Особенности электрофизических свойств тонких пленок NaBiTe₂

• Опубліковано в: : Вопросы атомной науки и техники
• Дата: 2007
• Автори: Авотин, С.С., Белозерцева, В.И., Гаман, Д.А., Дьяконенко, Н.Л., Мамалуй, А.А., Петренко, Л.Г, Хляп, Г. М.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2007
• Теми: Физика и технология конструкционных материалов
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110721
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Особенности электрофизических свойств тонких пленок NaBiTe₂ / С.С. Авотин, В.И. Белозерцева, Д.А. Гаман, Н.Л. Дьяконенко, А.А. Мамалуй, Л.Г. Петренко, Г. М.Хляп // Вопросы атомной науки и техники. — 2007. — № 4. — С. 94-98. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.

Представлены результаты исследования структуры, фазового состава и электрофизических свойств плёнок NaBiTe₂, полученных методом резистивного испарения из ячейки Кнудсена и конденсации на стеклянные подложки. Предложены механизмы, объясняющие экспериментальные временные и температурные зависимости электропроводности, связанные со структурными особенностями пленок. Приведены результаты численного анализа полученных экспериментальных температурных зависимостей. Розглянуто результати дослідження структури, фазового складу та электрофізичних властивостей плівок NaBіTe₂, які було отримано методом резистивного випару з осередку Кнудсена та конденсації на скляні підкладки. Запропоновано механізми, що пояснюють експериментальні часові та температурні залежності електропровідності, що пов'язані зі структурними особливостями плівок. Наведено результати чисельного аналізу отриманих експериментальних температурних залежностей. Results of investigation of structure, phase composition and electro-physical properties of NaBiTe₂ thin films obtained by resistive evaporation from a Knudsen cell and condensation on glass substrates are presented. The mechanisms explaining the experimental time and temperature dependences of electrical conductivity bound with structural features of films are offered. Results of numerical analysis of received experimental temperature dependences are given.