New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine

The paper presents a description of new Ion Backscattering Beam Line. Small-size electrostatic accelerator “Sokol” with a beam energy range of 0.2…2.0 MeV is used as an ion source. A detail of the Beam Line is using of magnetic spectrometer which allows to carry out precise (several nm) quantitati...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Вопросы атомной науки и техники
Date:2008
Main Authors: Drozdenko, A.A., Duvanov, S.M., Mordyk, S.N., Storizhko, V.E.
Format: Article
Language:English
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2008
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111214
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine / A.A. Drozdenko, S.M. Duvanov, S.N. Mordyk, V.E. Storizhko // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 3. — С. 105-109. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-111214
record_format dspace
spelling Drozdenko, A.A.
Duvanov, S.M.
Mordyk, S.N.
Storizhko, V.E.
2017-01-08T18:42:36Z
2017-01-08T18:42:36Z
2008
New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine / A.A. Drozdenko, S.M. Duvanov, S.N. Mordyk, V.E. Storizhko // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 3. — С. 105-109. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 29.17.+w, 29.30.Ep, 29.30.Aj
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111214
The paper presents a description of new Ion Backscattering Beam Line. Small-size electrostatic accelerator “Sokol” with a beam energy range of 0.2…2.0 MeV is used as an ion source. A detail of the Beam Line is using of magnetic spectrometer which allows to carry out precise (several nm) quantitative layer-by-layer non-destructive element analysis of solid composition and structure using Ion Elastic Scattering technique. Design of Backscattering Chamber allows realizing a full set of Ion Beam Analysis techniques. Proton and helium ion backscattering spectra are presented from the thin film samples. Simulated spectra fit well the experimental ones together. The last shows the analytical efficiency of Backscattering Beam Line.
Описано новий канал зворотного розсіювання іонів. Джерелом іонів служить малогабаритний електростатичний прискорювач «Сокіл» з енергією пучка 0,2…2,0 МеВ. Особливістю каналу є використання магнітного спектрометра, який дозволяє проводити кількісний прецизійний (декілька нм) пошаровий неруйнівний елементний аналіз складу та структури твердих тіл методом пружного розсіювання іонів. Конструкція камер зворотного розсіювання дозволяє реалізовувати повний набір іонно-пучкових методів елементного аналізу. Представлені спектри зворотного розсіювання протонів та іонів гелію від тонкоплівкових зразків. Добре узгодження експериментального та розрахункового спектрів від імплантованого зразка корунду свідчить про дієздатність каналу зворотного розсіювання як аналітичного інструмента.
Описан новый канал обратного рассеяния ионов. Источником ионов служит малогабаритный электростатический ускоритель «Сокол» с энергией пучка диапазоне 0,2…2,0 МэВ. Особенностью канала является использование магнитного спектрометра, позволяющего проводить количественный прецизионный (несколько нм) послойный неразрушающий элементный анализ состава и структуры твёрдых тел методом упругого рассеяния ионов. Канал состоит из: камеры обратного рассеяния общего назначения и камеры магнитного спектрометра с ионопроводом. Конструкция камер обратного рассеяния позволяет реализовать полный набор ионно-пучковых методов элементного анализа. Представлены спектры обратного рассеяния протонов и ионов гелия от тонкопленочных образцов. Хорошее согласие экспериментального и расчетного спектров от имплантированного образца корунда свидетельствует о работоспособности канала обратного рассеяния как аналитического инструмента.
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Физика и техника ускорителей
New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine
Новий канал пружного розсіювання іонів аналітичного комплексу Інституту прикладної фізики НАН України
Новый канал упругого рассеяния ионов аналитического комплекса Института прикладной физики НАН Украины
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine
spellingShingle New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine
Drozdenko, A.A.
Duvanov, S.M.
Mordyk, S.N.
Storizhko, V.E.
Физика и техника ускорителей
title_short New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine
title_full New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine
title_fullStr New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine
title_full_unstemmed New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine
title_sort new ion elastic scattering beam line of analytical complex at iар nas ukraine
author Drozdenko, A.A.
Duvanov, S.M.
Mordyk, S.N.
Storizhko, V.E.
author_facet Drozdenko, A.A.
Duvanov, S.M.
Mordyk, S.N.
