СВЧ высоколокальный сканирующий разогрев в технологии микро- и наноэлектроники
В статье представлены результаты численного исследования высоколокального СВЧ разогрева тонких пленок полупроводников и диэлектриков на высокоомной подложке кремния. Сравнение с ранее опубликованными нами результатами исследования разогрева кремниевых подложек показывает, что в связи с высокой тепло...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Дата: | 2015 |
| Автори: | Гордиенко, Ю.Е., Пятайкина, М.И., Полищук, А.В. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2015
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108719 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | СВЧ высоколокальный сканирующий разогрев в технологии микро- и наноэлектроники / Ю.Е. Гордиенко, М.И. Пятайкина, А.В. Полищук // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 2. — С. 209-217. — Бібліогр.: 19 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
за авторством: Васькевич, В.В., та інші
Опубліковано: (2014) -
Сканирующий ионный гелиевый микроскоп
за авторством: Петров, Ю.В.
Опубліковано: (2012) -
Разогрев электронов и дырок в несимметричном p-n-переходе, находящемся в СВЧ поле
за авторством: Дадамирзаев, М.Г.
Опубліковано: (2013) -
Модель линии передачи для наноэлектроники
за авторством: Нелин, Е.А.
Опубліковано: (2009) -
Сканирующий эллипсометр на базе гониометра с автоколлимационной трубой
за авторством: Свиридов, В.В., та інші
Опубліковано: (2006)