Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ
Исследованы добротности собственных колебаний аксиально-слоистой структуры, состоящей из слоя смеси портланд-цемента с песком, расположенного параллельно торцевой поверхности частично экранированного полудискового диэлектрического резонатора. Установлено, что внесение в поле резонатора параллельно е...
Збережено в:
| Дата: | 2007 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України
2007
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/10801 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ / Е.В. Кривенко, А.Я. Кириченко, В.И. Луценко // Радіофізика та електроніка. — 2007. — Т. 12, № 2. — С. 416-420. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-10801 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Кривенко, Е.В. Кириченко, А.Я. Луценко, В.И. 2010-08-06T15:55:12Z 2010-08-06T15:55:12Z 2007 Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ / Е.В. Кривенко, А.Я. Кириченко, В.И. Луценко // Радіофізика та електроніка. — 2007. — Т. 12, № 2. — С. 416-420. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 1028-821X https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/10801 621.372.413 Исследованы добротности собственных колебаний аксиально-слоистой структуры, состоящей из слоя смеси портланд-цемента с песком, расположенного параллельно торцевой поверхности частично экранированного полудискового диэлектрического резонатора. Установлено, что внесение в поле резонатора параллельно его боковой поверхности исследуемого образца приводит к изменению собственных частот резонатора и его добротности тем больше, чем выше значения действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости исследуемого материала. Исследовано влияние компонентного состава диэлектрика, прицельного расстояния на частоту и добротность резонанса. Получены зависимости изменения частоты и крутизны электронной перестройки автогенератора на основе диода Ганна, стабилизированного аксиально-слоистой структурой от компонентного состава и влажности диэлектрика. Досліджено добротності власних коливань аксиально-шаруватої структури, що складається із шару суміші портландцементу та піску, розташованого паралельно торцевій поверхні частково екранованого напівдискового діелектричного резонатора. Встановлено, що внесення в поле резонатора паралельно його бічної поверхні досліджуваного зразка приводить до зміни власних частот резонатора і його добротності тим більше, чим вище значення дійсної і уявної частин діелектричної проникності досліджуваного матеріалу. Досліджено вплив компонентного складу діелектрика, прицільної відстані на частоту і добротність резонансу. Отримано залежності зміни частоти і крутості електронної перебудови автогенератора на основі діода Ганна, стабілізованого аксиально-шаруватою структурою від компонентного складу і вологості, діелектрика. The Q-factors of characteristic oscillations of axialflaky structure that consist of dielectric layer is parallel to faceplate of partially shielded half-disk dielectric resonators are investigated. We ascertained that bringing into the resonator field parallel to its lateral face at some aiming distance of dielectric example leads to resonator eigenfrequencies and Q-factor changing the more, the higher the real and imaginary parts of investigated material permittivity. Influence of dielectric component composition, its thickness and aiming distance on resonance frequency and Q-factor is investigated. The dependences of frequency and electronic tuning steepness of self-excited oscillator on basis of Gunn diode stabilized of axially flaky structure on dielectric component composition and moisture are obtained. ru Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України Прикладная радиофизика Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ Використання методу діелектрометрії для визначення компонентного складу сумішів сипучих речовин Determination of composition blend of loose substance with use of the dielectrometric method Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ |
| spellingShingle |
Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ Кривенко, Е.В. Кириченко, А.Я. Луценко, В.И. Прикладная радиофизика |
| title_short |
Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ |
| title_full |
Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ |
| title_fullStr |
Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ |
| title_full_unstemmed |
Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ |
| title_sort |
использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ |
| author |
Кривенко, Е.В. Кириченко, А.Я. Луценко, В.И. |
| author_facet |
Кривенко, Е.В. Кириченко, А.Я. Луценко, В.И. |
| topic |
Прикладная радиофизика |
| topic_facet |
Прикладная радиофизика |
| publishDate |
2007 |
| language |
Russian |
| publisher |
Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Використання методу діелектрометрії для визначення компонентного складу сумішів сипучих речовин Determination of composition blend of loose substance with use of the dielectrometric method |
| description |
Исследованы добротности собственных колебаний аксиально-слоистой структуры, состоящей из слоя смеси портланд-цемента с песком, расположенного параллельно торцевой поверхности частично экранированного полудискового диэлектрического резонатора. Установлено, что внесение в поле резонатора параллельно его боковой поверхности исследуемого образца приводит к изменению собственных частот резонатора и его добротности тем больше, чем выше значения действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости исследуемого материала. Исследовано влияние компонентного состава диэлектрика, прицельного расстояния на частоту и добротность резонанса. Получены зависимости изменения частоты и крутизны электронной перестройки автогенератора на основе диода Ганна, стабилизированного аксиально-слоистой структурой от компонентного состава и влажности диэлектрика.
