Break-down of the magnetically insulated diode

In the present work the comparative analysis of computer simulation results and experimental data for “Radical” ion source is carried out. The break-down curves are presented for different boundary conditions, such as: cathode-sheath-anode, plasma-sheath-anode, ion-beam plasma-sheath-anode. The infl...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2007
Автори: Zagrebelnyy, I.A., Zykov, A.V., Glaznev, M.V.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2007
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110579
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Break-down of the magnetically insulated diode / I.A. Zagrebelnyy, A.V. Zykov, M.V. Glaznev // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:In the present work the comparative analysis of computer simulation results and experimental data for “Radical” ion source is carried out. The break-down curves are presented for different boundary conditions, such as: cathode-sheath-anode, plasma-sheath-anode, ion-beam plasma-sheath-anode. The influence of thermo-electron emission on the discharge characteristic was also investigated. Представлено порівняльний аналіз чисельних розрахунків й експериментальних даних для іонного джерела іонів “Радикал”. Розрядні криві представлені для різних типів граничних умов таких як: катод-шар-анод, плазма-шар-анод, іонно-пучкова плазма-шар-анод. Також досліджено вплив термоелектронної емісії на розрядні характеристики. Представлен сравнительный анализ численных расчетов и экспериментальных данных для ионного источника ионов “Радикал”. Разрядные кривые представлены для различных типов граничных условий таких как: катод-слой-анод, плазма-слой-анод, ионно-пучковая плазма-слой-анод. Также исследовано влияние термоэлектронной эмиссии на разрядные характеристики
ISSN:1562-6016