Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка
Метод допплеровского уширения аннигиляционных линий использовался для изучения влияния пласти-ческой деформации и последующего отжига цинка. Источником позитронов были изотопы ⁶⁵Zn, полученные в реакции ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn непосредственно в исследуемом образце, что позволило уменьшить фон в окрестности 51...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2011 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2011
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111298 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка / Н.П. Дикий, В.Д. Заболотный, Ю.В. Ляшко, В.И. Боровлев // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 2. — С. 196-198. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862707689916727296 |
|---|---|
| author | Дикий, Н.П. Заболотный, В.Д. Ляшко, Ю.В. Боровлев, В.И. |
| author_facet | Дикий, Н.П. Заболотный, В.Д. Ляшко, Ю.В. Боровлев, В.И. |
| citation_txt | Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка / Н.П. Дикий, В.Д. Заболотный, Ю.В. Ляшко, В.И. Боровлев // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 2. — С. 196-198. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Вопросы атомной науки и техники |
| description | Метод допплеровского уширения аннигиляционных линий использовался для изучения влияния пласти-ческой деформации и последующего отжига цинка. Источником позитронов были изотопы ⁶⁵Zn, полученные в реакции ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn непосредственно в исследуемом образце, что позволило уменьшить фон в окрестности 511 кэВ. Обнаружен минимум отношения одной компоненты, которая связана с аннигиляцией позитронов на электронах проводимости, к другой компоненте, которая вызвана аннигиляцией позитронов на электронах ионного остова. Этот минимум при температуре 100 °С обусловлен образованием пор.
Метод допплеровського розширення анігіляційних ліній використовувався для вивчення впливу пластичної деформації й наступного відпалу цинку. Джерелом позитронів були ізотопи ⁶⁵Zn, отримані в реакції ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn безпосередньо в досліджуваному зразку, що дозволило зменшити фон в районі 511 кеВ. Виявлено мінімум відношення компоненти, обумовленої анігіляцією позитронів на електронах провідності, до компоненти, що обумовлена анігіляцією позитронів на електронах іонного остову. Цей мінімум при температурі 100 °С обумовлений утворенням пор.
The method of Doppler broadering of annihilation lines was used for studying influence of plastic deformation and the subsequent annealing of zinc. A source of positrons were isotopes ⁶⁵Zn, received in reaction ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn is direct in a researched sample that has allowed to reduce a background in a vicinity 511 кeV. The minimum of the relation the components, caused annihilate positrons on electron conductivity, to the component which is caused annihilate positrons on electron an ionic core is found out, at temperature 100 °С which is caused by formation of void.
|
| first_indexed | 2025-12-07T17:06:27Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-111298 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1562-6016 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T17:06:27Z |
| publishDate | 2011 |
| publisher | Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Дикий, Н.П. Заболотный, В.Д. Ляшко, Ю.В. Боровлев, В.И. 2017-01-09T14:24:12Z 2017-01-09T14:24:12Z 2011 Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка / Н.П. Дикий, В.Д. Заболотный, Ю.В. Ляшко, В.И. Боровлев // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 2. — С. 196-198. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 1562-6016 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111298 621.178 Метод допплеровского уширения аннигиляционных линий использовался для изучения влияния пласти-ческой деформации и последующего отжига цинка. Источником позитронов были изотопы ⁶⁵Zn, полученные в реакции ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn непосредственно в исследуемом образце, что позволило уменьшить фон в окрестности 511 кэВ. Обнаружен минимум отношения одной компоненты, которая связана с аннигиляцией позитронов на электронах проводимости, к другой компоненте, которая вызвана аннигиляцией позитронов на электронах ионного остова. Этот минимум при температуре 100 °С обусловлен образованием пор. Метод допплеровського розширення анігіляційних ліній використовувався для вивчення впливу пластичної деформації й наступного відпалу цинку. Джерелом позитронів були ізотопи ⁶⁵Zn, отримані в реакції ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn безпосередньо в досліджуваному зразку, що дозволило зменшити фон в районі 511 кеВ. Виявлено мінімум відношення компоненти, обумовленої анігіляцією позитронів на електронах провідності, до компоненти, що обумовлена анігіляцією позитронів на електронах іонного остову. Цей мінімум при температурі 100 °С обумовлений утворенням пор. The method of Doppler broadering of annihilation lines was used for studying influence of plastic deformation and the subsequent annealing of zinc. A source of positrons were isotopes ⁶⁵Zn, received in reaction ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn is direct in a researched sample that has allowed to reduce a background in a vicinity 511 кeV. The minimum of the relation the components, caused annihilate positrons on electron conductivity, to the component which is caused annihilate positrons on electron an ionic core is found out, at temperature 100 °С which is caused by formation of void. ru Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Диагностика и методы исследований Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка Використання допплеровського розширення анігіляційного випромінювання позитронів для вивчення рекристалізації цинку Use of doppler broadering of annihilation line of positrons for studying recrystallization of zinc Article published earlier |
| spellingShingle | Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка Дикий, Н.П. Заболотный, В.Д. Ляшко, Ю.В. Боровлев, В.И. Диагностика и методы исследований |
| title | Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка |
| title_alt | Використання допплеровського розширення анігіляційного випромінювання позитронів для вивчення рекристалізації цинку Use of doppler broadering of annihilation line of positrons for studying recrystallization of zinc |
| title_full | Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка |
| title_fullStr | Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка |
| title_full_unstemmed | Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка |
| title_short | Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка |
| title_sort | использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка |
| topic | Диагностика и методы исследований |
| topic_facet | Диагностика и методы исследований |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111298 |
| work_keys_str_mv | AT dikiinp ispolʹzovaniedopplerovskogoušireniâannigilâcionnogoizlučeniâpozitronovdlâizučeniârekristallizaciicinka AT zabolotnyivd ispolʹzovaniedopplerovskogoušireniâannigilâcionnogoizlučeniâpozitronovdlâizučeniârekristallizaciicinka AT lâškoûv ispolʹzovaniedopplerovskogoušireniâannigilâcionnogoizlučeniâpozitronovdlâizučeniârekristallizaciicinka AT borovlevvi ispolʹzovaniedopplerovskogoušireniâannigilâcionnogoizlučeniâpozitronovdlâizučeniârekristallizaciicinka AT dikiinp vikoristannâdopplerovsʹkogorozširennâanígílâcíinogovipromínûvannâpozitronívdlâvivčennârekristalízacíícinku AT zabolotnyivd vikoristannâdopplerovsʹkogorozširennâanígílâcíinogovipromínûvannâpozitronívdlâvivčennârekristalízacíícinku AT lâškoûv vikoristannâdopplerovsʹkogorozširennâanígílâcíinogovipromínûvannâpozitronívdlâvivčennârekristalízacíícinku AT borovlevvi vikoristannâdopplerovsʹkogorozširennâanígílâcíinogovipromínûvannâpozitronívdlâvivčennârekristalízacíícinku AT dikiinp useofdopplerbroaderingofannihilationlineofpositronsforstudyingrecrystallizationofzinc AT zabolotnyivd useofdopplerbroaderingofannihilationlineofpositronsforstudyingrecrystallizationofzinc AT lâškoûv useofdopplerbroaderingofannihilationlineofpositronsforstudyingrecrystallizationofzinc AT borovlevvi useofdopplerbroaderingofannihilationlineofpositronsforstudyingrecrystallizationofzinc |