Виявлення початку формування двовимірного електронного газу на поверхні топологічного ізолятора

Розвинуто методу попіксельного зіставлення інтенсивности фотоемісійних спектрів з кутовим розріжненням та зареєстровано з його допомогою початок формування двовимірного електронного газу на поверхні топологічного ізолятора. Також розроблена метода уможливлює оцінити ступінь нелінійности фотоелектрон...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Металлофизика и новейшие технологии
Datum:2015
Hauptverfasser: Прокопович, М.Л., Кушніренко, Є.С.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2015
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111713
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Виявлення початку формування двовимірного електронного газу на поверхні топологічного ізолятора / М. Л. Прокопович, Є. С. Кушніренко // Металлофизика и новейшие технологии. — 2015. — Т. 37, № 2. — С. 157-168. — Бібліогр.: 17 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Розвинуто методу попіксельного зіставлення інтенсивности фотоемісійних спектрів з кутовим розріжненням та зареєстровано з його допомогою початок формування двовимірного електронного газу на поверхні топологічного ізолятора. Також розроблена метода уможливлює оцінити ступінь нелінійности фотоелектронного детектора безпосередньо з експериментальних даних, що створює необхідні умови для аналізи форми ліній фотоемісійних спектрів. Развит метод попиксельного сопоставления интенсивности фотоэмиссионных спектров с угловым разрешением и с его помощью зарегистрировано начало формирования двумерного электронного газа на поверхности топологического изолятора. Также разработанный метод позволяет оценить степень нелинейности фотоэлектронного детектора непосредственно из экспериментальных данных, что создаёт необходимые условия для анализа формы линий фотоэмиссионных спектров. A method of pixel-by-pixel intensity comparison for angle resolved photoemission spectra is developed. This method is used to detect the beginning of two-dimensional electron-gas formation on the surface of a topological insulator. In addition, the developed method allows estimating the degree of nonlinearity of the photoelectron detector directly from the experimental data. It creates the necessary conditions for the analysis of shape of the line of photoemission spectra.
ISSN:1024-1809