Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів

В Києві збудована високотехнологічна установка – скануючий ядерний мікрозонд (ЯМЗ) з трьома ядерно-фізичними методиками. Дві з цих методик застосовуються для мікроаналітичних досліджень хімічного складу зразка, а третя – дозволяє виконувати його прецизійне програмоване опромінення (ППО) мікропучком...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2012
Автори: Лебедь, С.О., Кухаренко, О.Г., Толмачов, М.Г., Третяк, О.В.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2012
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/109031
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів / С.О. Лебедь, О.Г. Кухаренко, М.Г. Толмачов, О.В. Третяк // Вопросы атомной науки и техники. — 2012. — № 5. — С. 131-138. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862528745750921216
author Лебедь, С.О.
Кухаренко, О.Г.
Толмачов, М.Г.
Третяк, О.В.
author_facet Лебедь, С.О.
Кухаренко, О.Г.
Толмачов, М.Г.
Третяк, О.В.
citation_txt Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів / С.О. Лебедь, О.Г. Кухаренко, М.Г. Толмачов, О.В. Третяк // Вопросы атомной науки и техники. — 2012. — № 5. — С. 131-138. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Вопросы атомной науки и техники
description В Києві збудована високотехнологічна установка – скануючий ядерний мікрозонд (ЯМЗ) з трьома ядерно-фізичними методиками. Дві з цих методик застосовуються для мікроаналітичних досліджень хімічного складу зразка, а третя – дозволяє виконувати його прецизійне програмоване опромінення (ППО) мікропучком протонів (або альфа-частинок) з енергією 1…2 МеВ. У роботі надана інформація щодо головних особливостей цих методик і техніки експерименту. Наведено приклад комбінованого застосування трьох методик для виконання послідовно (або одночасно) керованої модифікації напівпровідникового зразка радіаційними дефектами і мікроаналізу його складу. Показано, що інсталяція методики ППО на Київському ЯМЗ відкриває додаткову можливість щодо виготовлення 3-D мікроструктур за новою безмасковою технологією. В Киеве построена высокотехнологичная установка – сканирующий ядерний микрозонд (ЯМЗ) с тремя ядерно-физическими методиками. Две из этих методик используются для микроаналитических исследований химического состава образца, а третья позволяет выполнять его прецизионное программированное облучение (ППО) микропучком протонов (или альфа-частиц) с энергией 1…2 МэВ. В статье содержится информация об основных особенностях этих методик и о технике эксперимента. Представлен пример комбинированного использования трех методик с целью выполнить последовательно (или одновременно) контролируемую модификацию полупроводникового образца радиационными дефектами и микроанализ его состава. Показано, что ввод в эксплуатацию методики ППО на Киевском ЯМЗ открывает дополнительную возможность для изготовления 3-D микроструктур по новой безмасочной технологии. The scanning nuclear microprobe (NMP) with three nuclear physic techniques is constructed in Kyiv. The NMP is high technology set up. Two of the above mentioned techniques are used for micro analytical studies of chemical element contamination in the specimen. The third technique allows performing the precise programming irradiation (PPI) of the sample by 1…2 MeV protons (or alpha particles). The peculiarities and hardware of the techniques are described in this paper. There is an example of combined application of third techniques for performing of controlled modification of semiconductor specimen by radiation-induced defects and micro analysis of its composition, sequentially or simultaneously. It is presented that PPI technique of the Kyiv NMP opens an additional possibility for mask less fabrication of 3-D microstructures using new technology.
first_indexed 2025-11-24T02:17:35Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-109031
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1562-6016
language Russian
last_indexed 2025-11-24T02:17:35Z
publishDate 2012
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
record_format dspace
spelling Лебедь, С.О.
Кухаренко, О.Г.
Толмачов, М.Г.
Третяк, О.В.
2016-11-18T21:25:59Z
2016-11-18T21:25:59Z
2012
Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів / С.О. Лебедь, О.Г. Кухаренко, М.Г. Толмачов, О.В. Третяк // Вопросы атомной науки и техники. — 2012. — № 5. — С. 131-138. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
1562-6016
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/109031
621.384; 537.534.2
В Києві збудована високотехнологічна установка – скануючий ядерний мікрозонд (ЯМЗ) з трьома ядерно-фізичними методиками. Дві з цих методик застосовуються для мікроаналітичних досліджень хімічного складу зразка, а третя – дозволяє виконувати його прецизійне програмоване опромінення (ППО) мікропучком протонів (або альфа-частинок) з енергією 1…2 МеВ. У роботі надана інформація щодо головних особливостей цих методик і техніки експерименту. Наведено приклад комбінованого застосування трьох методик для виконання послідовно (або одночасно) керованої модифікації напівпровідникового зразка радіаційними дефектами і мікроаналізу його складу. Показано, що інсталяція методики ППО на Київському ЯМЗ відкриває додаткову можливість щодо виготовлення 3-D мікроструктур за новою безмасковою технологією.
