Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции
Разработан метод анализа материалов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции. На примере стандартных образцов низколегированных сталей показано, что специально рассчитанная рентгенооптическая схема с вторичной мишенью позволяет уменьшить до Х = 5…6 мм расстояние от образца до...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2013 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2013
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111751 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции / И.Ф. Михайлов, А.А. Батурин, А.И. Михайлов, Л.П. Фомина // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 2. — С. 172-176. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-111751 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Михайлов, И.Ф. Батурин, А.А. Михайлов, А.И. Фомина, Л.П. 2017-01-14T10:09:31Z 2017-01-14T10:09:31Z 2013 Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции / И.Ф. Михайлов, А.А. Батурин, А.И. Михайлов, Л.П. Фомина // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 2. — С. 172-176. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. 1562-6016 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111751 543.427.4 Разработан метод анализа материалов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции. На примере стандартных образцов низколегированных сталей показано, что специально рассчитанная рентгенооптическая схема с вторичной мишенью позволяет уменьшить до Х = 5…6 мм расстояние от образца до детектора и получить структурные отражения контролируемых фаз (цементита и феррита) в участках рентгенофлуоресцентного спектра, свободных от аналитических линий исследуемого образца. Это дает возможность производить количественный фазовый анализ содержания цементита (Fe₃C) по интенсивности структурных отражений, а по его результатам определять содержание углерода в стали. Все остальные элементы определяются по интенсивности линий флуоресценции, при этом за счет малого расстояния Х пределы обнаружения легких элементов в сталях, бронзах и алюминиевых сплавах, полученные на портативном безвакуумном анализаторе, близки к значениям для мощных вакуумных приборов РФА. Розроблено метод аналізу матеріалів за комбінованими спектрами рентгенівської флуоресценції та дифракції. На прикладі стандартних зразків низьколегованих сталей показано, що спеціально розрахована рентгенооптична схема із вторинною мішенню дозволяє зменшити до Х = 5…6 мм відстань від зразка до детектора і отримати структурні відбиття фаз, що контролюються (цементиту та фериту) в ділянках рентгенофлуоресцентного спектра, вільних від аналітичних ліній зразка, що досліджується. Це надає змогу здійснювати кількісний фазовий аналіз цементиту (Fe₃C) за інтенсивністю структурних відбиттів, а за його результатами визначати вміст вуглецю в сталі. Усі інші елементи визначаються за інтенсивністю ліній флуоресценції, при цьому за рахунок малої відстані Х ліміти визначення легких елементів в сталях, бронзах та алюмінієвих сплавах, отримані на портативному безвакуумному аналізаторі, близькі до значень для потужних вакуумних приладів РФА. The method was developed for analysis of materials using the combined spectra of X-ray fluorescence and diffraction. By the example of low-alloyed steel standards, it was shown that the specially calculated X-ray scheme with a secondary target allowed reducing the distance between the sample and the detector to Х = 5…6 mm and obtaining the structure reflections of phases under control (cementite and ferrite) in the ranges of the X-ray fluorescent spectrum free of analytical lines for the sample analyzed. That gives a possibility to carry out the quantitative phase analysis for cementite (Fe₃C) by intensities of structure reflections, and using these data to determine the carbon content in the steel. All the rest elements are determined by fluorescence line intensities; due to the small X distance, the thresholds of detectability obtained using the portable non-vacuumed analyzer for light elements in steels, bronzes, and aluminium alloys, are found to be similar to the values for powerful vacuumed XRF instruments. Авторы благодарят фирмы «Элватех» (Киев), «Укррентген» (Харьков) за сотрудничество. ru Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Диагностика и методы исследований Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции Визначення легких елементів за комбінованими спектрами рентгенівської флуоресценції та дифракції Determination of light element content by combined X-ray fluorescence and diffraction spectra Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции |
| spellingShingle |
Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции Михайлов, И.Ф. Батурин, А.А. Михайлов, А.И. Фомина, Л.П. Диагностика и методы исследований |
| title_short |
Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции |
| title_full |
Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции |
| title_fullStr |
Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции |
| title_full_unstemmed |
Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции |
| title_sort |
определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции |
| author |
Михайлов, И.Ф. Батурин, А.А. Михайлов, А.И. Фомина, Л.П. |
| author_facet |
Михайлов, И.Ф. Батурин, А.А. Михайлов, А.И. Фомина, Л.П. |
| topic |
Диагностика и методы исследований |
| topic_facet |
Диагностика и методы исследований |
| publishDate |
2013 |
| language |
Russian |
| container_title |
Вопросы атомной науки и техники |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Визначення легких елементів за комбінованими спектрами рентгенівської флуоресценції та дифракції Determination of light element content by combined X-ray fluorescence and diffraction spectra |
| description |
Разработан метод анализа материалов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции. На примере стандартных образцов низколегированных сталей показано, что специально рассчитанная рентгенооптическая схема с вторичной мишенью позволяет уменьшить до Х = 5…6 мм расстояние от образца до детектора и получить структурные отражения контролируемых фаз (цементита и феррита) в участках рентгенофлуоресцентного спектра, свободных от аналитических линий исследуемого образца. Это дает возможность производить количественный фазовый анализ содержания цементита (Fe₃C) по интенсивности структурных отражений, а по его результатам определять содержание углерода в стали. Все остальные элементы определяются по интенсивности линий флуоресценции, при этом за счет малого расстояния Х пределы обнаружения легких элементов в сталях, бронзах и алюминиевых сплавах, полученные на портативном безвакуумном анализаторе, близки к значениям для мощных вакуумных приборов РФА.
