zasimchuk, L. I. Markashova, T. V. Turchak, N. G. Chausov et al.,
Fizicheskaya Mezomekhanika, 12, No. 2: 77 (2009) (in Russian).
10. N. Chausov, E. Zasimchuk, L. Markashova, V. Vil’deman et al.,
Tekhnicheskaya Diagnostika i Nerazrushayushchiy Kontrol’, 4: 54 (2008) (in
Russian).
11. E. Zasimchuk, Yu. Gordienko, L. Markashova, and T. Turchak,
J. Mater. Eng. Perf., 18, Iss. 7: 947 (2009).
12. E. Eh. Zasimchuk, Yu. G. Gordienko, V. I. Prudnikova, and T. V. Turchak,
Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 27, No. 5: 595 (2005) (in Russian).
13. Yu. G. Gordienko and E. E. Zasimchuk, Philos. Mag. A, 70, No. 1: 99 (1994).
14. V. E. Panin, V. E. Egorushkin, Yu. A. Khon, and T. F. Elsukova,
Izv. Vuzov. Fizika, 24, No. 12: 5 (1982) (in Russian).
15. V. E. Egorushkin, V. E. Panin, E. V. Savushkin, and Yu. A. Khon,
Izv. Vuzov. Fizika, 30, No. 1: 9 (1987) (in Russian).
16. S. Flach and A. V. Gorbach, Phys. Reports, 467: 1 (2008).
17. V. I. Dubinko, P. A. Selyshchev, and J. F. R. Archilla, Phys. Rev. E, 83, No. 4:
041124 (2011).
18. O. Gatsenko, L. Bekenev, E. Pavlov, and Yu. G. Gordienko, Comp. Sci., 14,
No. 1: 27 (2013).
19. P. Kacsuk, Z. Farkas, M. Kozlovszky, G. Hermann, A. Balasko, K. Karoczkai,
and I. Marton, J. Grid Comp., 9, No. 4: 479 (2012).
20. O. Baskova, O. Gatsenko, and Yu. G. Gordienko, Proc. Cracow Grid
Workshop’10 (2011, Cracow, Poland), p. 234.
21. Y. Gordienko, L. Bekenev, O. Baskova, O. Gatsenko, E. Zasimchuk, and
S. Stirenko, Proc. of 6
th
International Workshop on Science Gateways
‘IWSG-2014’ (2014, Dublin, Ireland), arXiv preprint arXiv:1404.5611.
22. S. Stirenko, O. Zinenko, and D. Gribenko, Proc. Third Int. Conf. ‘High
Performance Computing HPC-UA 2013’ (2013, Kyiv, Ukraine), p. 380.
23. S. M. Foiles, M. I. Baskes, and M. S. Daw, Phys. Rev. B, 33, No. 12: 7983 (1986).
24. K. W. Jacobsen, J. K. Norskov, and M. J. Puska, Phys. Rev. B, 35, No. 14: 7423
(1987).
25. S. Plimpton, J. Comp. Phys., 117: 1 (1995).
26. W. Humphrey, A. Dalke, and K. Schulten, J. Mol. Graph., 14, No. 1: 33 (1996).
27. A. Stukowski, Mod. Sim. Mater. Sci. Eng., 18, No. 1: 015012 (2010).
28. Yu. G. Gordienko, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 33, No. 9: 1217 (2011) (in
Ukrainian).
29. H. Tsuzuki, P. Branicio, and J. Rino, Comp. Phys. Comm., 177: 518 (2007).
30. E. E. Zasimchuk, Yu. G. Gordienko, J. Schreiber, R. Gontareva, P. Kuznetsov,
and V. Karbovsky, Mater. Sci. Forum, 567: 421 (2008).
31. E. E. Zasimchuk and I. T. Yarmatov, Fizicheskaya Mezomekhanika, 12, No. 3:
55 (2009) (in Russian).
32. E. E. Zasimchuk, Yu. G. Gordienko, A. S. Gatsenko, A. I. Baskova, and
1224 О. С. ГАЦЕНКО, О. Е. ЗАСИМЧУК, П. О. ТЕСЕЛЬКО та ін.
I. T. Yarmatov, Fizicheskaya Mezomekhanika, 13, No. 2: 61 (2010)
(in Russian).
33. O. Gatsenko, O. Baskova, O. Lodygensky, G. Fedak, and Yu. G. Gordienko,
Key Eng. Mater., 465: 306 (2011).
