Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами

Исследована радиационная стойкость образцов n- и р-Si, выращенных методом бестигельной зонной плавки и трансмутационно-легированных, а также кремния, выращенного методом Чохральского до и после легирования германием (NGe = 2 · 10²⁰ cм⁻³), после облучения быстрыми нейтронами реактора ВВР-М при комнат...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2009
Автори: Долголенко, А.П., Гайдар, Г.П., Варенцов, М.Д., Литовченко, П.Г.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2009
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111101
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами / А.П. Долголенко, Г.П. Гайдар, М.Д. Варенцов, П.Г. Литовченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2009. — № 2. — С. 151-157. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862751352261705728
author Долголенко, А.П.
Гайдар, Г.П.
Варенцов, М.Д.
Литовченко, П.Г.
author_facet Долголенко, А.П.
Гайдар, Г.П.
Варенцов, М.Д.
Литовченко, П.Г.
citation_txt Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами / А.П. Долголенко, Г.П. Гайдар, М.Д. Варенцов, П.Г. Литовченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2009. — № 2. — С. 151-157. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Вопросы атомной науки и техники
description Исследована радиационная стойкость образцов n- и р-Si, выращенных методом бестигельной зонной плавки и трансмутационно-легированных, а также кремния, выращенного методом Чохральского до и после легирования германием (NGe = 2 · 10²⁰ cм⁻³), после облучения быстрыми нейтронами реактора ВВР-М при комнатной температуре. Эффективная концентрация носителей в зависимости от флюенса описана в рамках уточненной модели Госсика. Обнаружено, что введение германия, обогащение кислородом повышают радиационную стойкость n-Si так же, как и трансмутационное легирование. Предложен метод повышения радиационной стойкости полупроводниковых детекторов ядерных частиц. Показано, что создание кластеров дефектов быстрыми нейтронами отличается от их создания при облучении 24 ГэВ протонами кремния. Досліджено радіаційну стійкість зразків n- і p-Si, вирощених методом безтигельної зонної плавки і трансмутаційно-легованих, а також кремнію, вирощеного методом Чохральського до та після легування германієм (NGe = 2 · 10²⁰ cм⁻³), після опромінення швидкими нейтронами реактора ВВР-М при кімнатній температурі. Ефективну концентрацію носіїв у залежності від флюенса описано в рамках уточненої моделі Госсіка. З’ясовано, що введення германію, збагачення киснем підвищують радіаційну стійкість n-Si так само, як і трансмутаційне легування. Запропоновано метод підвищення радіаційної стійкості напівпровідникових детекторів ядерних частинок. Показано, що створення кластерів дефектів швидкими нейтронами відрізняється від їх утворення при опроміненні 24 ГеВ протонами кремнію. The radiation hardness of n- and p-Si samples grown both by the floating-zone technique and transmutation doped, as well as Si obtained by Czochralski method, were studied after irradiation by fast-pile neutrons of WWR-M reactors under room temperature before and after germanium doped (NGe = 2 · 10²⁰ cм⁻³). The dependence of the effective concentration of carriers on fluence was described in the framework of Gossick's corrected model. It was found that the introduction of germanium and oxygen enrichment improve the radiation hardness of n-Si in the same way as transmutation doping. The method of increasing of radiation hardness for the semiconductor detectors of nuclear particles was proposed. It was shown that the formation of defect clusters by fast-pile neutrons differs from their formation at irradiation of silicon by 24 GeV protons.
first_indexed 2025-12-07T21:11:12Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-111101
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1562-6016
language Russian
last_indexed 2025-12-07T21:11:12Z
publishDate 2009
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
record_format dspace
spelling Долголенко, А.П.
Гайдар, Г.П.
Варенцов, М.Д.
Литовченко, П.Г.
2017-01-08T10:26:39Z
2017-01-08T10:26:39Z
2009
Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами / А.П. Долголенко, Г.П. Гайдар, М.Д. Варенцов, П.Г. Литовченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2009. — № 2. — С. 151-157. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.
1562-6016
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111101
621.315.592.3:546.28:539.12.04
Исследована радиационная стойкость образцов n- и р-Si, выращенных методом бестигельной зонной плавки и трансмутационно-легированных, а также кремния, выращенного методом Чохральского до и после легирования германием (NGe = 2 · 10²⁰ cм⁻³), после облучения быстрыми нейтронами реактора ВВР-М при комнатной температуре. Эффективная концентрация носителей в зависимости от флюенса описана в рамках уточненной модели Госсика. Обнаружено, что введение германия, обогащение кислородом повышают радиационную стойкость n-Si так же, как и трансмутационное легирование. Предложен метод повышения радиационной стойкости полупроводниковых детекторов ядерных частиц. Показано, что создание кластеров дефектов быстрыми нейтронами отличается от их создания при облучении 24 ГэВ протонами кремния.
