XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer

The development is presented of X-Rays fluorescence analysis using as primary source proton induced X-Rays emission. It is offered to make primary target as double-layer using as the backing natural intermixture of isotopes, and as the upper layer - an isotope with the highest threshold of (p,n)-rea...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2016
Автори: Levenets, V., Omelnik, O., Shchur, A.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2016
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111742
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer / V. Levenets, O. Omelnik, A. Shchur // Вопросы атомной науки и техники. — 2016. — № 1. — С. 99-101. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-111742
record_format dspace
spelling Levenets, V.
Omelnik, O.
Shchur, A.
2017-01-14T09:27:53Z
2017-01-14T09:27:53Z
2016
XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer / V. Levenets, O. Omelnik, A. Shchur // Вопросы атомной науки и техники. — 2016. — № 1. — С. 99-101. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.
1562-6016
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111742
539.534.9/535-34/539.17+543.4
The development is presented of X-Rays fluorescence analysis using as primary source proton induced X-Rays emission. It is offered to make primary target as double-layer using as the backing natural intermixture of isotopes, and as the upper layer - an isotope with the highest threshold of (p,n)-reaction for given element. Such target allows to reach lower detection limits by decreasing of background γ-emission from (p,n)-reactions. The making of target from copper, nickel, zirconium, and molybdenum are discussed. The presented approach has been used for elemental analysis of the samples of zirconium compounds and alloys, soils, plants and sediments.
Представлена модифікація рентгенофлуоресцентного аналізу з використанням в якості джерела флуоресценції рентгенівське випромінювання, що збуджуване протонами. Запропоновано використовувати первинну мішень з моноізотопним поверхневим шаром і підкладкою з тієї ж речовини з природним вмістом ізотопів. Для виготовлення поверхневого шару використовується ізотоп з найбільшим порогом реакції (p,n)-типу. Така мішень дає змогу знизити границі визначення при елементному аналізі за рахунок зменшення фонового γ-випромінювання з реакцій (p,n)-типу. Обговорено можливість виготовлення первинних мішеней з нікелю, меді, цирконію та молібдену. Запропонований підхід використано для елементного аналізу зразків із сполук та сплавів цирконію, ґрунтів, рослин, донних відкладень.
Представлена модификация рентгенофлуоресцентного анализа, использующего как источник флуоресценции рентгеновское излучение, возбуждаемое протонами. Предложено использовать первичную мишень с моноизотопным поверхностным слоем и подложкой из того же вещества с естественным изотопным составом. Для изготовления верхнего слоя используется изотоп с наибольшим порогом реакции (p,n)-типа. Такая мишень позволяет снизить пределы обнаружения при элементном анализе за счет уменьшения фонового γ-излучения из реакций (p,n)-типа. Обсуждена возможность изготовления первичных мишеней из никеля, меди, циркония и молибдена. Представленный подход использован для элементного анализа образцов из соединений и сплавов циркония, почв, растений и донных отложений.
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Физика и технология конструкционных материалов
XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer
Рентгенофлуоресцентний аналіз зі збудженням первинного рентгенівського випромінювання зарядженими частинками в мішені з моноізотопним поверхневим шаром
Рентгенофлуоресцентный анализ с возбуждением первичного рентгеновского излучения заряженными частицами в мишени с моноизотопным поверхностным слоем
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer
spellingShingle XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer
Levenets, V.
Omelnik, O.
Shchur, A.
Физика и технология конструкционных материалов
title_short XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer
title_full XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer
title_fullStr XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer
title_full_unstemmed XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer
title_sort xrf with a primary x-rays from the target with monoisotopical surface layer
author Levenets, V.
Omelnik, O.
Shchur, A.
author_facet Levenets, V.
Omelnik, O.
