XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer

• Veröffentlicht in: Вопросы атомной науки и техники
• Datum: 2016
• Hauptverfasser: Levenets, V., Omelnik, O., Shchur, A.
• Format: Artikel
• Sprache: English
• Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2016
• Schlagworte: Физика и технология конструкционных материалов
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111742
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer / V. Levenets, O. Omelnik, A. Shchur // Вопросы атомной науки и техники. — 2016. — № 1. — С. 99-101. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.

The development is presented of X-Rays fluorescence analysis using as primary source proton induced X-Rays emission. It is offered to make primary target as double-layer using as the backing natural intermixture of isotopes, and as the upper layer - an isotope with the highest threshold of (p,n)-rea...