Storizhko, V.E.
topic Физика и техника ускорителей
topic_facet Физика и техника ускорителей
publishDate 2008
language English
container_title Вопросы атомной науки и техники
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
format Article
title_alt Новий канал пружного розсіювання іонів аналітичного комплексу Інституту прикладної фізики НАН України
Новый канал упругого рассеяния ионов аналитического комплекса Института прикладной физики НАН Украины
description The paper presents a description of new Ion Backscattering Beam Line. Small-size electrostatic accelerator “Sokol” with a beam energy range of 0.2…2.0 MeV is used as an ion source. A detail of the Beam Line is using of magnetic spectrometer which allows to carry out precise (several nm) quantitative layer-by-layer non-destructive element analysis of solid composition and structure using Ion Elastic Scattering technique. Design of Backscattering Chamber allows realizing a full set of Ion Beam Analysis techniques. Proton and helium ion backscattering spectra are presented from the thin film samples. Simulated spectra fit well the experimental ones together. The last shows the analytical efficiency of Backscattering Beam Line. Описано новий канал зворотного розсіювання іонів. Джерелом іонів служить малогабаритний електростатичний прискорювач «Сокіл» з енергією пучка 0,2…2,0 МеВ. Особливістю каналу є використання магнітного спектрометра, який дозволяє проводити кількісний прецизійний (декілька нм) пошаровий неруйнівний елементний аналіз складу та структури твердих тіл методом пружного розсіювання іонів. Конструкція камер зворотного розсіювання дозволяє реалізовувати повний набір іонно-пучкових методів елементного аналізу. Представлені спектри зворотного розсіювання протонів та іонів гелію від тонкоплівкових зразків. Добре узгодження експериментального та розрахункового спектрів від імплантованого зразка корунду свідчить про дієздатність каналу зворотного розсіювання як аналітичного інструмента. Описан новый канал обратного рассеяния ионов. Источником ионов служит малогабаритный электростатический ускоритель «Сокол» с энергией пучка диапазоне 0,2…2,0 МэВ. Особенностью канала является использование магнитного спектрометра, позволяющего проводить количественный прецизионный (несколько нм) послойный неразрушающий элементный анализ состава и структуры твёрдых тел методом упругого рассеяния ионов. Канал состоит из: камеры обратного рассеяния общего назначения и камеры магнитного спектрометра с ионопроводом. Конструкция камер обратного рассеяния позволяет реализовать полный набор ионно-пучковых методов элементного анализа. Представлены спектры обратного рассеяния протонов и ионов гелия от тонкопленочных образцов. Хорошее согласие экспериментального и расчетного спектров от имплантированного образца корунда свидетельствует о работоспособности канала обратного рассеяния как аналитического инструмента.
issn 1562-6016
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111214
citation_txt New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine / A.A. Drozdenko, S.M. Duvanov, S.N. Mordyk, V.E. Storizhko // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 3. — С. 105-109. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT drozdenkoaa newionelasticscatteringbeamlineofanalyticalcomplexatiarnasukraine
AT duvanovsm newionelasticscatteringbeamlineofanalyticalcomplexatiarnasukraine
AT mordyksn newionelasticscatteringbeamlineofanalyticalcomplexatiarnasukraine
AT storizhkove newionelasticscatteringbeamlineofanalyticalcomplexatiarnasukraine
AT drozdenkoaa noviikanalpružnogorozsíûvannâíonívanalítičnogokompleksuínstitutuprikladnoífízikinanukraíni
AT duvanovsm noviikanalpružnogorozsíûvannâíonívanalítičnogokompleksuínstitutuprikladnoífízikinanukraíni
AT mordyksn noviikanalpružnogorozsíûvannâíonívanalítičnogokompleksuínstitutuprikladnoífízikinanukraíni
AT storizhkove noviikanalpružnogorozsíûvannâíonívanalítičnogokompleksuínstitutuprikladnoífízikinanukraíni
AT drozdenkoaa novyikanaluprugogorasseâniâionovanalitičeskogokompleksainstitutaprikladnoifizikinanukrainy
AT duvanovsm novyikanaluprugogorasseâniâionovanalitičeskogokompleksainstitutaprikladnoifizikinanukrainy
AT mordyksn novyikanaluprugogorasseâniâionovanalitičeskogokompleksainstitutaprikladnoifizikinanukrainy
AT storizhkove novyikanaluprugogorasseâniâionovanalitičeskogokompleksainstitutaprikladnoifizikinanukrainy
first_indexed 2025-12-02T00:20:06Z
last_indexed 2025-12-02T00:20:06Z
_version_ 1850861241781714944