Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation

Results of the computer simulation for ion sources optimization used for ion implantations have been done. The highly stripped ion source has been designed to provide high current beams of multiply charged P and B ions for high energy ion implantation. However, the total current transport efficiency...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Вопросы атомной науки и техники
Date:2008
Main Authors: Litovko, I.V., Gushenets, V.I.
Format: Article
Language:English
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2008
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110769
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation / I.V. Litovko, V.I. Gushenets // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 6. — С. 138-140. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862544613414273024
author Litovko, I.V.
Gushenets, V.I.
author_facet Litovko, I.V.
Gushenets, V.I.
citation_txt Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation / I.V. Litovko, V.I. Gushenets // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 6. — С. 138-140. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Вопросы атомной науки и техники
description Results of the computer simulation for ion sources optimization used for ion implantations have been done. The highly stripped ion source has been designed to provide high current beams of multiply charged P and B ions for high energy ion implantation. However, the total current transport efficiency was about 30%. The modified computer code Kobra has been used to simulate processes of ion extraction by dc-acceleration systems as well as beam transport and thus to determine main reasons for ion beam losses. The calculations indicated that the losses of extracted ion beam mainly occur in the transport channel and magnetic separator. The computer modeling allows find optimal geometry for ion-optical system. Several ion-optical systems were designed and also changed the design of the initial section of the beam transport channel. Furthermore, the simulation for original way of compensating the parasitic beam deflection has been executed. Results of experiments with the modified geometry are supported simulation results. With the optimization of geometries of the ion-optical system and experimental setup, the maximum current transport for Boron ions has been attained. It should be noted that the maximum attainable percentage of singly charged B ions was 65% and the total current transport was about 60%. Приведено результати чисельного моделювання оптимізації іонного джерела для іонної імплантації. Для отримання високо-енергійних іонів фосфору і бору було створено іонне джерело, однак, його ефективність була дуже низькою. Для знаходження каналів втрат було здійснено комп’ютерне моделювання на основі модифікованого коду Кобра, яке довело, що головні втрати зв’язані з транспортним каналом та з магнітним сепаратором. Завдяки моделюванню було знайдено оптимальну геометрію джерела, а також шляхи компенсації відхилення пучку у магнітному полі. Здійснена на основі розрахунків модифікація іонного джерела дозволила отримати максимальний струм для пучків бору та підвищити ефективність іонного джерела більш ніж вдвічі. Приведены результаты численного моделирования оптимизации ионного источника для ионной имплантации. Для получения высокоэнергетичных пучков фосфора и бора был создан ионный источник, однако, его эффективность была крайне низкой. Для нахождения возможных каналов потерь было проведено компьютерное моделирование на основе модифицированного кода Кобра, которое показало, что основные потери связаны с транспортным каналом и магнитным сепаратором. Благодаря моделированию была найдена оптимальная геометрия источника, а также пути компенсации отклонения пучка в магнитном поле. На основе полученных результатов источник был модифицирован, что позволило достичь максимального тока для пучков однозарядного бора и повысить эффективность источника более чем вдвое.
first_indexed 2025-11-25T01:12:37Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-110769
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1562-6016
language English
last_indexed 2025-11-25T01:12:37Z
publishDate 2008
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
record_format dspace
spelling Litovko, I.V.
Gushenets, V.I.
2017-01-06T11:44:37Z
2017-01-06T11:44:37Z
2008
Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation / I.V. Litovko, V.I. Gushenets // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 6. — С. 138-140. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 52.65.-y
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110769
Results of the computer simulation for ion sources optimization used for ion implantations have been done. The highly stripped ion source has been designed to provide high current beams of multiply charged P and B ions for high energy ion implantation. However, the total current transport efficiency was about 30%. The modified computer code Kobra has been used to simulate processes of ion extraction by dc-acceleration systems as well as beam transport and thus to determine main reasons for ion beam losses. The calculations indicated that the losses of extracted ion beam mainly occur in the transport channel and magnetic separator. The computer modeling allows find optimal geometry for ion-optical system. Several ion-optical systems were designed and also changed the design of the initial section of the beam transport channel. Furthermore, the simulation for original way of compensating the parasitic beam deflection has been executed. Results of experiments with the modified geometry are supported simulation results. With the optimization of geometries of the ion-optical system and experimental setup, the maximum current transport for Boron ions has been attained. It should be noted that the maximum attainable percentage of singly charged B ions was 65% and the total current transport was about 60%.
Приведено результати чисельного моделювання оптимізації іонного джерела для іонної імплантації. Для отримання високо-енергійних іонів фосфору і бору було створено іонне джерело, однак, його ефективність була дуже низькою. Для знаходження каналів втрат було здійснено комп’ютерне моделювання на основі модифікованого коду Кобра, яке довело, що головні втрати зв’язані з транспортним каналом та з магнітним сепаратором. Завдяки моделюванню було знайдено оптимальну геометрію джерела, а також шляхи компенсації відхилення пучку у магнітному полі. Здійснена на основі розрахунків модифікація іонного джерела дозволила отримати максимальний струм для пучків бору та підвищити ефективність іонного джерела більш ніж вдвічі.
Приведены результаты численного моделирования оптимизации ионного источника для ионной имплантации. Для получения высокоэнергетичных пучков фосфора и бора был создан ионный источник, однако, его эффективность была крайне низкой. Для нахождения возможных каналов потерь было проведено компьютерное моделирование на основе модифицированного кода Кобра, которое показало, что основные потери связаны с транспортным каналом и магнитным сепаратором. Благодаря моделированию была найдена оптимальная геометрия источника, а также пути компенсации отклонения пучка в магнитном поле. На основе полученных результатов источник был модифицирован, что позволило достичь максимального тока для пучков однозарядного бора и повысить эффективность источника более чем вдвое.
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Plasma electronics
Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
Оптимізація іонного джерела для високодозної імплантації
Оптимизация ионного источника для высокодозной имплантации
Article
published earlier
spellingShingle Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
Litovko, I.V.
Gushenets, V.I.
Plasma electronics
title Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
title_alt Оптимізація іонного джерела для високодозної імплантації
Оптимизация ионного источника для высокодозной имплантации
title_full Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
title_fullStr Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
title_full_unstemmed Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
title_short Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
title_sort ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
topic Plasma electronics
topic_facet Plasma electronics
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110769
work_keys_str_mv AT litovkoiv ionsourcesoptimizationforhighenergyionimplantationbycomputersimulation
AT gushenetsvi ionsourcesoptimizationforhighenergyionimplantationbycomputersimulation
AT litovkoiv optimízacíâíonnogodžereladlâvisokodoznoíímplantacíí
AT gushenetsvi optimízacíâíonnogodžereladlâvisokodoznoíímplantacíí
AT litovkoiv optimizaciâionnogoistočnikadlâvysokodoznoiimplantacii
AT gushenetsvi optimizaciâionnogoistočnikadlâvysokodoznoiimplantacii