X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
Primary and Compton scattered radiation spectra from radioactive source ²⁴¹Am were measured in various geometry and for various targets. Spectral lines intensity of characteristic X-ray radiation (CXR), Compton and Rayleigh scattering are defined. The back scattering peak for a line 59.54 keV was ex...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Дата: | 2011 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2011
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111134 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra / G.L.Bochek, O.S.Deiev, N.I.Maslov, V.K.Voloshyn // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 3. — С. 42-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |