Break-down of the magnetically insulated diode
In the present work the comparative analysis of computer simulation results and experimental data for “Radical” ion source is carried out. The break-down curves are presented for different boundary conditions, such as: cathode-sheath-anode, plasma-sheath-anode, ion-beam plasma-sheath-anode. The infl...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2007 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2007
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110579 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Break-down of the magnetically insulated diode / I.A. Zagrebelnyy, A.V. Zykov, M.V. Glaznev // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-110579 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Zagrebelnyy, I.A. Zykov, A.V. Glaznev, M.V. 2017-01-04T20:06:15Z 2017-01-04T20:06:15Z 2007 Break-down of the magnetically insulated diode / I.A. Zagrebelnyy, A.V. Zykov, M.V. Glaznev // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 52.77.-j https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110579 In the present work the comparative analysis of computer simulation results and experimental data for “Radical” ion source is carried out. The break-down curves are presented for different boundary conditions, such as: cathode-sheath-anode, plasma-sheath-anode, ion-beam plasma-sheath-anode. The influence of thermo-electron emission on the discharge characteristic was also investigated. Представлено порівняльний аналіз чисельних розрахунків й експериментальних даних для іонного джерела іонів “Радикал”. Розрядні криві представлені для різних типів граничних умов таких як: катод-шар-анод, плазма-шар-анод, іонно-пучкова плазма-шар-анод. Також досліджено вплив термоелектронної емісії на розрядні характеристики. Представлен сравнительный анализ численных расчетов и экспериментальных данных для ионного источника ионов “Радикал”. Разрядные кривые представлены для различных типов граничных условий таких как: катод-слой-анод, плазма-слой-анод, ионно-пучковая плазма-слой-анод. Также исследовано влияние термоэлектронной эмиссии на разрядные характеристики en Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Low temperature plasma and plasma technologies Break-down of the magnetically insulated diode Пробій магнітоізольованого діода Пробой магнитоизолированного диода Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Break-down of the magnetically insulated diode |
| spellingShingle |
Break-down of the magnetically insulated diode Zagrebelnyy, I.A. Zykov, A.V. Glaznev, M.V. Low temperature plasma and plasma technologies |
| title_short |
Break-down of the magnetically insulated diode |
| title_full |
Break-down of the magnetically insulated diode |
| title_fullStr |
Break-down of the magnetically insulated diode |
| title_full_unstemmed |
Break-down of the magnetically insulated diode |
| title_sort |
break-down of the magnetically insulated diode |
| author |
Zagrebelnyy, I.A. Zykov, A.V. Glaznev, M.V. |
| author_facet |
Zagrebelnyy, I.A. Zykov, A.V. Glaznev, M.V. |
| topic |
Low temperature plasma and plasma technologies |
| topic_facet |
Low temperature plasma and plasma technologies |
| publishDate |
2007 |
| language |
English |
| container_title |
Вопросы атомной науки и техники |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Пробій магнітоізольованого діода Пробой магнитоизолированного диода |
| description |
In the present work the comparative analysis of computer simulation results and experimental data for “Radical” ion source is carried out. The break-down curves are presented for different boundary conditions, such as: cathode-sheath-anode, plasma-sheath-anode, ion-beam plasma-sheath-anode. The influence of thermo-electron emission on the discharge characteristic was also investigated.
Представлено порівняльний аналіз чисельних розрахунків й експериментальних даних для іонного джерела іонів “Радикал”. Розрядні криві представлені для різних типів граничних умов таких як: катод-шар-анод, плазма-шар-анод, іонно-пучкова плазма-шар-анод. Також досліджено вплив термоелектронної емісії на розрядні характеристики.
Представлен сравнительный анализ численных расчетов и экспериментальных данных для ионного источника ионов “Радикал”. Разрядные кривые представлены для различных типов граничных условий таких как: катод-слой-анод, плазма-слой-анод, ионно-пучковая плазма-слой-анод. Также исследовано влияние термоэлектронной эмиссии на разрядные характеристики
|
| issn |
1562-6016 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110579 |
| citation_txt |
Break-down of the magnetically insulated diode / I.A. Zagrebelnyy, A.V. Zykov, M.V. Glaznev // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT zagrebelnyyia breakdownofthemagneticallyinsulateddiode AT zykovav breakdownofthemagneticallyinsulateddiode AT glaznevmv breakdownofthemagneticallyinsulateddiode AT zagrebelnyyia probíimagnítoízolʹovanogodíoda AT zykovav probíimagnítoízolʹovanogodíoda AT glaznevmv probíimagnítoízolʹovanogodíoda AT zagrebelnyyia proboimagnitoizolirovannogodioda AT zykovav proboimagnitoizolirovannogodioda AT glaznevmv proboimagnitoizolirovannogodioda |
| first_indexed |
2025-12-07T19:58:58Z |
| last_indexed |
2025-12-07T19:58:58Z |
| _version_ |
1850880859552350208 |