Структурні, електричні та магнеторезистивні властивості заміщених стронцієм манганітів лантану

Досліджено структурні, електричні та магнеторезистивні властивості зразків La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60), виготовлених золь—ґель-методою. Кристалографічні параметри визначалися за допомогою рентґенівської дифракції. Вимірювання електричних властивостей виконувалися в температурному інтервалі 77—380 К я...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Металлофизика и новейшие технологии
Дата:2015
Автори: Полек, Т.І., Товстолиткін, О.І., Солопан, С.О., Білоус, А.Г., Недух, С.В., Тарапов, С.І.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2015
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/112432
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Структурні, електричні та магнеторезистивні властивості заміщених стронцієм манганітів лантану / Т. І. Полек, О. І. Товстолиткін, С. О. Солопан, А. Г. Білоус, С. В. Недух, С. І. Тарапов // Металлофизика и новейшие технологии. — 2015. — Т. 37, № 10. — С. 1395-1404. — Бібліогр.: 23 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Досліджено структурні, електричні та магнеторезистивні властивості зразків La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60), виготовлених золь—ґель-методою. Кристалографічні параметри визначалися за допомогою рентґенівської дифракції. Вимірювання електричних властивостей виконувалися в температурному інтервалі 77—380 К як у магнетному полі, так і без нього. Проаналізовано температурні залежності електричних та магнеторезистивних властивостей сполуки при різних концентраціях Sr. Встановлено концентраційну залежність температури Кюрі ТС для сполуки La₁₋xSrxMnO₃. Исследованы структурные, электрические и магниторезистивные свойства образцов La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60), изготовленных золь—гель-методом. Кристаллографические параметры определялись с помощью рентгеновской дифракции. Измерения электрических свойств выполнялись в температурном интервале 77—380 К как в магнитном поле, так и без него. Проанализированы температурные зависимости электрических и магниторезистивных свойств соединения с разными концентрациями Sr. Установлена концентрационная зависимость температуры Кюри ТС для соединения La₁₋xSrxMnO₃. Structural, electrical, and magnetoresistive properties of La₁₋xSrxMnO₃ (х=0,15—0,60) samples fabricated by sol—gel method are studied. Crystallographic parameters are measured by X-ray diffraction technique. The measurements of electrical properties are carried out in the temperature range 77—380 K both in external magnetic field and without it. Temperature dependences of the electrical and magnetoresistive properties of compounds are analysed for different Sr concentrations. Concentration dependence of the Curie temperature ТС of La₁₋xSrxMnO₃ are determined.
ISSN:1024-1809