Васильев, В., Лучанинов, А., Решетняк, Е., Стрельницкий, В., Толмачева, Г., & Решетняк, М. (2009). Структура и твердость Ti-N- и Ti-Si-N-покрытий, осажденных из фильтрованной вакуумно-дуговой плазмы. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Васильев, В.В, А.А Лучанинов, Е.Н Решетняк, В.Е Стрельницкий, Г.Н Толмачева, und М.В Решетняк. Структура и твердость Ti-N- и Ti-Si-N-покрытий, осажденных из фильтрованной вакуумно-дуговой плазмы. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2009.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Васильев, В.В, et al. Структура и твердость Ti-N- и Ti-Si-N-покрытий, осажденных из фильтрованной вакуумно-дуговой плазмы. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2009.