Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции

• Опубліковано в: : Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
• Дата: 2014
• Автори: Лизунов, В.В., Бровчук, С.М., Низкова, А.И., Молодкин, В.Б., Лизунова, С.В., Шелудченко, Б.В., Гранкина, А.И., Рудницкая, И.И., Дмитриев, С.В., Толмачев, Н.Г., Лехняк, Р.В., Скапа, Л.Н., Ирха, Н.П.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2014
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/107201
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции / В.В. Лизунов, С.М. Бровчук, А.И. Низкова, В.Б. Молодкин, С.В. Лизунова, Б.В. Шелудченко, А.И. Гранкина, И.И. Рудницкая, С.В. Дмитриев, Н.Г. Толмачев, Р.В. Лехняк, Л.Н. Скапа, Н.П. Ирха // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 3. — С. 565–584. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

В работе построены полуфеноменологические теоретические модели деформационных зависимостей (ДЗ) полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) в кристаллах с дефектами нескольких типов для достаточно высокой степени упругой деформации в различных условиях...