X-RAY luminescence properties of thin organic films

• Опубліковано в: : Вопросы атомной науки и техники
• Дата: 2003
• Автори: L`vov, A.N., Mazilov, A.V., Skibin, V.I., Shulika, N.G., Taller, E.G., Tolmachyov, A.V., Voronkina, N.I., Zaleskiy, Yu.G.
• Формат: Стаття
• Мова: Англійська
• Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2003
• Теми: Plasma diagnostics
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110606
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: X-RAY luminescence properties of thin organic films / A.N. L`vov, A.V. Mazilov, V.I. Skibin, N.G. Shulika, E.G. Taller, A.V. Tolmachyov, N.I. Voronkina, Yu.G. Zaleskiy // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 1. — С. 173-174. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.

The results of studies on the soft X-ray sensitivity of thin organic Lengmuir-Blodgett (LB) films are presented. A linear behavior of the relationship between the integral luminescence (Dl=380-400nm) and the dose rate of X-ray irradiation in the range of 10⁻⁶-10⁻⁵ A/kg at the energy of 5 keV has bee...