Акустична емісія напівпровідників та діодних структур (огляд)

Узагальнено матеріал з дослідження явища акустичної емісії у напівпровідниках та діелектриках при дії зовнішніх полів різної фізичної природи. Особливу увагу приділено вивченню процесів дефектоутворення та акустичної емісії у напівпровідникових приладах та світловипромінюючих структурах на основі сп...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Datum:2014
Hauptverfasser: Власенко, О.І., Киселюк, М.П., Велещук, В.П., Власенко, З.К., Ляшенко, І.О., Ляшенко, О.В.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2014
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/108919
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Акустична емісія напівпровідників та діодних структур (огляд) / О.І. Власенко, М.П. Киселюк, В.П. Велещук, З.К. Власенко, І.О. Ляшенко, О.В. Ляшенко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2014. — Вип. 49. — С. 5-20. — Бібліогр.: 130 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Узагальнено матеріал з дослідження явища акустичної емісії у напівпровідниках та діелектриках при дії зовнішніх полів різної фізичної природи. Особливу увагу приділено вивченню процесів дефектоутворення та акустичної емісії у напівпровідникових приладах та світловипромінюючих структурах на основі сполук А₃В₅, створенню акустоемісійного експрес-методу контролю процесів деградації та релаксації у світловипромінюючих структурах у режимі реального часу. Material on research of the acoustic emission phenomenon in semiconductors and dielectrics under the action of the external fields of different physical nature has been generalized. Particular attention has been given to the investigation of processes of defect formation and acoustic emission in semiconductor devices and light-emitting structures based on the A₃B₅ compounds, creation of acoustic emission express-method to control degradation and relaxation processes in the light-emitting structures in real time.
ISSN:0233-7577