Galiy, P., Nenchuk, T., Ciszewski, A., Mazur, P., Zuber, S., & Yarovets, I. (2015). Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface. Металлофизика и новейшие технологии.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Galiy, P., T. Nenchuk, A. Ciszewski, P. Mazur, S. Zuber, та I. Yarovets. "Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface." Металлофизика и новейшие технологии 2015.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Galiy, P., et al. "Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface." Металлофизика и новейшие технологии, 2015.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.