Структурні, електричні та магнеторезистивні властивості заміщених стронцієм манганітів лантану
Досліджено структурні, електричні та магнеторезистивні властивості зразків La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60), виготовлених золь—ґель-методою. Кристалографічні параметри визначалися за допомогою рентґенівської дифракції. Вимірювання електричних властивостей виконувалися в температурному інтервалі 77—380 К я...
Gespeichert in:
| Datum: | 2015 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2015
|
| Schriftenreihe: | Металлофизика и новейшие технологии |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/112432 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Структурні, електричні та магнеторезистивні властивості заміщених стронцієм манганітів лантану / Т. І. Полек, О. І. Товстолиткін, С. О. Солопан, А. Г. Білоус, С. В. Недух, С. І. Тарапов // Металлофизика и новейшие технологии. — 2015. — Т. 37, № 10. — С. 1395-1404. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Досліджено структурні, електричні та магнеторезистивні властивості зразків La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60), виготовлених золь—ґель-методою. Кристалографічні параметри визначалися за допомогою рентґенівської дифракції. Вимірювання електричних властивостей виконувалися в температурному інтервалі 77—380 К як у магнетному полі, так і без нього. Проаналізовано температурні залежності електричних та магнеторезистивних властивостей сполуки при різних концентраціях Sr. Встановлено концентраційну залежність температури Кюрі ТС для сполуки La₁₋xSrxMnO₃. |
|---|