Shchur, A.
topic Физика и технология конструкционных материалов
topic_facet Физика и технология конструкционных материалов
publishDate 2016
language English
container_title Вопросы атомной науки и техники
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
format Article
title_alt Рентгенофлуоресцентний аналіз зі збудженням первинного рентгенівського випромінювання зарядженими частинками в мішені з моноізотопним поверхневим шаром
Рентгенофлуоресцентный анализ с возбуждением первичного рентгеновского излучения заряженными частицами в мишени с моноизотопным поверхностным слоем
description The development is presented of X-Rays fluorescence analysis using as primary source proton induced X-Rays emission. It is offered to make primary target as double-layer using as the backing natural intermixture of isotopes, and as the upper layer - an isotope with the highest threshold of (p,n)-reaction for given element. Such target allows to reach lower detection limits by decreasing of background γ-emission from (p,n)-reactions. The making of target from copper, nickel, zirconium, and molybdenum are discussed. The presented approach has been used for elemental analysis of the samples of zirconium compounds and alloys, soils, plants and sediments. Представлена модифікація рентгенофлуоресцентного аналізу з використанням в якості джерела флуоресценції рентгенівське випромінювання, що збуджуване протонами. Запропоновано використовувати первинну мішень з моноізотопним поверхневим шаром і підкладкою з тієї ж речовини з природним вмістом ізотопів. Для виготовлення поверхневого шару використовується ізотоп з найбільшим порогом реакції (p,n)-типу. Така мішень дає змогу знизити границі визначення при елементному аналізі за рахунок зменшення фонового γ-випромінювання з реакцій (p,n)-типу. Обговорено можливість виготовлення первинних мішеней з нікелю, меді, цирконію та молібдену. Запропонований підхід використано для елементного аналізу зразків із сполук та сплавів цирконію, ґрунтів, рослин, донних відкладень. Представлена модификация рентгенофлуоресцентного анализа, использующего как источник флуоресценции рентгеновское излучение, возбуждаемое протонами. Предложено использовать первичную мишень с моноизотопным поверхностным слоем и подложкой из того же вещества с естественным изотопным составом. Для изготовления верхнего слоя используется изотоп с наибольшим порогом реакции (p,n)-типа. Такая мишень позволяет снизить пределы обнаружения при элементном анализе за счет уменьшения фонового γ-излучения из реакций (p,n)-типа. Обсуждена возможность изготовления первичных мишеней из никеля, меди, циркония и молибдена. Представленный подход использован для элементного анализа образцов из соединений и сплавов циркония, почв, растений и донных отложений.
issn 1562-6016
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111742
citation_txt XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer / V. Levenets, O. Omelnik, A. Shchur // Вопросы атомной науки и техники. — 2016. — № 1. — С. 99-101. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT levenetsv xrfwithaprimaryxraysfromthetargetwithmonoisotopicalsurfacelayer
AT omelniko xrfwithaprimaryxraysfromthetargetwithmonoisotopicalsurfacelayer
AT shchura xrfwithaprimaryxraysfromthetargetwithmonoisotopicalsurfacelayer
AT levenetsv rentgenofluorescentniianalízzízbudžennâmpervinnogorentgenívsʹkogovipromínûvannâzarâdženimičastinkamivmíšenízmonoízotopnimpoverhnevimšarom
AT omelniko rentgenofluorescentniianalízzízbudžennâmpervinnogorentgenívsʹkogovipromínûvannâzarâdženimičastinkamivmíšenízmonoízotopnimpoverhnevimšarom
AT shchura rentgenofluorescentniianalízzízbudžennâmpervinnogorentgenívsʹkogovipromínûvannâzarâdženimičastinkamivmíšenízmonoízotopnimpoverhnevimšarom
AT levenetsv rentgenofluorescentnyianalizsvozbuždeniempervičnogorentgenovskogoizlučeniâzarâžennymičasticamivmišenismonoizotopnympoverhnostnymsloem
AT omelniko rentgenofluorescentnyianalizsvozbuždeniempervičnogorentgenovskogoizlučeniâzarâžennymičasticamivmišenismonoizotopnympoverhnostnymsloem
AT shchura rentgenofluorescentnyianalizsvozbuždeniempervičnogorentgenovskogoizlučeniâzarâžennymičasticamivmišenismonoizotopnympoverhnostnymsloem
first_indexed 2025-12-07T20:28:33Z
last_indexed 2025-12-07T20:28:33Z
_version_ 1850882720640532480