34. M. Wojdyr, Y. Mo, E. Grzanka, S. Stelmakh, S. Gierlotka, T. Proffen, and
I. Szlufarska, Z. Kristallogr., 26, Suppl.: 255 (2007).
35. M. A. Krivoglaz, Difraktsiya Rentgenovskikh Luchey i Neytronov v
Neideal’nykh Kristallakh (Kiev: Naukova Dumka: 1988) (in Russian).
<<
/ASCII85EncodePages false
/AllowTransparency false
/AutoPositionEPSFiles true
/AutoRotatePages /None
/Binding /Left
/CalGrayProfile (Dot Gain 20%)
/CalRGBProfile (sRGB IEC61966-2.1)
/CalCMYKProfile (U.S. Web Coated \050SWOP\051 v2)
/sRGBProfile (sRGB IEC61966-2.1)
/CannotEmbedFontPolicy /Error
/CompatibilityLevel 1.4
/CompressObjects /Tags
/CompressPages true
/ConvertImagesToIndexed true
/PassThroughJPEGImages true
/CreateJobTicket false
/DefaultRenderingIntent /Default
/DetectBlends true
/DetectCurves 0.0000
/ColorConversionStrategy /CMYK
/DoThumbnails false
/EmbedAllFonts true
/EmbedOpenType false
/ParseICCProfilesInComments true
/EmbedJobOptions true
/DSCReportingLevel 0
/EmitDSCWarnings false
/EndPage -1
/ImageMemory 1048576
/LockDistillerParams false
/MaxSubsetPct 100
/Optimize true
/OPM 1
/ParseDSCComments true
/ParseDSCCommentsForDocInfo true
/PreserveCopyPage true
/PreserveDICMYKValues true
/PreserveEPSInfo true
/PreserveFlatness true
/PreserveHalftoneInfo false
/PreserveOPIComments true
/PreserveOverprintSettings true
/StartPage 1
/SubsetFonts true
/TransferFunctionInfo /Apply
/UCRandBGInfo /Preserve
/UsePrologue false
/ColorSettingsFile ()
/AlwaysEmbed [ true
]
/NeverEmbed [ true
]
/AntiAliasColorImages false
/CropColorImages true
/ColorImageMinResolution 300
/ColorImageMinResolutionPolicy /OK
/DownsampleColorImages true
/ColorImageDownsampleType /Bicubic
/ColorImageResolution 300
/ColorImageDepth -1
/ColorImageMinDownsampleDepth 1
/ColorImageDownsampleThreshold 1.50000
/EncodeColorImages true
/ColorImageFilter /DCTEncode
/AutoFilterColorImages true
/ColorImageAutoFilterStrategy /JPEG
/ColorACSImageDict <<
/QFactor 0.15
/HSamples [1 1 1 1] /VSamples [1 1 1 1]
>>
/ColorImageDict <<
/QFactor 0.15
/HSamples [1 1 1 1] /VSamples [1 1 1 1]
>>
/JPEG2000ColorACSImageDict <<
/TileWidth 256
/TileHeight 256
/Quality 30
>>
/JPEG2000ColorImageDict <<
/TileWidth 256
/TileHeight 256
/Quality 30
>>
/AntiAliasGrayImages false
/CropGrayImages true
/GrayImageMinResolution 300
/GrayImageMinResolutionPolicy /OK
/DownsampleGrayImages true
/GrayImageDownsampleType /Bicubic
/GrayImageResolution 300
/GrayImageDepth -1
/GrayImageMinDownsampleDepth 2
/GrayImageDownsampleThreshold 1.50000
/EncodeGrayImages true
/GrayImageFilter /DCTEncode
/AutoFilterGrayImages true
/GrayImageAutoFilterStrategy /JPEG
/GrayACSImageDict <<
/QFactor 0.15
/HSamples [1 1 1 1] /VSamples [1 1 1 1]
>>
/GrayImageDict <<
/QFactor 0.15
/HSamples [1 1 1 1] /VSamples [1 1 1 1]
>>
/JPEG2000GrayACSImageDict <<
/TileWidth 256
/TileHeight 256
/Quality 30
>>
/JPEG2000GrayImageDict <<
/TileWidth 256
/TileHeight 256
/Quality 30
>>
/AntiAliasMonoImages false
/CropMonoImages true
/MonoImageMinResolution 1200
/MonoImageMinResolutionPolicy /OK
/DownsampleMonoImages true
/MonoImageDownsampleType /Bicubic
/MonoImageResolution 1200
/MonoImageDepth -1
/MonoImageDownsampleThreshold 1.50000
/EncodeMonoImages true
/MonoImageFilter /CCITTFaxEncode
/MonoImageDict <<
/K -1
>>
/AllowPSXObjects false
/CheckCompliance [
/None
]
/PDFX1aCheck false
/PDFX3Check false
/PDFXCompliantPDFOnly false
/PDFXNoTrimBoxError true
/PDFXTrimBoxToMediaBoxOffset [
0.00000
0.00000
0.00000
0.00000
]
/PDFXSetBleedBoxToMediaBox true
/PDFXBleedBoxToTrimBoxOffset [
0.00000
0.00000
0.00000
0.00000
]
/PDFXOutputIntentProfile ()
/PDFXOutputConditionIdentifier ()
/PDFXOutputCondition ()
/PDFXRegistryName ()
/PDFXTrapped /False
/CreateJDFFile false
/Description <<
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
/BGR <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>
/CHS <FEFF4f7f75288fd94e9b8bbe5b9a521b5efa7684002000410064006f006200650020005000440046002065876863900275284e8e9ad88d2891cf76845370524d53705237300260a853ef4ee54f7f75280020004100630072006f0062006100740020548c002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e003000204ee553ca66f49ad87248672c676562535f00521b5efa768400200050004400460020658768633002>
/CHT <FEFF4f7f752890194e9b8a2d7f6e5efa7acb7684002000410064006f006200650020005000440046002065874ef69069752865bc9ad854c18cea76845370524d5370523786557406300260a853ef4ee54f7f75280020004100630072006f0062006100740020548c002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e003000204ee553ca66f49ad87248672c4f86958b555f5df25efa7acb76840020005000440046002065874ef63002>
