Buchumschlag

Soft X-ray measurement by SPPD11-04 detectors on the PF “Tulip” installation

The soft X-ray (SXR) measurements were received with help of the fast semiconductor detectors SPPD11-04 with exposure time about 1.5 ns. Observation directions were at 45° and 90° to the chamber axis. The SXR dependence from pressure was designed. The radiation maximum corresponded to argon pressure...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Вопросы атомной науки и техники
Datum:2008
Hauptverfasser: Eliseev, S.P., Nikulin, V.Ya., Silin, P.V.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2008
Schlagworte:
Plasma diagnostics
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111026
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Soft X-ray measurement by SPPD11-04 detectors on the PF “Tulip” installation / S.P. Eliseev, V.Ya. Nikulin, P.V. Silin // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 6. — С. 222-224. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Ähnliche Einträge