Мощностная закономерность образования локализованных и делокализованных зарядов в γ-облученном оксиде бериллия

Методом ЭПР исследованы мощностная зависимость скорости образования и энергетических выходов электронных F⁺(WF⁺, GF⁺/100 эВ), дырочных V⁻(WV-, GV-/100 эВ) и суммарных парамагнитных центров (Wpc, Gpc/100 эВ) в γ-облученном дисперсном ВеО при 77 К или при переходе от 77 к 300 К. Методом EПР досліджені...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2007
Автори: Алиев, М.М., Алиева, Х.З.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут радіаційних проблем НАН Азербайджану 2007
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110643
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Мощностная закономерность образования локализованных и делокализованных зарядов в γ-облученном оксиде бериллия / М.М. Алиев, Х.З. Алиева // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 6. — С. 131-138. — Бібліогр.: 39 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Методом ЭПР исследованы мощностная зависимость скорости образования и энергетических выходов электронных F⁺(WF⁺, GF⁺/100 эВ), дырочных V⁻(WV-, GV-/100 эВ) и суммарных парамагнитных центров (Wpc, Gpc/100 эВ) в γ-облученном дисперсном ВеО при 77 К или при переходе от 77 к 300 К. Методом EПР досліджені міцністна залежність швидкості утворення й енергетичних виходів електронних F⁺(WF⁺, GF⁺/100 еВ), дырочных V⁻(WV-, GV-/100 eВ) і сумарних парамагнітних центрів (Wpc, Gpc/100 еВ) в γ-опроміненому дисперсному ВеО при 77 або при переході від 77 до 300 К. The rates of formation and energy fields of electrons F⁺(WF⁺, GF⁺/100 eV), holes V-( WV-, GV-/100 eV) and PM (Wpc, Gpc/100 eV)-centres in dispersion γ-radiated BeO dependence on γ-radiation dozes power in ranges of D~0.1…10 Gy/s at 77 K by ESR method are investigated.
ISSN:1562-6016