/CZE <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>
/DAN <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>
/DEU <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>
/ESP <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>
/ETI <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>
/FRA <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>
/GRE <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>
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
/HRV (Za stvaranje Adobe PDF dokumenata najpogodnijih za visokokvalitetni ispis prije tiskanja koristite ove postavke. Stvoreni PDF dokumenti mogu se otvoriti Acrobat i Adobe Reader 5.0 i kasnijim verzijama.)
/HUN <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>
/ITA <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>
/JPN <FEFF9ad854c18cea306a30d730ea30d730ec30b951fa529b7528002000410064006f0062006500200050004400460020658766f8306e4f5c6210306b4f7f75283057307e305930023053306e8a2d5b9a30674f5c62103055308c305f0020005000440046002030d530a130a430eb306f3001004100630072006f0062006100740020304a30883073002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e003000204ee5964d3067958b304f30533068304c3067304d307e305930023053306e8a2d5b9a306b306f30d530a930f330c8306e57cb30818fbc307f304c5fc59808306730593002>
/KOR <FEFFc7740020c124c815c7440020c0acc6a9d558c5ec0020ace0d488c9c80020c2dcd5d80020c778c1c4c5d00020ac00c7a50020c801d569d55c002000410064006f0062006500200050004400460020bb38c11cb97c0020c791c131d569b2c8b2e4002e0020c774b807ac8c0020c791c131b41c00200050004400460020bb38c11cb2940020004100630072006f0062006100740020bc0f002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e00300020c774c0c1c5d0c11c0020c5f40020c2180020c788c2b5b2c8b2e4002e>
/LTH <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>
/LVI <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>
/NLD (Gebruik deze instellingen om Adobe PDF-documenten te maken die zijn geoptimaliseerd voor prepress-afdrukken van hoge kwaliteit. De gemaakte PDF-documenten kunnen worden geopend met Acrobat en Adobe Reader 5.0 en hoger.)
/NOR <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>
/POL <FEFF0055007300740061007700690065006e0069006100200064006f002000740077006f0072007a0065006e0069006100200064006f006b0075006d0065006e007400f300770020005000440046002000700072007a0065007a006e00610063007a006f006e00790063006800200064006f002000770079006400720075006b00f30077002000770020007700790073006f006b00690065006a0020006a0061006b006f015b00630069002e002000200044006f006b0075006d0065006e0074007900200050004400460020006d006f017c006e00610020006f007400770069006500720061010700200077002000700072006f006700720061006d006900650020004100630072006f00620061007400200069002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e0030002000690020006e006f00770073007a0079006d002e>
/PTB <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>
/RUM <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>
/RUS <FEFF04180441043f043e043b044c04370443043904420435002004340430043d043d044b04350020043d0430044104420440043e0439043a043800200434043b044f00200441043e043704340430043d0438044f00200434043e043a0443043c0435043d0442043e0432002000410064006f006200650020005000440046002c0020043c0430043a04410438043c0430043b044c043d043e0020043f043e04340445043e0434044f04490438044500200434043b044f00200432044b0441043e043a043e043a0430044704350441044204320435043d043d043e0433043e00200434043e043f0435044704300442043d043e0433043e00200432044b0432043e04340430002e002000200421043e043704340430043d043d044b04350020005000440046002d0434043e043a0443043c0435043d0442044b0020043c043e0436043d043e0020043e0442043a0440044b043204300442044c002004410020043f043e043c043e0449044c044e0020004100630072006f00620061007400200438002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e00300020043800200431043e043b043504350020043f043e04370434043d043804450020043204350440044104380439002e>
/SKY <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>
/SLV <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>
/SUO <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>
/SVE <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>
/TUR <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>
/UKR <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>
/ENU (Use these settings to create Adobe PDF documents best suited for high-quality prepress printing. Created PDF documents can be opened with Acrobat and Adobe Reader 5.0 and later.)
