Annealing Effect on the Microstructure and Mechanical Properties of a Thin Titanium Nitride Film

Titanium nitride (TiN) films were deposited by the D.C. magnetron sputtering process on a SUS 304 steel substrate. The effect of postdeposition annealing on the microstructure and mechanical properties of thin TiN films was studied in detail using atomic force microscopy, a potentiostat and na...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Проблемы прочности
Datum:2014
Hauptverfasser: Her, S.C., Wu, C.L.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Інститут проблем міцності ім. Г.С. Писаренко НАН України 2014
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/112717
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Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Annealing Effect on the Microstructure and Mechanical Properties of a Thin Titanium Nitride Film / S.C. Her, C.L. Wu // Проблемы прочности. — 2014. — № 2. — С. 66-72. — Бібліогр.: 21 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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