Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ
The photo injector test facility in Zeuthen (PITZ) is used to develop and characterize electron sources which produce a nominal bunch charge of 1 nC with the lowest possible transverse emittance. Measurements of the beam size provide us with knowledge on important beam characteristics. For example t...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2007 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Німецький Електронний-Синхротрон (DESY) Німеччини
2007
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110585 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ / R. Spesyvtsev // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 5. — С. 200-203. — Бібліогр.: 9 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862614348990513152 |
|---|---|
| author | Spesyvtsev, R. |
| author_facet | Spesyvtsev, R. |
| citation_txt | Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ / R. Spesyvtsev // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 5. — С. 200-203. — Бібліогр.: 9 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Вопросы атомной науки и техники |
| description | The photo injector test facility in Zeuthen (PITZ) is used to develop and characterize electron sources which produce a nominal bunch charge of 1 nC with the lowest possible transverse emittance. Measurements of the beam size provide us with knowledge on important beam characteristics. For example the measurement of the emittance is based on beam size measurements. Therefore, the control of uncertainties of beam size measurements is very important to validate the experimental results. The statistical uncertainty of transverse beam size measurements due to the beam energy and bunch charge jitters is considered in this paper.
Стенд випробувань фотоінжекторів PITZ використовується для розробки та вивчення характеристик джерел електронів, що випромінюють пучки з номінальним зарядом в 1 нКл та якомога меншим емітансом. Одним з базових вимірів є вимір поперечного розміру електронного пучка. Наприклад вимірювання емітансу базується на вимірах розміру пучка. Таким чином врахування невизначеності вимірів розміру пучка є важливим для визначення вірогідності експериментальних результатів. В даній роботі розглянута статистична невизначеність виміру поперечного розміру електронного пучка в PITZ.
Стенд испытания фотоинжекторов PITZ служит для разработки и характеризации источников электронов, которые способны производить пучки с номинальным зарядом в 1 нКл и малым поперечным эмиттансом. Одним из базисных измерений при характеризации фотоинжектора является измерение поперечного размера электронного пучка. В частности, измерение поперечного эмиттанса основано на измерениях размера пучка. Знание погрешности в измерении размера пучка является очень важным условием для определения достоверности экспериментальных результатов. В данной работе рассмотрена статистическая неопределенность в измерении поперечного размера электронного пучка, вызванная флуктуациями энергии и заряда пучка.
|
| first_indexed | 2025-11-29T10:31:06Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-110585 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1562-6016 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-11-29T10:31:06Z |
| publishDate | 2007 |
| publisher | Німецький Електронний-Синхротрон (DESY) Німеччини |
| record_format | dspace |
| spelling | Spesyvtsev, R. 2017-01-04T20:13:58Z 2017-01-04T20:13:58Z 2007 Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ / R. Spesyvtsev // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 5. — С. 200-203. — Бібліогр.: 9 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 03.65.Pm, 03.65.Ge, 61.80.Mk https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110585 The photo injector test facility in Zeuthen (PITZ) is used to develop and characterize electron sources which produce a nominal bunch charge of 1 nC with the lowest possible transverse emittance. Measurements of the beam size provide us with knowledge on important beam characteristics. For example the measurement of the emittance is based on beam size measurements. Therefore, the control of uncertainties of beam size measurements is very important to validate the experimental results. The statistical uncertainty of transverse beam size measurements due to the beam energy and bunch charge jitters is considered in this paper. Стенд випробувань фотоінжекторів PITZ використовується для розробки та вивчення характеристик джерел електронів, що випромінюють пучки з номінальним зарядом в 1 нКл та якомога меншим емітансом. Одним з базових вимірів є вимір поперечного розміру електронного пучка. Наприклад вимірювання емітансу базується на вимірах розміру пучка. Таким чином врахування невизначеності вимірів розміру пучка є важливим для визначення вірогідності експериментальних результатів. В даній роботі розглянута статистична невизначеність виміру поперечного розміру електронного пучка в PITZ. Стенд испытания фотоинжекторов PITZ служит для разработки и характеризации источников электронов, которые способны производить пучки с номинальным зарядом в 1 нКл и малым поперечным эмиттансом. Одним из базисных измерений при характеризации фотоинжектора является измерение поперечного размера электронного пучка. В частности, измерение поперечного эмиттанса основано на измерениях размера пучка. Знание погрешности в измерении размера пучка является очень важным условием для определения достоверности экспериментальных результатов. В данной работе рассмотрена статистическая неопределенность в измерении поперечного размера электронного пучка, вызванная флуктуациями энергии и заряда пучка. This work has partly been supported by the European Community, contract numbers RII3-CT-2004-506008 (IA-SFS) and 011935 (EURO-FEL), and by the ”Impuls- und Vernetzungsfonds” of the Helmholtz Association, contract number VH-FZ-005.
 The author would like to thank all members of the PITZ group and especially S. Khodyachykh, L. Staykov and M. Krasilnikov for the productive discussions and helpful advices. en Німецький Електронний-Синхротрон (DESY) Німеччини Вопросы атомной науки и техники Теория и техника ускорения частиц Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ Вплив стабільності основних параметрів пучка на вимір розміру пучка в PITZ Влияние стабильности основных параметров пучка на измерение размера пучка в PITZ Article published earlier |
| spellingShingle | Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ Spesyvtsev, R. Теория и техника ускорения частиц |
| title | Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ |
| title_alt | Вплив стабільності основних параметрів пучка на вимір розміру пучка в PITZ Влияние стабильности основных параметров пучка на измерение размера пучка в PITZ |
| title_full | Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ |
| title_fullStr | Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ |
| title_full_unstemmed | Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ |
| title_short | Influence of main beam parameters stability on beam size measurements at PITZ |
| title_sort | influence of main beam parameters stability on beam size measurements at pitz |
| topic | Теория и техника ускорения частиц |
| topic_facet | Теория и техника ускорения частиц |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110585 |
| work_keys_str_mv | AT spesyvtsevr influenceofmainbeamparametersstabilityonbeamsizemeasurementsatpitz AT spesyvtsevr vplivstabílʹnostíosnovnihparametrívpučkanavimírrozmírupučkavpitz AT spesyvtsevr vliâniestabilʹnostiosnovnyhparametrovpučkanaizmerenierazmerapučkavpitz |