>>
/Namespace [
(Adobe)
(Common)
(1.0)
]
/OtherNamespaces [
<<
/AsReaderSpreads false
/CropImagesToFrames true
/ErrorControl /WarnAndContinue
/FlattenerIgnoreSpreadOverrides false
/IncludeGuidesGrids false
/IncludeNonPrinting false
/IncludeSlug false
/Namespace [
(Adobe)
(InDesign)
(4.0)
]
/OmitPlacedBitmaps false
/OmitPlacedEPS false
/OmitPlacedPDF false
/SimulateOverprint /Legacy
>>
<<
/AddBleedMarks false
/AddColorBars false
/AddCropMarks false
/AddPageInfo false
/AddRegMarks false
/ConvertColors /ConvertToCMYK
/DestinationProfileName ()
/DestinationProfileSelector /DocumentCMYK
/Downsample16BitImages true
/FlattenerPreset <<
/PresetSelector /MediumResolution
>>
/FormElements false
/GenerateStructure false
/IncludeBookmarks false
/IncludeHyperlinks false
/IncludeInteractive false
/IncludeLayers false
/IncludeProfiles false
/MultimediaHandling /UseObjectSettings
/Namespace [
(Adobe)
(CreativeSuite)
(2.0)
]
/PDFXOutputIntentProfileSelector /DocumentCMYK
/PreserveEditing true
/UntaggedCMYKHandling /LeaveUntagged
/UntaggedRGBHandling /UseDocumentProfile
/UseDocumentBleed false
>>
]
>> setdistillerparams
<<
/HWResolution [2400 2400]
/PageSize [612.000 792.000]
>> setpagedevice
|
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-107021 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1024-1809 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-11-28T13:19:08Z |
| publishDate | 2014 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Гаценко, О.С. Засимчук, О.Е. Теселько, П.О. Стіренко, С.Г. Гордієнко, Ю.Г. 2016-10-11T11:19:18Z 2016-10-11T11:19:18Z 2014 Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів / О.С. Гаценко, О.Е. Засимчук, П.О. Теселько, С.Г. Стіренко, Ю.Г. Гордієнко // Металлофизика и новейшие технологии. — 2014. — Т. 36, № 9. — С. 1207-1224. — Бібліогр.: 36 назв. — укр. 1024-1809 PACS: 61.43.Bn, 61.72.Bb, 61.72.J-, 62.20.Fq, 62.25.Mn, 81.40.Lm, 83.50.Ha DOI: http://dx.doi.org/10.15407/mfint.36.09.1207 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/107021 Комп’ютерне моделювання процесів пластичної деформації для нанокристалів металів із ГЦК-ґратницею (Al, Cu, Pt) виконано методою молекулярної динаміки із використанням нових методик інтенсивних обчислень на основі технологій «наукового шлюзу» (Science Gateway) і WS-PGRADE/gUSE, ґрід-інфраструктур «сервісний ґрід» (Service Grid) і «настільний ґрід» (Desktop Grid). Компьютерное моделирование процессов пластической деформации для нанокристаллов металлов с ГЦК-решёткой (Al, Cu, Pt) выполнено методами молекулярной динамики с использованием новых методик интенсивных вычислений на основе технологий «научного шлюза» (Science Gateway) и WS-PGRADE/gUSE, грид-инфраструктур «сервисный грид» (Service Grid) и «настольный грид» (Desktop Grid). Computer modeling of plastic deformation of f.c.c.-metal (Al, Cu, Pt) nanocrystals is performed by the molecular dynamics method using the new techniques for high-performance computing on the basis of ‘scientific gateway’ (Science Gateway) and WS-PGRADE/gUSE technologies, ‘service grid’ and ‘desktop grid’ infrastructures. Роботу виконано в межах теми «Використання грід-технологій для дослідження динамічної поведінки металів при деформації та електронної структури металовмісних сполук» Державної цільової науково-технічної програми впровадження і застосування грід-технологій на 2009—2013 роки і при частковій підтримці проєкту EU FP7 SCI-BUS (SCIentific Gateway Based User Support) RI-283481 (http://www.sci-bus.eu) 7-ї Рамкової Програми Європейського Союзу. uk Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Металлофизика и новейшие технологии Физика прочности и пластичности Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів Компьютерное моделирование механизма возникновения локализованных синергетических дефектных субструктур при пластической деформации нанокристаллов металлов Computer Modelling of Mechanism of Formation of Localized Synergetic Defect Substructures under Plastic Deformation of Metal Nanocrystals Article published earlier |