Розроблено метод аналізу матеріалів за комбінованими спектрами рентгенівської флуоресценції та дифракції. На прикладі стандартних зразків низьколегованих сталей показано, що спеціально розрахована рентгенооптична схема із вторинною мішенню дозволяє зменшити до Х = 5…6 мм відстань від зразка до детектора і отримати структурні відбиття фаз, що контролюються (цементиту та фериту) в ділянках рентгенофлуоресцентного спектра, вільних від аналітичних ліній зразка, що досліджується. Це надає змогу здійснювати кількісний фазовий аналіз цементиту (Fe₃C) за інтенсивністю структурних відбиттів, а за його результатами визначати вміст вуглецю в сталі. Усі інші елементи визначаються за інтенсивністю ліній флуоресценції, при цьому за рахунок малої відстані Х ліміти визначення легких елементів в сталях, бронзах та алюмінієвих сплавах, отримані на портативному безвакуумному аналізаторі, близькі до значень для потужних вакуумних приладів РФА.
The method was developed for analysis of materials using the combined spectra of X-ray fluorescence and diffraction. By the example of low-alloyed steel standards, it was shown that the specially calculated X-ray scheme with a secondary target allowed reducing the distance between the sample and the detector to Х = 5…6 mm and obtaining the structure reflections of phases under control (cementite and ferrite) in the ranges of the X-ray fluorescent spectrum free of analytical lines for the sample analyzed. That gives a possibility to carry out the quantitative phase analysis for cementite (Fe₃C) by intensities of structure reflections, and using these data to determine the carbon content in the steel. All the rest elements are determined by fluorescence line intensities; due to the small X distance, the thresholds of detectability obtained using the portable non-vacuumed analyzer for light elements in steels, bronzes, and aluminium alloys, are found to be similar to the values for powerful vacuumed XRF instruments.
|
| issn |
1562-6016 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111751 |
| citation_txt |
Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции / И.Ф. Михайлов, А.А. Батурин, А.И. Михайлов, Л.П. Фомина // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 2. — С. 172-176. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT mihailovif opredeleniesoderžaniâlegkihélementovposovmeŝennymspektramrentgenovskoifluorescenciiidifrakcii AT baturinaa opredeleniesoderžaniâlegkihélementovposovmeŝennymspektramrentgenovskoifluorescenciiidifrakcii AT mihailovai opredeleniesoderžaniâlegkihélementovposovmeŝennymspektramrentgenovskoifluorescenciiidifrakcii AT fominalp opredeleniesoderžaniâlegkihélementovposovmeŝennymspektramrentgenovskoifluorescenciiidifrakcii AT mihailovif viznačennâlegkihelementívzakombínovanimispektramirentgenívsʹkoífluorescencíítadifrakcíí AT baturinaa viznačennâlegkihelementívzakombínovanimispektramirentgenívsʹkoífluorescencíítadifrakcíí AT mihailovai viznačennâlegkihelementívzakombínovanimispektramirentgenívsʹkoífluorescencíítadifrakcíí AT fominalp viznačennâlegkihelementívzakombínovanimispektramirentgenívsʹkoífluorescencíítadifrakcíí AT mihailovif determinationoflightelementcontentbycombinedxrayfluorescenceanddiffractionspectra AT baturinaa determinationoflightelementcontentbycombinedxrayfluorescenceanddiffractionspectra AT mihailovai determinationoflightelementcontentbycombinedxrayfluorescenceanddiffractionspectra AT fominalp determinationoflightelementcontentbycombinedxrayfluorescenceanddiffractionspectra |
| first_indexed |
2025-12-07T20:51:36Z |
| last_indexed |
2025-12-07T20:51:36Z |
| _version_ |
1850884170726768640 |