Изменение характеристик структуры быстрозакаленных лент Ti₄₁,5Zr₄₁,5Ni₁₇ и Ti₄₁,5Hf₄₁,5Ni₁₇ при радиационном воздействии

• Published in: Вопросы атомной науки и техники
• Date: 2011
• Main Authors: Ажажа, В.М., Лавриненко, С.Д., Лонин, Ю.Ф., Пилипенко, Н.Н., Середа, Б.В., Крячко, С.В., Малыхин, С.В., Пугачёв, А.Т., Решетняк, М.В.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2011
• Subjects: Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111360
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Изменение характеристик структуры быстрозакаленных лент Ti₄₁,5Zr₄₁,5Ni₁₇ и Ti₄₁,5Hf₄₁,5Ni₁₇ при радиационном воздействии / В.М. Ажажа, С.Д. Лавриненко, Ю.Ф. Лонин, Н.Н. Пилипенко, Б.В. Середа, С.В. Крячко, С.В. Малыхин, А.Т. Пугачёв, М.В. Решетняк // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 2. — С. 33-38. — Бібліогр.: 25 назв. — рос.

Методом дифракции рентгеновских волн исследовано влияние облучения потоками рентгеновских квантов с энергией ≤1 МэВ и дозой до 104 рад на фазовую и структурную стабильности икосаэдрической квазикристаллической фазы (і-фаза) и родственных к ней фаз кристаллов-аппроксимантов в лентах состава Ti₄₁,5Zr₄₁,5Ni₁₇ и Ti₄₁,5Hf₄₁,5Ni₁₇, полученных скоростной закалкой. Методом дифракції рентгенівських хвиль досліджено вплив опромінення потоками рентгенівських квантів з енергією ≤1 МеВ і дозою до 104 рад на фазову та структурну стабільністi ікосаедричної квазікристалічної фази (і-фази) та споріднених до неї фаз кристалів-аппроксимантів в стрічках складу Ti₄₁,5Zr₄₁,5Ni₁₇ и Ti₄₁,5Hf₄₁,5Ni₁₇, що отримані за допомогою швидкісного загартування. Influence of irradiation by X-ray fluxes with energies ≤1 МеV and doses up to 10⁴ rad on phase and structural stability of the icosahedral quasicrystal phase (і-phase) and related crystals-approximant phases in Ti₄₁,5Zr₄₁,5Ni₁₇ and Ti₄₁,5Hf₄₁,5Ni₁₇ ribbons prepared by rapid quenching was studied by the X-ray diffraction method.