Досліджено радіаційну стійкість зразків n- і p-Si, вирощених методом безтигельної зонної плавки і трансмутаційно-легованих, а також кремнію, вирощеного методом Чохральського до та після легування германієм (NGe = 2 · 10²⁰ cм⁻³), після опромінення швидкими нейтронами реактора ВВР-М при кімнатній температурі. Ефективну концентрацію носіїв у залежності від флюенса описано в рамках уточненої моделі Госсіка. З’ясовано, що введення германію, збагачення киснем підвищують радіаційну стійкість n-Si так само, як і трансмутаційне легування. Запропоновано метод підвищення радіаційної стійкості напівпровідникових детекторів ядерних частинок. Показано, що створення кластерів дефектів швидкими нейтронами відрізняється від їх утворення при опроміненні 24 ГеВ протонами кремнію.
The radiation hardness of n- and p-Si samples grown both by the floating-zone technique and transmutation doped, as well as Si obtained by Czochralski method, were studied after irradiation by fast-pile neutrons of WWR-M reactors under room temperature before and after germanium doped (NGe = 2 · 10²⁰ cм⁻³). The dependence of the effective concentration of carriers on fluence was described in the framework of Gossick's corrected model. It was found that the introduction of germanium and oxygen enrichment improve the radiation hardness of n-Si in the same way as transmutation doping. The method of increasing of radiation hardness for the semiconductor detectors of nuclear particles was proposed. It was shown that the formation of defect clusters by fast-pile neutrons differs from their formation at irradiation of silicon by 24 GeV protons.
ru
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Физика радиационных и ионно-плазменных технологий
Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами
Радіаційна стійкість n- і p-Si, легованого киснем та германієм, при опроміненні високоенергетичними ядерними частинками
The radiation hardness of n- and p-Si, doped by oxygen and germanium, under the irradiation by high-energy nuclear particles
Article
published earlier
spellingShingle Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами
Долголенко, А.П.
Гайдар, Г.П.
Варенцов, М.Д.
Литовченко, П.Г.
Физика радиационных и ионно-плазменных технологий
title Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами
title_alt Радіаційна стійкість n- і p-Si, легованого киснем та германієм, при опроміненні високоенергетичними ядерними частинками
The radiation hardness of n- and p-Si, doped by oxygen and germanium, under the irradiation by high-energy nuclear particles
title_full Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами
title_fullStr Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами
title_full_unstemmed Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами
title_short Радиационная стойкость n- и p-Si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами
title_sort радиационная стойкость n- и p-si, легированного кислородом и германием, при облучении высокоэнергетическими ядерными частицами
topic Физика радиационных и ионно-плазменных технологий
topic_facet Физика радиационных и ионно-плазменных технологий
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111101
work_keys_str_mv AT dolgolenkoap radiacionnaâstoikostʹnipsilegirovannogokislorodomigermaniemprioblučeniivysokoénergetičeskimiâdernymičasticami
AT gaidargp radiacionnaâstoikostʹnipsilegirovannogokislorodomigermaniemprioblučeniivysokoénergetičeskimiâdernymičasticami
AT varencovmd radiacionnaâstoikostʹnipsilegirovannogokislorodomigermaniemprioblučeniivysokoénergetičeskimiâdernymičasticami
AT litovčenkopg radiacionnaâstoikostʹnipsilegirovannogokislorodomigermaniemprioblučeniivysokoénergetičeskimiâdernymičasticami
AT dolgolenkoap radíacíinastíikístʹnípsilegovanogokisnemtagermaníêmpriopromínennívisokoenergetičnimiâdernimičastinkami
AT gaidargp radíacíinastíikístʹnípsilegovanogokisnemtagermaníêmpriopromínennívisokoenergetičnimiâdernimičastinkami
AT varencovmd radíacíinastíikístʹnípsilegovanogokisnemtagermaníêmpriopromínennívisokoenergetičnimiâdernimičastinkami
AT litovčenkopg radíacíinastíikístʹnípsilegovanogokisnemtagermaníêmpriopromínennívisokoenergetičnimiâdernimičastinkami
AT dolgolenkoap theradiationhardnessofnandpsidopedbyoxygenandgermaniumundertheirradiationbyhighenergynuclearparticles
AT gaidargp theradiationhardnessofnandpsidopedbyoxygenandgermaniumundertheirradiationbyhighenergynuclearparticles
AT varencovmd theradiationhardnessofnandpsidopedbyoxygenandgermaniumundertheirradiationbyhighenergynuclearparticles
AT litovčenkopg theradiationhardnessofnandpsidopedbyoxygenandgermaniumundertheirradiationbyhighenergynuclearparticles