В Киеве построена высокотехнологичная установка – сканирующий ядерний микрозонд (ЯМЗ) с тремя ядерно-физическими методиками. Две из этих методик используются для микроаналитических исследований химического состава образца, а третья позволяет выполнять его прецизионное программированное облучение (ППО) микропучком протонов (или альфа-частиц) с энергией 1…2 МэВ. В статье содержится информация об основных особенностях этих методик и о технике эксперимента. Представлен пример комбинированного использования трех методик с целью выполнить последовательно (или одновременно) контролируемую модификацию полупроводникового образца радиационными дефектами и микроанализ его состава. Показано, что ввод в эксплуатацию методики ППО на Киевском ЯМЗ открывает дополнительную возможность для изготовления 3-D микроструктур по новой безмасочной технологии.
The scanning nuclear microprobe (NMP) with three nuclear physic techniques is constructed in Kyiv. The NMP is high technology set up. Two of the above mentioned techniques are used for micro analytical studies of chemical element contamination in the specimen. The third technique allows performing the precise programming irradiation (PPI) of the sample by 1…2 MeV protons (or alpha particles). The peculiarities and hardware of the techniques are described in this paper. There is an example of combined application of third techniques for performing of controlled modification of semiconductor specimen by radiation-induced defects and micro analysis of its composition, sequentially or simultaneously. It is presented that PPI technique of the Kyiv NMP opens an additional possibility for mask less fabrication of 3-D microstructures using new technology.
Автори висловлюють вдячність доктору
 Я. Лєккі з Інституту ядерної фізики (м. Краків,
 Польща) за надану допомогу при виконанні PIXE
 мікроаналітичних досліджень.
ru
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Диагностика и методы исследований
Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів
Киевский сканирующий ядерный микрозонд с методикой прецизионного программированного облучения образца микропучком ионов
Kyiv scanning nuclear microprobe with pricise programing irradiation technique of sample by ion microbeam
Article
published earlier
spellingShingle Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів
Лебедь, С.О.
Кухаренко, О.Г.
Толмачов, М.Г.
Третяк, О.В.
Диагностика и методы исследований
title Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів
title_alt Киевский сканирующий ядерный микрозонд с методикой прецизионного программированного облучения образца микропучком ионов
Kyiv scanning nuclear microprobe with pricise programing irradiation technique of sample by ion microbeam
title_full Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів
title_fullStr Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів
title_full_unstemmed Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів
title_short Київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів
title_sort київський скануючий ядерний мікрозонд з методикою прецизійного програмованого опромінення зразка мікропучком іонів
topic Диагностика и методы исследований
topic_facet Диагностика и методы исследований
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/109031
work_keys_str_mv AT lebedʹso kiívsʹkiiskanuûčiiâderniimíkrozondzmetodikoûprecizíinogoprogramovanogoopromínennâzrazkamíkropučkomíonív
AT kuharenkoog kiívsʹkiiskanuûčiiâderniimíkrozondzmetodikoûprecizíinogoprogramovanogoopromínennâzrazkamíkropučkomíonív
AT tolmačovmg kiívsʹkiiskanuûčiiâderniimíkrozondzmetodikoûprecizíinogoprogramovanogoopromínennâzrazkamíkropučkomíonív
AT tretâkov kiívsʹkiiskanuûčiiâderniimíkrozondzmetodikoûprecizíinogoprogramovanogoopromínennâzrazkamíkropučkomíonív
AT lebedʹso kievskiiskaniruûŝiiâdernyimikrozondsmetodikoiprecizionnogoprogrammirovannogooblučeniâobrazcamikropučkomionov
AT kuharenkoog kievskiiskaniruûŝiiâdernyimikrozondsmetodikoiprecizionnogoprogrammirovannogooblučeniâobrazcamikropučkomionov
AT tolmačovmg kievskiiskaniruûŝiiâdernyimikrozondsmetodikoiprecizionnogoprogrammirovannogooblučeniâobrazcamikropučkomionov
AT tretâkov kievskiiskaniruûŝiiâdernyimikrozondsmetodikoiprecizionnogoprogrammirovannogooblučeniâobrazcamikropučkomionov
AT lebedʹso kyivscanningnuclearmicroprobewithpriciseprogramingirradiationtechniqueofsamplebyionmicrobeam
AT kuharenkoog kyivscanningnuclearmicroprobewithpriciseprogramingirradiationtechniqueofsamplebyionmicrobeam
AT tolmačovmg kyivscanningnuclearmicroprobewithpriciseprogramingirradiationtechniqueofsamplebyionmicrobeam
AT tretâkov kyivscanningnuclearmicroprobewithpriciseprogramingirradiationtechniqueofsamplebyionmicrobeam