Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре

В двухбарьерной кремниевой n⁺⁺pnn⁺-структуре в режиме запирания nn⁺-p-перехода в предпробойной области при подсветке одиночным импульсом обнаружено явление оптической памяти, а при подаче прямого порогового тока к p-n-переходу обнаруживается электрическая полевая память. В двобар’єрній кремнієвій n⁺...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физическая инженерия поверхности
Дата:2014
Автори: Каримов, А.В., Ёдгорова, Д.М., Абдулхаев, О.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2014
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108476
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре / А.В. Каримов, Д.М. Ёдгорова, О.А. Абдулхаев // Физическая инженерия поверхности. — 2014. — Т. 12, № 3. — С. 357-359. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-108476
record_format dspace
spelling Каримов, А.В.
Ёдгорова, Д.М.
Абдулхаев, О.А.
2016-11-05T17:44:40Z
2016-11-05T17:44:40Z
2014
Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре / А.В. Каримов, Д.М. Ёдгорова, О.А. Абдулхаев // Физическая инженерия поверхности. — 2014. — Т. 12, № 3. — С. 357-359. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108476
621.383.52:535.243
В двухбарьерной кремниевой n⁺⁺pnn⁺-структуре в режиме запирания nn⁺-p-перехода в предпробойной области при подсветке одиночным импульсом обнаружено явление оптической памяти, а при подаче прямого порогового тока к p-n-переходу обнаруживается электрическая полевая память.
В двобар’єрній кремнієвій n⁺⁺pnn⁺-структурі в режимі замикання nn⁺-p-переходу в передпробійній області при підсвічуванні одиночним імпульсом виявлено явище оптичної пам’яті, а при подачі прямого порогового струму до p-n-переходу виявляється електрична польова пам’ять.
In double-barrier silicon n⁺⁺pnn⁺-structure in a reverse biasing mode of nn⁺-p-junction in pre-breakdown region at illumination by a single pulse the phenomenon of optical memory is detected, and at submission of a direct threshold current to p-n-junction the electric field memory is found out.
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре
Явище пам’яті в двобар’єрній n⁺⁺pnn⁺-структурі
Memory phenomenon in two-barrier n⁺⁺pnn⁺-structures
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре
spellingShingle Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре
Каримов, А.В.
Ёдгорова, Д.М.
Абдулхаев, О.А.
title_short Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре
title_full Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре
title_fullStr Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре
title_full_unstemmed Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре
title_sort явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре
author Каримов, А.В.
Ёдгорова, Д.М.
Абдулхаев, О.А.
author_facet Каримов, А.В.
Ёдгорова, Д.М.
Абдулхаев, О.А.
publishDate 2014
language Russian
container_title Физическая инженерия поверхности
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
format Article
title_alt Явище пам’яті в двобар’єрній n⁺⁺pnn⁺-структурі
Memory phenomenon in two-barrier n⁺⁺pnn⁺-structures
description В двухбарьерной кремниевой n⁺⁺pnn⁺-структуре в режиме запирания nn⁺-p-перехода в предпробойной области при подсветке одиночным импульсом обнаружено явление оптической памяти, а при подаче прямого порогового тока к p-n-переходу обнаруживается электрическая полевая память. В двобар’єрній кремнієвій n⁺⁺pnn⁺-структурі в режимі замикання nn⁺-p-переходу в передпробійній області при підсвічуванні одиночним імпульсом виявлено явище оптичної пам’яті, а при подачі прямого порогового струму до p-n-переходу виявляється електрична польова пам’ять. In double-barrier silicon n⁺⁺pnn⁺-structure in a reverse biasing mode of nn⁺-p-junction in pre-breakdown region at illumination by a single pulse the phenomenon of optical memory is detected, and at submission of a direct threshold current to p-n-junction the electric field memory is found out.
issn 1999-8074
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108476
citation_txt Явление памяти в двухбарьерной n⁺⁺pnn⁺-структуре / А.В. Каримов, Д.М. Ёдгорова, О.А. Абдулхаев // Физическая инженерия поверхности. — 2014. — Т. 12, № 3. — С. 357-359. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT karimovav âvleniepamâtivdvuhbarʹernoinpnnstrukture
AT edgorovadm âvleniepamâtivdvuhbarʹernoinpnnstrukture
AT abdulhaevoa âvleniepamâtivdvuhbarʹernoinpnnstrukture
AT karimovav âviŝepamâtívdvobarêrníinpnnstrukturí
AT edgorovadm âviŝepamâtívdvobarêrníinpnnstrukturí
AT abdulhaevoa âviŝepamâtívdvobarêrníinpnnstrukturí
AT karimovav memoryphenomenonintwobarriernpnnstructures
AT edgorovadm memoryphenomenonintwobarriernpnnstructures
AT abdulhaevoa memoryphenomenonintwobarriernpnnstructures
first_indexed 2025-12-07T13:39:22Z
last_indexed 2025-12-07T13:39:22Z
_version_ 1850856977431789569