| spellingShingle | Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів Гаценко, О.С. Засимчук, О.Е. Теселько, П.О. Стіренко, С.Г. Гордієнко, Ю.Г. Физика прочности и пластичности |
| title | Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів |
| title_alt | Компьютерное моделирование механизма возникновения локализованных синергетических дефектных субструктур при пластической деформации нанокристаллов металлов Computer Modelling of Mechanism of Formation of Localized Synergetic Defect Substructures under Plastic Deformation of Metal Nanocrystals |
| title_full | Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів |
| title_fullStr | Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів |
| title_full_unstemmed | Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів |
| title_short | Комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів |
| title_sort | комп’ютерне моделювання механізму виникнення локалізованих синергетичних дефектних субструктур при пластичній деформації нанокристалів металів |
| topic | Физика прочности и пластичности |
| topic_facet | Физика прочности и пластичности |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/107021 |
| work_keys_str_mv | AT gacenkoos kompûternemodelûvannâmehanízmuviniknennâlokalízovanihsinergetičnihdefektnihsubstrukturpriplastičníideformacíínanokristalívmetalív AT zasimčukoe kompûternemodelûvannâmehanízmuviniknennâlokalízovanihsinergetičnihdefektnihsubstrukturpriplastičníideformacíínanokristalívmetalív AT teselʹkopo kompûternemodelûvannâmehanízmuviniknennâlokalízovanihsinergetičnihdefektnihsubstrukturpriplastičníideformacíínanokristalívmetalív AT stírenkosg kompûternemodelûvannâmehanízmuviniknennâlokalízovanihsinergetičnihdefektnihsubstrukturpriplastičníideformacíínanokristalívmetalív AT gordíênkoûg kompûternemodelûvannâmehanízmuviniknennâlokalízovanihsinergetičnihdefektnihsubstrukturpriplastičníideformacíínanokristalívmetalív AT gacenkoos kompʹûternoemodelirovaniemehanizmavozniknoveniâlokalizovannyhsinergetičeskihdefektnyhsubstrukturpriplastičeskoideformaciinanokristallovmetallov AT zasimčukoe kompʹûternoemodelirovaniemehanizmavozniknoveniâlokalizovannyhsinergetičeskihdefektnyhsubstrukturpriplastičeskoideformaciinanokristallovmetallov AT teselʹkopo kompʹûternoemodelirovaniemehanizmavozniknoveniâlokalizovannyhsinergetičeskihdefektnyhsubstrukturpriplastičeskoideformaciinanokristallovmetallov AT stírenkosg kompʹûternoemodelirovaniemehanizmavozniknoveniâlokalizovannyhsinergetičeskihdefektnyhsubstrukturpriplastičeskoideformaciinanokristallovmetallov AT gordíênkoûg kompʹûternoemodelirovaniemehanizmavozniknoveniâlokalizovannyhsinergetičeskihdefektnyhsubstrukturpriplastičeskoideformaciinanokristallovmetallov AT gacenkoos computermodellingofmechanismofformationoflocalizedsynergeticdefectsubstructuresunderplasticdeformationofmetalnanocrystals AT zasimčukoe computermodellingofmechanismofformationoflocalizedsynergeticdefectsubstructuresunderplasticdeformationofmetalnanocrystals AT teselʹkopo computermodellingofmechanismofformationoflocalizedsynergeticdefectsubstructuresunderplasticdeformationofmetalnanocrystals AT stírenkosg computermodellingofmechanismofformationoflocalizedsynergeticdefectsubstructuresunderplasticdeformationofmetalnanocrystals AT gordíênkoûg computermodellingofmechanismofformationoflocalizedsynergeticdefectsubstructuresunderplasticdeformationofmetalnanocrystals |