Васильев, В., Лучанинов, А., Решетняк, Е., Стрельницкий, В., Толмачева, Г., & Решетняк, М. (2009). Структура и твердость Ti-N- и Ti-Si-N-покрытий, осажденных из фильтрованной вакуумно-дуговой плазмы. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Васильев, В.В, А.А Лучанинов, Е.Н Решетняк, В.Е Стрельницкий, Г.Н Толмачева, та М.В Решетняк. Структура и твердость Ti-N- и Ti-Si-N-покрытий, осажденных из фильтрованной вакуумно-дуговой плазмы. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2009.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Васильев, В.В, et al. Структура и твердость Ti-N- и Ti-Si-N-покрытий, осажденных из фильтрованной вакуумно-дуговой плазмы. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2009.