Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции - Лизунов, В.В.; Бровчук, С.М.; Низкова, А.И.; Молодкин, В.Б.; Лизунова, С.В.; Шелудченко, Б.В.; Гранкина, А.И.; Рудницкая, И.И.; Дмитриев, С.В.; Толмачев, Н.Г.; Лехняк, Р.В.; Скапа, Л.Н.; et al. (Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2014)
В работе построены полуфеноменологические теоретические модели деформационных зависимостей (ДЗ) полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) в кристаллах с дефектами нескольких типов для достаточно высокой степени упругой деформации в различных условиях дифракции. Показана достаточная избирательность чувствительности этих ДЗ ПИИДД к тому типу дефектов, который даёт определяющий вклад в ПИИДД в выбранных условиях дифракции и интервалах изменения степени упругой деформации. Это создаёт основу для решения проблемы диагностики многопараметрических систем путём управления этой избирательностью ДЗ ПИИДД при комбинированном подходе. Приведены результаты практической реализации разработанного подхода. В роботі побудовано напівфеноменологічні теоретичні моделі деформаційних залежностей (ДЗ) повної (Бреґґової і дифузної) інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) у кристалах з дефектами декількох типів для достатньо високого ступеня пружньої деформації в різних умовах дифракції. Показано достатню вибірковість чутливости цих ДЗ ПІІДД до того типу дефектів, що дає визначальний внесок у ПІІДД в обраних умовах дифракції та інтервалах зміни ступеня пружньої деформації. Це створює основу для розв’язання проблеми діагностики багатопараметричних систем шляхом керування цією вибірковістю ДЗ ПІІДД при комбінованому підході. Наведено результати практичної реалізації розробленого підходу. In a given paper, the models of the deformation dependences (DD) of dynamical diffraction of total (Bragg and diffuse) integral intensity (DDTII) are developed for crystals with several types of defects in the case of sufficiently high degree of elastic deformation and for the different diffraction conditions. The sufficient selectivity of the DD DDTII sensitivity to that type of defects, which gives determining contribution to DDTII in the chosen diffraction conditions and the intervals of the elasticdeformation variation changes, is established. It constructs the basis for development of the diagnostics problem of multiparametric systems by means of this selectivity control of DD DDTII within the combined approach. The results of the developed practical approach are presented.