Об интерференции в многомодовых режимах модуляционных неустойчивостей

Волна накачки, определяя динамику фаз для каждой моды возбуждаемого спектра, формирует вынужденные интерференционные всплески – локальные максимумы огибающей поля. В присутствии большого числа мод в спектре модуляционной неустойчивости амплитуды всплесков могут вырасти до больших значений. Хвиля нак...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Вопросы атомной науки и техники
Date:2008
Main Authors: Белкин, Е.В., Киричок, А.В., Куклин, В.М.
Format: Article
Language:Russian
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2008
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110697
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Об интерференции в многомодовых режимах модуляционных неустойчивостей / Е.В. Белкин, А.В. Киричок, В.М. Куклин // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 4. — С. 222-227. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Волна накачки, определяя динамику фаз для каждой моды возбуждаемого спектра, формирует вынужденные интерференционные всплески – локальные максимумы огибающей поля. В присутствии большого числа мод в спектре модуляционной неустойчивости амплитуды всплесков могут вырасти до больших значений. Хвиля накачки, що визначає динаміку фаз для кожної моди спектру, що збуджується, формує вимушені інтерференційні сплески – локальні максимуми огинаючої поля. В присутності значної кількості мод в спектрі модуляційної нестійкості амплітуди сплесків можуть досягати великих значень. The pump wave imposed dynamics of phases for each mode of excited spectrum forms induced interference splashes, i.e. local maximum of envelope of field. In the presence of great number of modes in modulation instability spectrum, the amplitudes of splashes may grow sufficiently large.
ISSN:1562-6016