Приповерхневі шари і товщинні залежності термоелектричних властивостей парофазних конденсатів LAST на ситалі - Фреїк, Д.М.; Дзундза, Б.С.; Костюк, О.Б.; Межиловська, Л.Й.; Тринога, Ю.Т. (Физическая инженерия поверхности, 2015)
Досліджено вплив товщини тонких плівок на основі сполук Pb18Ag2–xSbxTe20 (x = 0,5; 1,5), осаджених на ситалових підкладках на їх термоелектричні властивості. У рамках двошарової моделі Петріца визначено електричні параметри приповерхневих шарів. Отримані результати інтерпретуються процесами адсорбції кисню на поверхні та його дифузії в глиб конденсату. Встановлено, що домінуючу роль відіграє розсіювання носіїв струму на поверхні, а не на міжзеренних межах нанокристалітів, розміри яких збільшуються із товщиною парофазних структур. Исследовано влияние толщины тонких пленок на основе соединений Pb18Ag2–xSbxTe20 (x = 0,5; 1,5), осажденных на ситалових подложках на их термоэлектрические свойства. В рамках двухслойной модели Петрица определено электрические параметры поверхностных слоев. Полученные результаты интерпретируются процессами адсорбции кислорода на поверхности и его диффузии вглубь конденсата. Установлено, что доминирующую роль играет рассеяние носителей тока на поверхности, а не на межзеренных границах нанокристаллитов, размеры которых увеличиваются с толщиной парофазных структур. The influence of the thickness of thin films based compounds Pb18Ag2–xSbxTe20 (x = 0,5; 1,5), deposited on sital substrate for their thermoelectric properties. Electrical parameters of surface layers are defined by Petrits two-layer model. The results are interpreted as adsorption of oxygen on the surface and its diffusion into the interior of condensate. It is established that the dominant role playing scattering of carrier on the surface but not on the intergrain boundaries of nanocrystals whose size increases with the thickness of the vapor-phase structures.