Досліджено добротності власних коливань аксиально-шаруватої структури, що складається із шару суміші портландцементу та піску, розташованого паралельно торцевій поверхні частково екранованого напівдискового діелектричного резонатора. Встановлено, що внесення в поле резонатора паралельно його бічної поверхні досліджуваного зразка приводить до зміни власних частот резонатора і його добротності тим більше, чим вище значення дійсної і уявної частин діелектричної проникності досліджуваного матеріалу. Досліджено вплив компонентного складу діелектрика, прицільної відстані на частоту і добротність резонансу. Отримано залежності зміни частоти і крутості електронної перебудови автогенератора на основі діода Ганна, стабілізованого аксиально-шаруватою структурою від компонентного складу і вологості, діелектрика.
The Q-factors of characteristic oscillations of axialflaky structure
that consist of dielectric layer is parallel to faceplate of partially
shielded half-disk dielectric resonators are investigated. We ascertained
that bringing into the resonator field parallel to its lateral
face at some aiming distance of dielectric example leads to resonator
eigenfrequencies and Q-factor changing the more, the higher
the real and imaginary parts of investigated material permittivity.
Influence of dielectric component composition, its thickness and
aiming distance on resonance frequency and Q-factor is investigated.
The dependences of frequency and electronic tuning steepness of self-excited oscillator on basis of Gunn diode stabilized of axially flaky structure on dielectric component composition and moisture are obtained.
|
| issn |
1028-821X |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/10801 |
| citation_txt |
Использование метода диэлектрометрии для определения компонентного состава смесей сыпучих веществ / Е.В. Кривенко, А.Я. Кириченко, В.И. Луценко // Радіофізика та електроніка. — 2007. — Т. 12, № 2. — С. 416-420. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT krivenkoev ispolʹzovaniemetodadiélektrometriidlâopredeleniâkomponentnogosostavasmeseisypučihveŝestv AT kiričenkoaâ ispolʹzovaniemetodadiélektrometriidlâopredeleniâkomponentnogosostavasmeseisypučihveŝestv AT lucenkovi ispolʹzovaniemetodadiélektrometriidlâopredeleniâkomponentnogosostavasmeseisypučihveŝestv AT krivenkoev vikoristannâmetodudíelektrometríídlâviznačennâkomponentnogoskladusumíšívsipučihrečovin AT kiričenkoaâ vikoristannâmetodudíelektrometríídlâviznačennâkomponentnogoskladusumíšívsipučihrečovin AT lucenkovi vikoristannâmetodudíelektrometríídlâviznačennâkomponentnogoskladusumíšívsipučihrečovin AT krivenkoev determinationofcompositionblendofloosesubstancewithuseofthedielectrometricmethod AT kiričenkoaâ determinationofcompositionblendofloosesubstancewithuseofthedielectrometricmethod AT lucenkovi determinationofcompositionblendofloosesubstancewithuseofthedielectrometricmethod |
| first_indexed |
2025-12-07T17:07:29Z |
| last_indexed |
2025-12-07T17:07:29Z |
| _version_ |
1850870070711943168 |