Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке

Приводятся результаты in situ электронно-микроскопического исследования плавления изолированных двухфазных частиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке. Наноразмерные частицы Au-Ge формировались путем плавления и последующей кристаллизации двухслойных пленок Au/Ge с эвтектическим соотношением масс к...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физическая инженерия поверхности
Date:2015
Main Author: Крышталь, А.П.
Format: Article
Language:Russian
Published: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2015
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108756
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке / А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 3. — С. 292-297. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862721229682638848
author Крышталь, А.П.
author_facet Крышталь, А.П.
citation_txt Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке / А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 3. — С. 292-297. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Физическая инженерия поверхности
description Приводятся результаты in situ электронно-микроскопического исследования плавления изолированных двухфазных частиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке. Наноразмерные частицы Au-Ge формировались путем плавления и последующей кристаллизации двухслойных пленок Au/Ge с эвтектическим соотношением масс компонентов. Показано, что температура плавления двухфазной частицы Au-Ge размером ≈20 нм составляет 301 ± 15 °С, а частицы размером ≈13 нм — 211 ± 15 °С, что существенно ниже эвтектической температуры для макроскопической системы (361 °С). Наводяться результати in situ електронно-мікроскопічного дослідження плавлення ізольованих двофазних частинок Au-Ge на аморфній вуглецевій підкладці. Нанорозмірні частинки Au-Ge формувалися шляхом плавлення і наступної кристалізації двошарових плівок Au/Ge з евтектичним співвідношенням мас компонентів. Показано, що температура плавлення двофазної частинки Au-Ge розміром ≈20 нм становить 301 ± 15 °С, а частинки розміром ≈13 нм — 211 ± 15 °С, що істотно нижче евтектичної температури для макроскопічної системи (361 °С). The results of in situ electron microscopy studies of melting of isolated Au-Ge two-phase particles on an amorphous carbon support have been reported. Nanosized Au-Ge particles have been produced by melting and subsequent crystallization of Au/Ge layered films with eutectic mass ratio of the components. It has been shown that the melting temperature of Au-Ge two-phase particle of ≈20 nm in size was 301 ± 15 °С, and for particle of ≈13 nm in size it was 211 ± 15 °С, which are significantly below the eutectic temperature for macroscopic system (361 °С)
first_indexed 2025-12-07T18:30:16Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-108756
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1999-8074
language Russian
last_indexed 2025-12-07T18:30:16Z
publishDate 2015
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
record_format dspace
spelling Крышталь, А.П.
2016-11-15T14:30:37Z
2016-11-15T14:30:37Z
2015
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке / А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 3. — С. 292-297. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108756
538.975
Приводятся результаты in situ электронно-микроскопического исследования плавления изолированных двухфазных частиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке. Наноразмерные частицы Au-Ge формировались путем плавления и последующей кристаллизации двухслойных пленок Au/Ge с эвтектическим соотношением масс компонентов. Показано, что температура плавления двухфазной частицы Au-Ge размером ≈20 нм составляет 301 ± 15 °С, а частицы размером ≈13 нм — 211 ± 15 °С, что существенно ниже эвтектической температуры для макроскопической системы (361 °С).
Наводяться результати in situ електронно-мікроскопічного дослідження плавлення ізольованих двофазних частинок Au-Ge на аморфній вуглецевій підкладці. Нанорозмірні частинки Au-Ge формувалися шляхом плавлення і наступної кристалізації двошарових плівок Au/Ge з евтектичним співвідношенням мас компонентів. Показано, що температура плавлення двофазної частинки Au-Ge розміром ≈20 нм становить 301 ± 15 °С, а частинки розміром ≈13 нм — 211 ± 15 °С, що істотно нижче евтектичної температури для макроскопічної системи (361 °С).
The results of in situ electron microscopy studies of melting of isolated Au-Ge two-phase particles on an amorphous carbon support have been reported. Nanosized Au-Ge particles have been produced by melting and subsequent crystallization of Au/Ge layered films with eutectic mass ratio of the components. It has been shown that the melting temperature of Au-Ge two-phase particle of ≈20 nm in size was 301 ± 15 °С, and for particle of ≈13 nm in size it was 211 ± 15 °С, which are significantly below the eutectic temperature for macroscopic system (361 °С)
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке
Визначення евтектичної температури ізольованих двофазних наночастинок Au-Ge на аморфній вуглецевій підкладці
Determination of eutectic temperature of Au-Ge isolated two-phase nanoparticles on amorphous carbon substrate
Article
published earlier
spellingShingle Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке
Крышталь, А.П.
title Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке
title_alt Визначення евтектичної температури ізольованих двофазних наночастинок Au-Ge на аморфній вуглецевій підкладці
Determination of eutectic temperature of Au-Ge isolated two-phase nanoparticles on amorphous carbon substrate
title_full Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке
title_fullStr Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке
title_full_unstemmed Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке
title_short Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке
title_sort определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц au-ge на аморфной углеродной подложке
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108756
work_keys_str_mv AT kryštalʹap opredelenieévtektičeskoitemperaturyizolirovannyhdvuhfaznyhnanočasticaugenaamorfnoiuglerodnoipodložke
AT kryštalʹap viznačennâevtektičnoítemperaturiízolʹovanihdvofaznihnanočastinokaugenaamorfníivuglecevíipídkladcí
AT kryštalʹap determinationofeutectictemperatureofaugeisolatedtwophasenanoparticlesonamorphouscarbonsubstrate