Метод визуальной ИК-радиометрии электронных потоков

Рассматривается метод визуальной ИК-радиометрии, основанный на регистрации температурного поля поверхности тонкого металлического экрана, расположенного в зоне воздействия пучка электронов. Метод позволяет контролировать распределение энергии излучения непосредственно на выходе источника и в рабочей...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2003
Автори: Базалеев, Н.И., Клепиков, В.Ф., Литвиненко, В.В., Бандурян, Б.Б., Брюховецкий, В.В.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2003
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110927
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Метод визуальной ИК-радиометрии электронных потоков / Н.И. Базалеев, В.Ф. Клепиков, В.В. Литвиненко, Б.Б. Бандурян, В.В. Брюховецкий // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 3. — С. 146-150. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Рассматривается метод визуальной ИК-радиометрии, основанный на регистрации температурного поля поверхности тонкого металлического экрана, расположенного в зоне воздействия пучка электронов. Метод позволяет контролировать распределение энергии излучения непосредственно на выходе источника и в рабочей зоне. Розглядається метод візуальної ІЧ-радіометрії, заснований на реєстрації температурного поля поверхні тонкого металічного екрану, розташованого в зоні впливу пучка електронів. Метод дозволяє контролювати розподіл енергії випромінювання безпосередньо на виході джерела та в робочій зоні. Method of visual IR-radiometry based on the registration of temperature field in thin metallic screens located within zone electron beam is considered. This method permits to control the irradiation energy distribution directly at the source exit and technological zone.
ISSN:1562-6016