Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке
Приводятся результаты in situ электронно-микроскопического исследования плавления изолированных двухфазных частиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке. Наноразмерные частицы Au-Ge формировались путем плавления и последующей кристаллизации двухслойных пленок Au/Ge с эвтектическим соотношением масс к...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Datum: | 2015 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2015
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108756 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке / А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 3. — С. 292-297. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-108756 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Крышталь, А.П. 2016-11-15T14:30:37Z 2016-11-15T14:30:37Z 2015 Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке / А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 3. — С. 292-297. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. 1999-8074 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108756 538.975 Приводятся результаты in situ электронно-микроскопического исследования плавления изолированных двухфазных частиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке. Наноразмерные частицы Au-Ge формировались путем плавления и последующей кристаллизации двухслойных пленок Au/Ge с эвтектическим соотношением масс компонентов. Показано, что температура плавления двухфазной частицы Au-Ge размером ≈20 нм составляет 301 ± 15 °С, а частицы размером ≈13 нм — 211 ± 15 °С, что существенно ниже эвтектической температуры для макроскопической системы (361 °С). Наводяться результати in situ електронно-мікроскопічного дослідження плавлення ізольованих двофазних частинок Au-Ge на аморфній вуглецевій підкладці. Нанорозмірні частинки Au-Ge формувалися шляхом плавлення і наступної кристалізації двошарових плівок Au/Ge з евтектичним співвідношенням мас компонентів. Показано, що температура плавлення двофазної частинки Au-Ge розміром ≈20 нм становить 301 ± 15 °С, а частинки розміром ≈13 нм — 211 ± 15 °С, що істотно нижче евтектичної температури для макроскопічної системи (361 °С). The results of in situ electron microscopy studies of melting of isolated Au-Ge two-phase particles on an amorphous carbon support have been reported. Nanosized Au-Ge particles have been produced by melting and subsequent crystallization of Au/Ge layered films with eutectic mass ratio of the components. It has been shown that the melting temperature of Au-Ge two-phase particle of ≈20 nm in size was 301 ± 15 °С, and for particle of ≈13 nm in size it was 211 ± 15 °С, which are significantly below the eutectic temperature for macroscopic system (361 °С) ru Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України Физическая инженерия поверхности Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке Визначення евтектичної температури ізольованих двофазних наночастинок Au-Ge на аморфній вуглецевій підкладці Determination of eutectic temperature of Au-Ge isolated two-phase nanoparticles on amorphous carbon substrate Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке |
| spellingShingle |
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке Крышталь, А.П. |
| title_short |
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке |
| title_full |
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке |
| title_fullStr |
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке |
| title_full_unstemmed |
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке |
| title_sort |
определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц au-ge на аморфной углеродной подложке |
| author |
Крышталь, А.П. |
| author_facet |
Крышталь, А.П. |
| publishDate |
2015 |
| language |
Russian |
| container_title |
Физическая инженерия поверхности |
| publisher |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Визначення евтектичної температури ізольованих двофазних наночастинок Au-Ge на аморфній вуглецевій підкладці Determination of eutectic temperature of Au-Ge isolated two-phase nanoparticles on amorphous carbon substrate |
| description |
Приводятся результаты in situ электронно-микроскопического исследования плавления изолированных двухфазных частиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке. Наноразмерные частицы Au-Ge формировались путем плавления и последующей кристаллизации двухслойных пленок Au/Ge с эвтектическим соотношением масс компонентов. Показано, что температура плавления двухфазной частицы Au-Ge размером ≈20 нм составляет 301 ± 15 °С, а частицы размером ≈13 нм — 211 ± 15 °С, что существенно ниже эвтектической температуры для макроскопической системы (361 °С).
Наводяться результати in situ електронно-мікроскопічного дослідження плавлення ізольованих двофазних частинок Au-Ge на аморфній вуглецевій підкладці. Нанорозмірні частинки Au-Ge формувалися шляхом плавлення і наступної кристалізації двошарових плівок Au/Ge з евтектичним співвідношенням мас компонентів. Показано, що температура плавлення двофазної частинки Au-Ge розміром ≈20 нм становить 301 ± 15 °С, а частинки розміром ≈13 нм — 211 ± 15 °С, що істотно нижче евтектичної температури для макроскопічної системи (361 °С).
The results of in situ electron microscopy studies of melting of isolated Au-Ge two-phase particles on an amorphous carbon support have been reported. Nanosized Au-Ge particles have been produced by melting and subsequent crystallization of Au/Ge layered films with eutectic mass ratio of the components. It has been shown that the melting temperature of Au-Ge two-phase particle of ≈20 nm in size was 301 ± 15 °С, and for particle of ≈13 nm in size it was 211 ± 15 °С, which are significantly below the eutectic temperature for macroscopic system (361 °С)
|
| issn |
1999-8074 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108756 |
| citation_txt |
Определение эвтектической температуры изолированных двухфазных наночастиц Au-Ge на аморфной углеродной подложке / А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 3. — С. 292-297. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT kryštalʹap opredelenieévtektičeskoitemperaturyizolirovannyhdvuhfaznyhnanočasticaugenaamorfnoiuglerodnoipodložke AT kryštalʹap viznačennâevtektičnoítemperaturiízolʹovanihdvofaznihnanočastinokaugenaamorfníivuglecevíipídkladcí AT kryštalʹap determinationofeutectictemperatureofaugeisolatedtwophasenanoparticlesonamorphouscarbonsubstrate |
| first_indexed |
2025-12-07T18:30:16Z |
| last_indexed |
2025-12-07T18:30:16Z |
| _version_ |
1850875278711062528 |