Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown

The influence of the electron impact secondary electron emission on the RF gas breakdown has been researched experimentally and theoretically with use of particle-in-sell simulation. The experiments and simulations are conducted in the discharge chamber with asymmetric electrodes which is frequently...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Вопросы атомной науки и техники
Datum:2013
Hauptverfasser: Dakhov, A.N., Dudin, S.V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2013
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111947
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown / A.N. Dakhov, S.V. Dudin // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 4. — С. 149-154. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-111947
record_format dspace
spelling Dakhov, A.N.
Dudin, S.V.
2017-01-15T17:18:16Z
2017-01-15T17:18:16Z
2013
Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown / A.N. Dakhov, S.V. Dudin // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 4. — С. 149-154. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 52.80.Pi
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111947
The influence of the electron impact secondary electron emission on the RF gas breakdown has been researched experimentally and theoretically with use of particle-in-sell simulation. The experiments and simulations are conducted in the discharge chamber with asymmetric electrodes which is frequently used in technological applications. As a result, the physical mechanism of secondary electron participation in the RF breakdown has been revealed.
Вивчено вплив вторинної електронної емісії на ВЧ-пробій газу для розрядної камери з асиметричними електродами. Проведено експериментальні дослідження та чисельні розрахунки з використанням методу PIC (particle-in-sell). Пояснений фізичний механізм участі вторинних електронів в ВЧ-пробої газу.
Изучено влияние вторичной электронной эмиссии на ВЧ-пробой газа для разрядной камеры с асимметричными электродами. Проведены экспериментальные исследования и численные расчеты с использованием метода PIC (particle-in-sell). Объяснен физический механизм участия вторичных электронов в ВЧ-пробое газа.
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия
Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown
Вплив вторинної електронної емісії на ВЧ-пробій газу
Влияние вторичной электронной эмиссии на ВЧ-пробой газа
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown
spellingShingle Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown
Dakhov, A.N.
Dudin, S.V.
Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия
title_short Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown
title_full Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown
title_fullStr Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown
title_full_unstemmed Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown
title_sort influence of secondary electron emission on the rf gas breakdown
author Dakhov, A.N.
Dudin, S.V.
author_facet Dakhov, A.N.
Dudin, S.V.
topic Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия
topic_facet Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия
publishDate 2013
language English
container_title Вопросы атомной науки и техники
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
format Article
title_alt Вплив вторинної електронної емісії на ВЧ-пробій газу
Влияние вторичной электронной эмиссии на ВЧ-пробой газа
description The influence of the electron impact secondary electron emission on the RF gas breakdown has been researched experimentally and theoretically with use of particle-in-sell simulation. The experiments and simulations are conducted in the discharge chamber with asymmetric electrodes which is frequently used in technological applications. As a result, the physical mechanism of secondary electron participation in the RF breakdown has been revealed. Вивчено вплив вторинної електронної емісії на ВЧ-пробій газу для розрядної камери з асиметричними електродами. Проведено експериментальні дослідження та чисельні розрахунки з використанням методу PIC (particle-in-sell). Пояснений фізичний механізм участі вторинних електронів в ВЧ-пробої газу. Изучено влияние вторичной электронной эмиссии на ВЧ-пробой газа для разрядной камеры с асимметричными электродами. Проведены экспериментальные исследования и численные расчеты с использованием метода PIC (particle-in-sell). Объяснен физический механизм участия вторичных электронов в ВЧ-пробое газа.
issn 1562-6016
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/111947
citation_txt Influence of secondary electron emission on the RF gas breakdown / A.N. Dakhov, S.V. Dudin // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 4. — С. 149-154. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT dakhovan influenceofsecondaryelectronemissionontherfgasbreakdown
AT dudinsv influenceofsecondaryelectronemissionontherfgasbreakdown
AT dakhovan vplivvtorinnoíelektronnoíemísíínavčprobíigazu
AT dudinsv vplivvtorinnoíelektronnoíemísíínavčprobíigazu
AT dakhovan vliânievtoričnoiélektronnoiémissiinavčproboigaza
AT dudinsv vliânievtoričnoiélektronnoiémissiinavčproboigaza
first_indexed 2025-12-07T17:23:54Z
last_indexed 2025-12-07T17:23:54Z
_version_ 1850871103738609664