Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing

It is shown, that in electromagnetic plasma lenses moment aberrations obey the conservation law of the moment of the ion generalized momentum; they disappear when an ion source is placed in a zero magnetic field. Geometrical aberrations can be removed by choice of the optimal electric field intensit...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Вопросы атомной науки и техники
Datum:2003
Hauptverfasser: Butenko, V.I., Ivanov, B.I.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2003
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110539
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing / V.I. Butenko, B.I. Ivanov // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 1. — С. 121-124. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862600975656681472
author Butenko, V.I.
Ivanov, B.I.
author_facet Butenko, V.I.
Ivanov, B.I.
citation_txt Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing / V.I. Butenko, B.I. Ivanov // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 1. — С. 121-124. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Вопросы атомной науки и техники
description It is shown, that in electromagnetic plasma lenses moment aberrations obey the conservation law of the moment of the ion generalized momentum; they disappear when an ion source is placed in a zero magnetic field. Geometrical aberrations can be removed by choice of the optimal electric field intensity distribution along the radius that have been calculated. As a result, the ion current density and beam compression can achieve in the focus a value up to 10³ A/cm², and 10⁵, accordingly. Then influence of discrete distribution of the external (boundary) electrical potential upon ion focusing was studied, and an example of two-lens achromatic system have been investigated as well. Досліджується плазмова лінза Морозова, у котрої магнітні поверхні є еквіпотенціалями електричного поля. Магнітне поле створюється центральним струмовим витком і двома бічними витками, включеними назустріч центральному. У роботі приведені результати комп'ютерного моделювання фокусування іонів з урахуванням їх поздовжнього, радіального й азимутального руху. Розглянуто засоби усунення моментних, геометричних і хроматичних аберацій. Проводиться оптимізація магнітного й електричного полів по величині і розподілу в просторі. Промодельоване вплив дискретного розподілу потенціалу на фокусування іонів і розглянуті пов'язані з цим аберації. Розглянуто комп'ютерну модель двухлінзової ахроматичної системи. Исследуется плазменная линза Морозова, в которой магнитные поверхности являются эквипотенциалями электрического поля. Магнитное поле создается центральным токовым витком и двумя боковыми витками, включенными навстречу центральному. В работе приведены результаты компьютерного моделирования фокусировки ионов с учетом их продольного, радиального и азимутального движения. Рассмотрены способы устранения моментных, геометрических и хроматических аберраций. Проводится оптимизация магнитного и электрического полей по величине и распределению в пространстве. Промоделировано влияние дискретного распределения потенциала на фокусировку ионов и рассмотрены связанные с этим аберрации. Рассмотрена компьютерная модель двухлинзовой ахроматической системы.
first_indexed 2025-11-28T01:08:27Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-110539
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1562-6016
language English
last_indexed 2025-11-28T01:08:27Z
publishDate 2003
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
record_format dspace
spelling Butenko, V.I.
Ivanov, B.I.
2017-01-04T18:48:13Z
2017-01-04T18:48:13Z
2003
Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing / V.I. Butenko, B.I. Ivanov // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 1. — С. 121-124. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 52.40.Mj
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110539
It is shown, that in electromagnetic plasma lenses moment aberrations obey the conservation law of the moment of the ion generalized momentum; they disappear when an ion source is placed in a zero magnetic field. Geometrical aberrations can be removed by choice of the optimal electric field intensity distribution along the radius that have been calculated. As a result, the ion current density and beam compression can achieve in the focus a value up to 10³ A/cm², and 10⁵, accordingly. Then influence of discrete distribution of the external (boundary) electrical potential upon ion focusing was studied, and an example of two-lens achromatic system have been investigated as well.
Досліджується плазмова лінза Морозова, у котрої магнітні поверхні є еквіпотенціалями електричного поля. Магнітне поле створюється центральним струмовим витком і двома бічними витками, включеними назустріч центральному. У роботі приведені результати комп'ютерного моделювання фокусування іонів з урахуванням їх поздовжнього, радіального й азимутального руху. Розглянуто засоби усунення моментних, геометричних і хроматичних аберацій. Проводиться оптимізація магнітного й електричного полів по величині і розподілу в просторі. Промодельоване вплив дискретного розподілу потенціалу на фокусування іонів і розглянуті пов'язані з цим аберації. Розглянуто комп'ютерну модель двухлінзової ахроматичної системи.
Исследуется плазменная линза Морозова, в которой магнитные поверхности являются эквипотенциалями электрического поля. Магнитное поле создается центральным токовым витком и двумя боковыми витками, включенными навстречу центральному. В работе приведены результаты компьютерного моделирования фокусировки ионов с учетом их продольного, радиального и азимутального движения. Рассмотрены способы устранения моментных, геометрических и хроматических аберраций. Проводится оптимизация магнитного и электрического полей по величине и распределению в пространстве. Промоделировано влияние дискретного распределения потенциала на фокусировку ионов и рассмотрены связанные с этим аберрации. Рассмотрена компьютерная модель двухлинзовой ахроматической системы.
The authors would like to thank A.A. Goncharov and I.M. Protsenko for consultations on their lenses
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Plasma electronics
Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
Аберації у електромагнітній плазмовій лінзі, запропонованої для фокусування інтенсивних широкоапертурних іонних пучків
Аберрации в электромагнитной плазменной линзе, предложенной для фокусировки интенсивных широкоапертурных ионных пучков
Article
published earlier
spellingShingle Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
Butenko, V.I.
Ivanov, B.I.
Plasma electronics
title Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_alt Аберації у електромагнітній плазмовій лінзі, запропонованої для фокусування інтенсивних широкоапертурних іонних пучків
Аберрации в электромагнитной плазменной линзе, предложенной для фокусировки интенсивных широкоапертурных ионных пучков
title_full Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_fullStr Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_full_unstemmed Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_short Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_sort aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
topic Plasma electronics
topic_facet Plasma electronics
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110539
work_keys_str_mv AT butenkovi aberrationsinelectromagneticplasmalensesproposedforintenselargeapertureionbeamfocusing
AT ivanovbi aberrationsinelectromagneticplasmalensesproposedforintenselargeapertureionbeamfocusing
AT butenkovi aberacííuelektromagnítníiplazmovíilínzízaproponovanoídlâfokusuvannâíntensivnihširokoaperturnihíonnihpučkív
AT ivanovbi aberacííuelektromagnítníiplazmovíilínzízaproponovanoídlâfokusuvannâíntensivnihširokoaperturnihíonnihpučkív
AT butenkovi aberraciivélektromagnitnoiplazmennoilinzepredložennoidlâfokusirovkiintensivnyhširokoaperturnyhionnyhpučkov
AT ivanovbi aberraciivélektromagnitnoiplazmennoilinzepredložennoidlâfokusirovkiintensivnyhširokoaperturnyhionnyhpučkov