Электрический шум в мезоскопических структурах нормальный металл—изолятор—сверхпроводник

• Veröffentlicht in: Металлофизика и новейшие технологии
• Datum: 2015
• 1. Verfasser: Бойло, И.В.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2015
• Schlagworte: Электронные структура и свойства
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/112260
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Электрический шум в мезоскопических структурах нормальный металл—изолятор—сверхпроводник / И. В. Бойло // Металлофизика и новейшие технологии. — 2015. — Т. 37, № 6. — С. 723-730. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

В данной статье выполнены численные расчёты мощности электрического шума в мезоскопических структурах нормальный металл—изолятор— сверхпроводник. Изучено влияние температуры на величину токовых флуктуаций в туннельном контакте. Показано, что зависимость спектральной плотности шума от напряжения в низкочастотном пределе имеет два максимума. Первый соответствует энергетической щели сверхпроводника и отражает поведение проводимости туннельного контакта, а второй появляется при более высоких напряжениях в результате наложения теплового и дробового шумов. У даній статті виконано чисельні розрахунки потужності електричного шуму в мезоскопічних структурах нормальний метал—ізолятор—надпровідник. Досліджено вплив температури на величину флюктуацій струму в тунельному контакті. Показано, що залежність спектральної густини шуму від напруги для низькочастотної границі має два максимуми. Перший відповідає енергетичній щілині надпровідника і відображає поведінку провідности тунельного контакту, а другий з’являється при більш високих напругах внаслідок накладання теплового та дробового шумів. Numerical calculations of the electrical-noise power in mesoscopic normal metal—insulator—superconductor structures are performed. The influence of temperature on the value of current fluctuations in a tunnel junction is studied. As shown, the voltage dependence of the noise spectral density in the low-frequency limit has two maxima. The first one corresponds to the energy gap of the superconductor and reflects the behaviour of the tunnel-junction conductance, whereas the second one appears at higher voltages as a result of superposition of the thermal and shot noises.