X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
Primary and Compton scattered radiation spectra from radioactive source ²⁴¹Am were measured in various geometry and for various targets. Spectral lines intensity of characteristic X-ray radiation (CXR), Compton and Rayleigh scattering are defined. The back scattering peak for a line 59.54 keV was ex...
Saved in:
| Published in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Date: | 2011 |
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2011
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111134 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra / G.L.Bochek, O.S.Deiev, N.I.Maslov, V.K.Voloshyn // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 3. — С. 42-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Primary and Compton scattered radiation spectra from radioactive source ²⁴¹Am were measured in various geometry and for various targets. Spectral lines intensity of characteristic X-ray radiation (CXR), Compton and Rayleigh scattering are defined. The back scattering peak for a line 59.54 keV was explored. X-ray quanta were registered by the packaged Si detector 300mm and input Al foil 10mm thicknesses. Radiation interaction with targets and detector atoms was simulated in software code GEANT 4 (LE). Simulated spectra, quanta registration efficiency and secondary calculated radiation spectra at 90º...160º are compared with experimentally measured energy distributions.
Виміряні прямі і комптонівськи розсіяні спектри від радіоактивного джерела ²⁴¹Am в різній геометрії для різних мішеней. Визначені інтенсивності рентгенівських ліній характеристичного рентгенівського випромінювання (ХРІ), комптонівського і релеєвського розсіяння в розсіяних спектрах. Вивчався пік зворотнього розсіювання для лінії 59.54 кeВ. Рентгенівські кванти реєструвалися корпусованим Si - детектором товщиною 300 мкм і вхідною фольгою Al товщиною 10 мкм. У програмному коді GEANT 4 (LE) моделювалася взаємодія випромінювання з атомами мішені і детектора. Розраховані спектри випромінювання ²⁴¹Am, ефективність реєстрації квантів, спектри вторинного випромінювання, розсіяного під кутами 90º...160º, порівнюються з первинними енергетичними розподілами.
Измерены прямые и комптоновски рассеянные спектры излучения от радиоактивного источника ²⁴¹Am в различной геометрии для различных мишеней. Определены интенсивности рентгеновских линий характеристического рентгеновского излучения (ХРИ), комптоновского и рэлеевского рассеяния в рассеянных спектрах. Изучался пик обратного рассеяния для линии 59.54 кэВ. Рентгеновские кванты регистрировались корпусированным Si - детектором толщиной 300 мкм и входной Al фольгой толщиной 10 мкм. В программном коде GEANT 4 (LE) моделировалось взаимодействие излучения с атомами мишени и детектора. Расчетные спектры излучения ²⁴¹Am, эффективность регистрации квантов и спектры вторичного излучения, рассеянного под углами 90º...160º, сравниваются с экспериментально измеренными энергетическими распределениями.
|
|---|---|
| ISSN: | 1562-6016 |